[發明專利]一種測量單模光纖幾何參數的方法

無效

• 申請號: 200910077589.4
• 申請日: 2009-01-23
• 公開（公告）號: CN101476978A
• 公開（公告）日: 2009-07-08
• 發明（設計）人: 劉豪;吳重慶;劉永椿
• 申請（專利權）人: 北京交通大學
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02;G01B11/08;G01N21/41
• 代理公司: 北京市商泰律師事務所
• 代理人: 毛燕生

1.一種光測量單模光纖幾何參數的方法，特征在于包括以下步驟：

用普通半導體激光器做光源，光源波長在可見光波段；

用CCD探測光纖輸出端的光強分布，進行全場測量；

用到一種高階模濾除裝置，使光纖中傳輸的高階模被濾除，僅基模到達光纖輸出端；

把得到的圖像用計算機進行處理，通過對光強分布進行擬合，計算出單模光纖的幾何參數，包括纖芯折射率n₁、包層折射率n₂和纖芯半徑a；

用非線性最小二乘法進行擬合，待擬合參數為纖芯折射率n₁、包層折射率n₂和纖芯半徑a；根據光波導理論，計算出光纖輸出端基模光強分布的公式I(n₁，n₂，a)，從被測圖像中提取光強分布數據點，用公式I(n₁，n₂，a)對數據點進行擬合，得到最佳的n₁，n₂，a值。

2.根據權利要求1所述的方法，特征在于：所用的光探測裝置能夠進行全場測量，一次性測量光纖輸出端各點的光強值，從而能得到空間二維光強分布圖。

3.根據權利要求1所述的方法，特征在于：所用高階模濾除裝置為半徑一定的圓柱體，光纖在該圓柱體上繞一定圈數。

4.根據權利要求1所述的方法，特征在于：CCD通過圖像采集卡與計算機直接相連，能在計算機上實時顯示測量到的光強分布圖像，并能夠快速、實時地對圖像進行處理，算出光纖的幾何參數。