[發(fā)明專利]基于紅外光學干涉法的半導(dǎo)體晶圓膜厚檢測裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200910075476.0 | 申請日: | 2009-09-23 |
| 公開(公告)號: | CN101660896A | 公開(公告)日: | 2010-03-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 吳旭;陳波;王東輝;柳濱 | 申請(專利權(quán))人: | 中國電子科技集團公司第四十五研究所 |
| 主分類號: | G01B11/06 | 分類號: | G01B11/06;H01L21/66 |
| 代理公司: | 石家莊新世紀專利商標事務(wù)所有限公司 | 代理人: | 張貳群 |
| 地址: | 065201河北省三*** | 國省代碼: | 河北;13 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 紅外 光學 干涉 半導(dǎo)體 晶圓膜厚 檢測 裝置 | ||
1.一種基于紅外光學干涉法的半導(dǎo)體晶圓膜厚檢測裝置,包括晶圓承 載移動機構(gòu)、激光器總成和數(shù)據(jù)檢測控制電路,其特征在于所述的激光器總 成為位置可移動式激光器總成,晶圓承載移動機構(gòu)為晶圓承載轉(zhuǎn)動機構(gòu);所 述的位置可移動式激光器總成的結(jié)構(gòu)具有激光器光源相對于晶圓的Z軸及X 軸的調(diào)整移動機構(gòu),X軸的調(diào)整移動機構(gòu)的結(jié)構(gòu)為:伺服電機(21)通過絲 杠(31)與激光器承載機構(gòu)(19)連接;Z軸的調(diào)整移動機構(gòu)的結(jié)構(gòu)為:設(shè)有 可上下調(diào)節(jié)的滑臺及滑道;激光器與接收器分別連接到發(fā)射臂、接收臂上, 自鎖減速箱安裝在滑臺上,可上下移動,發(fā)射臂與接收臂同心旋轉(zhuǎn),發(fā)射臂 手動旋轉(zhuǎn)到一定角度后固定,旋轉(zhuǎn)手輪(09)調(diào)節(jié)接收臂角度,接收臂可自 鎖。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于紅外光學干涉法的半導(dǎo)體晶圓膜厚檢測 裝置,其特征在于所述的位置可移動式激光器總成中設(shè)有用于記錄校準后的 位置的編碼器(07)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于紅外光學干涉法的半導(dǎo)體晶圓膜厚檢測 裝置,其特征在于所述的晶圓承載轉(zhuǎn)動機構(gòu)上設(shè)有晶圓真空吸附機構(gòu)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于紅外光學干涉法的半導(dǎo)體晶圓膜厚檢測 裝置,其特征在于所述的位置可移動式激光器總成中的激光發(fā)生器(05)采 用1310nm單模光纖激光二極管,接收器采用光電二極管。
5.根據(jù)權(quán)利要求1、2、3或4所述的基于紅外光學干涉法的半導(dǎo)體晶 圓膜厚檢測裝置,其特征在于所述的數(shù)據(jù)檢測控制電路的結(jié)構(gòu)為:具有光電 二極管接收器、放大電路和濾波電路、測量數(shù)據(jù)采集卡和數(shù)據(jù)處理器;其中 光電二極管置于接收臂上的準直透鏡的末端接受光信號,然后再把光信號轉(zhuǎn) 變?yōu)殡娏餍盘柡笸ㄟ^電纜與放大電路的輸入端相連把電流信號轉(zhuǎn)換為放大 的電壓信號,放大電路的輸出端連接一個有源帶通濾波器電路,對放大后的 電壓信號進行濾波處理隔絕低頻和高頻干擾;濾波器輸出端連接數(shù)據(jù)采集 卡,根據(jù)需要設(shè)定采集數(shù)據(jù)頻率,采集到的數(shù)據(jù)經(jīng)數(shù)據(jù)處理器處理后轉(zhuǎn)變?yōu)? 實驗數(shù)據(jù)儲存。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的基于紅外光學干涉法的半導(dǎo)體晶圓膜厚檢測 裝置,其特征在于所述的放大電路和濾波電路的結(jié)構(gòu)為:放大電路為二級放 大,第一級放大100000倍,第二級可根據(jù)需要選擇性放大5.1-47倍;濾波 電路為有源帶通濾波器;通過調(diào)節(jié)RC元件的值調(diào)節(jié)通過頻率。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的基于紅外光學干涉法的半導(dǎo)體晶圓膜厚檢測 裝置,其特征在于所述的激光發(fā)生器(05)產(chǎn)生的光信號經(jīng)立方棱鏡平均分 為兩路,一路照射到晶圓上作為測量光束,另外一路作為對比光束;測量光 束經(jīng)晶圓反射后被用于測量信號接收的光電二極管接收,對比光束直接被一 個用于對比信號接收的光電二極管接收。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國電子科技集團公司第四十五研究所,未經(jīng)中國電子科技集團公司第四十五研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/200910075476.0/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





