[發明專利]一種基于二維Gamma分布的SAR圖像變化檢測方法無效
| 申請號: | 200910077021.2 | 申請日: | 2009-01-16 |
| 公開(公告)號: | CN101493520A | 公開(公告)日: | 2009-07-29 |
| 發明(設計)人: | 孫進平;洪文;胡睿;張耀天 | 申請(專利權)人: | 北京航空航天大學;中國科學院電子學研究所 |
| 主分類號: | G01S7/41 | 分類號: | G01S7/41;G06T5/00 |
| 代理公司: | 北京科迪生專利代理有限責任公司 | 代理人: | 李新華;徐開翟 |
| 地址: | 100083*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 二維 gamma 分布 sar 圖像 變化 檢測 方法 | ||
1.一種基于二維Gamma分布的SAR圖像變化檢測方法,其特征在于:包括以下幾個步驟:
(1)根據輸入的SAR待測圖像和參考圖像數據,利用矩估計法估計二維Gamma分布的參數;
(2)根據Neyman-Pearson準則構造似然比統計量,在二維Gamma分布的基礎上利用圖像數據相關性進行雜波抑制,得到雜波抑制后的圖像;
(3)對雜波抑制后的圖像進行CFAR歸一化,并設定全局閾值將圖像二值化,得到初步的檢測結果;
(4)對檢測后得到的二值圖像進行形態學處理、計數濾波及目標聚類,進一步消除孤立虛警點,得到最終的檢測結果;
所述的步驟(4)中,為進一步消除孤立虛警點,首先對二值化的檢測結果進行腐蝕膨脹操作;再根據目標尺寸大小與SAR圖像分辨率進行計數濾波;最后再進行目標聚類,得到最終的檢測結果;
所述的步驟(2)中,采用如下方式進行雜波抑制:
H0:z=q
H1:z=s+q
式中z表示SAR圖像數據,q=c+n表示背景雜波和噪聲;
其中z1和z2分別為待測圖像和參考圖像數據,參數c與二維Gamma分布參數有關,而參數ζ為根據圖像強度值數量級調節的比例系數,典型取值為:
式中E(·)表示數學期望;p1、p2和p12是待估計的二維Gamma分布的參數,q則為已知的SAR圖像視數,λ為全局閾值。
2.根據權利要求1所述的基于二維Gamma分布的SAR圖像變化檢測方法,其特征在于:所述的步驟(1)的二維Gamma分布采用的是S.barlev和P.bernardoff通過矩母函數和拉普拉斯變換的方式定義的Gamma分布函數族,二維Gamma分布的概率密度函數表達式為:
其中q為已知的SAR圖像視數,函數fq(z)與合流超幾何函數相關,表達式為:
參數估計采用矩估計法,估計式為:
式中E(·)表示數學期望,var(·)表示方差,cov(·,·)表示協方差,因此參數p1、p2反映了單個變量幅度的大小,而p12則反映了兩變量間相關性程度。
3.根據權利要求1所述的基于二維Gamma分布的SAR圖像變化檢測方法,其特征在于:所述的步驟(3)中,為進一步明確閾值λ,采用空心滑窗對抑制雜波后的數據進行CFAR歸一化:
其中x為雜波抑制后的圖像數據,E和σ分別為空心滑窗內樣本數據的均值和標準差;設定全局閾值λ對CFAR歸一化后的數據作判決,得到二值化的檢測結果。?
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