[發明專利]光電式雙刀口支承靜平衡測量儀及測量方法有效
| 申請號: | 200910073363.7 | 申請日: | 2009-12-07 |
| 公開(公告)號: | CN101710016B | 公開(公告)日: | 2010-05-19 |
| 發明(設計)人: | 劉國棟;浦昭邦;劉炳國;李佳;莊志濤;胡濤 | 申請(專利權)人: | 哈爾濱工業大學 |
| 主分類號: | G01M1/12 | 分類號: | G01M1/12 |
| 代理公司: | 哈爾濱市松花江專利商標事務所 23109 | 代理人: | 張宏威 |
| 地址: | 150001 黑龍*** | 國省代碼: | 黑龍江;23 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 光電 雙刀 支承 平衡 測量儀 測量方法 | ||
1.光電式雙刀口支承靜平衡測量儀,其特征在于它包括第一升降機構(1-1)、第二升降機構(1-2)、第三升降機構(1-3)、第一支柱(2-1)、第二支柱(2-2)、第三支柱(2-3)、底座(3)、一對外刀承座(4)、一對內刀承座(5)、一對粗刀口(7)、一對細刀口(8)、支承(10)、托架體(12)、測量反射鏡(13)和光電準直光管(14),所述第一支柱(2-1)、第二支柱(2-2)和第三支柱(2-3)分別設置在第一升降機構(1-1)、第二升降機構(1-2)和第三升降機構(1-3)上,第一支柱(2-1)和第三支柱(2-3)左右對稱支承在托架體(12)的下端,第二支柱(2-2)支承在所述一對外刀承座(4)之間的中心的下端,所述一對內刀承座(5)左右對稱的設置在底座(3)上,所述一對細刀口(8)和一對粗刀口(7)左右對稱固定在托架體(12)的下表面,并且一對細刀口(8)正下方為一對內刀承座(5),一對粗刀口(7)的正下方為一對外刀承座(4),一對粗刀口(7)和一對細刀口(8)的刀刃線與支承(10)的中心線共線,所述測量反射鏡(13)垂直于托架體(12)的上表面,并且測量反射鏡(13)在支承(10)的中心線所在的豎直面內,所述光電準直光管(14)由光源(14-1)、聚光鏡(14-2)、分劃板(14-3)、分光鏡(14-4)、物鏡(14-5)和線陣CCD(14-6)組成,所述的光源(14-1)、聚光鏡(14-2)、分劃板(14-3)、分光鏡(14-4)和物鏡(14-5)共軸且依次從左至右排列,分劃板(14-3)放置在光源經聚光鏡(14-2)的物點上,線陣CCD(14-6)設置在分光鏡(14-4)的正下方物鏡(14-5)的焦平面上,使經分光鏡(14-4)反射的光聚焦于線陣CCD(14-6)的表面,光電準直光管(14)出射光水平并能夠射到測量反射鏡(13)上,線陣CCD(14-6)的信號輸出端與計算機(16)的輸入端口連接;
所述光電式雙刀口支承靜平衡測量儀還包括標定架(9)、第一平衡塊(6-1)和第二平衡塊(6-2),所述兩個平衡塊對稱的設置在托架體(12)的左右兩端,所述標定架(9)設置在托架體(12)的上表面。
2.根據權利要求1所述的光電式雙刀口支承靜平衡測量儀,其特征在于光電式雙刀口支承靜平衡測量儀還包括三個起升組件(15),每個所述起升組件(15)由支板(15-2)和三個支承(15-1)組成,三個起升組件(15)分別設置在第一支柱(2-1)上端、第二支柱(2-2)上端和第三支柱(2-3)上端,所述三個支承(15-1)兩兩間等距離設置在支板(15-2)上,三個支承(15-1)分別為V形支承、平面支承和錐形支承,托架體(12)與V形支承或錐形支承接觸的部分設置相應的V形凸起或錐形凸起,使起升組件(15)和托架體(12)能夠緊密結合。
3.根據權利要求1所述的光電式雙刀口支承靜平衡測量儀,其特征在于粗刀口(7)的刀刃曲率半徑為30~50μm,細刀口(8)的刀刃曲率半徑為2~3μm。
4.利用權利要求1所述的光電式雙刀口支承靜平衡測量儀的測量方法,其特征在于具體步驟如下:
步驟A、在放置被測轉子(11)之前,通過兩個平衡塊的作用將托體架(12)的重心位置調整到托體架(12)的中心位置;而標定架(9)用于建立靜不平衡量與托架體(12)偏轉角度之間的關系;
將被測轉子(11)的軸頸放置在托架體(12)的支承(10)上,一對粗刀口(7)支承在外刀承座(4)上,被測轉子(11)的質量不平衡引起托架體(12)繞粗刀口(7)的刀刃線偏擺,光電準直光管(14)通過接收來自測量反射鏡(13)的發射光,對被測轉子(11)的質量不平衡量進行粗測;
步驟B、在第二升降機構(1-2)的作用下,第二支柱(2-2)與外刀承座(4)一同下降,外刀承座(4)與一對粗刀口(7)脫離,一對細刀口(7)與內刀承座(4)接觸,被測轉子(11)的質量不平衡引起托架體(12)繞細刀口(8)的刀刃線偏擺,光電準直光管(14)通過接收來自測量反射鏡(13)的發射光,對被測轉子(11)的質量不平衡量進行精測。
5.根據權利要求4所述的光電式雙刀口支承靜平衡測量儀的測量方法,其特征在于步驟A和步驟B中利用光電準直光管(14)測量被測轉子(11)的質量不平衡量的具體步驟如下:
步驟a、將標準轉子(11)放置在支承(10)上,分劃板(14-3)成像落在線陣CCD(14-6)上,線陣CCD(14-6)的讀數為x0;
步驟b、將被測轉子(11)以一定角度放置在支承(10)上,分劃板(14-3)成像落在線陣CCD(14-6)上,線陣CCD(14-6)的讀數為x1;
步驟c、利用步驟a和步驟b的讀數計算測量反射鏡(13)的轉角α1
其中f為物鏡(14-5)的焦距;
步驟d、由步驟c獲得的測量反射鏡(13)的轉角α1,根據關系式M1=k·α1,計算被測轉子(11)的不平衡力矩(M1),其中k是靈敏度系數,可用校正的方法求出;
步驟e、將被測轉子(11)旋轉180度,分劃板(14-3)成像落在線陣CCD(14-6)上,線陣CCD(14-6)的讀數為x2;
步驟f、利用步驟a和步驟e的讀數計算測量反射鏡13的轉角α2
其中f為物鏡(14-5)的焦距;
步驟g、由步驟f獲得的測量反射鏡(13)的轉角α2,根據關系式M2=k·α2,計算被測轉子(11)的不平衡力矩M2;
步驟h、由步驟d和步驟g獲得的不平衡力矩M1和M2計算被測轉子(11)的重心到支承(10)中心線的距離Δ1,即偏心距離:根據靜平衡測量原理計算被測轉子(11)在原始位置和旋轉180°時的不平衡力矩M1和M2:
對上述方程組進行求解:
其中l1為支承(10)中心線與粗刀口(7)或細刀口(8)刀刃線的偏移距離,Δ1為被測轉子(11)的重心到支承(10)中心線的距離,P為被測轉子的重量;
步驟i、將被測轉子(11)旋轉角度β,返回執行步驟B-H,直至實現對被測轉子不同方位測量。
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