[發明專利]阻變存儲器的檢測電路及檢測設備

有效

• 申請號: 200910077521.6
• 申請日: 2009-01-21
• 公開（公告）號: CN101783182A
• 公開（公告）日: 2010-07-21
• 發明（設計）人: 柳江;劉明;姬濯宇;涂德鈺;劉興華;商立偉;劉舸;王宏
• 申請（專利權）人: 中國科學院微電子研究所
• 主分類號: G11C29/00
• 分類號: G11C29/00;G11C7/06
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 周國城

1.一種阻變存儲器的檢測電路，其特征在于，該檢測電路被配置成 通過設置字線的電壓為預定的讀取電壓并檢測流過阻變存儲器的電流值， 在合理的配置可調取樣電阻后，比較讀取電壓和取樣電阻上的電壓，從而 讀出存儲器中的數據，該檢測電路包括：

一用于把電流轉換成電壓的放大器；

一用于使電壓反向的放大器；

一可調取樣電阻和兩個用于電壓反向的電阻；以及

一電壓比較器；

其中，可調取樣電阻連接于用于把電流轉換成電壓的放大器的負極與 輸出之間；所述合理的配置可調取樣電阻，是指使所述可調取樣電阻上的 電壓，在存儲器為低阻時高于讀取電壓，且在存儲器為高阻時低于讀取電 壓，從而實現讀出存儲器中數據的目標。

2.根據權利要求1所述的阻變存儲器的檢測電路，其特征在于，所 述電壓比較器使用讀取電壓作為參考電壓，不需要額外的參考電壓源。

3.一種阻變存儲器的檢測設備，其特征在于，該檢測設備包括：

顯示器；

控制器；

用于產生編程電壓、讀取電壓以及保護電壓的電壓產生電路；

用于配置字線電壓和電壓比較器參考電壓的字線選擇開關陣列；

用于配置位線電壓和電流檢測端口的位線選擇開關陣列；

自適應AD采樣電路；以及

用于讀出阻變存儲器數據的權利要求1所述的檢測電路。

4.根據權利要求3所述的阻變存儲器的檢測設備，其特征在于，該 檢測設備通過使用試探法，為所述檢測電路獲得合適的取樣電阻。

5.根據權利要求4所述的阻變存儲器的檢測設備，其特征在于，所 述的試探法具體包括：

先設置取樣電阻的初始值，然后編程存儲器使其處于低阻態，通過自 適應AD采樣電路，計算出存儲器處于低阻態時的電阻R_L，然后再編程存 儲器使其處于高阻態，再次通過自適應AD采樣電路，計算出存儲器處于 高阻態時的電阻R_H，通過調整取樣電阻的阻值R_S，使其滿足：R’_L＜R_S＜R， 并盡量接近(R’_L+R)/2，其中R＝min(R_H，V_DDR’_L/V_RD)，R’_L為低阻R_L和寄生電阻之和，V_RD為讀取電壓，R_H為存儲器處于高阻態時的電阻。