[發(fā)明專利]基于擺動鏡和透射光柵的光譜儀無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200910072117.X | 申請日： | 2009-05-25 |
| 公開（公告）號： | CN101551271A | 公開（公告）日： | 2009-10-07 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 申巖;徐曉軒;俞貞妮;武忠臣 | 申請（專利權(quán)）人： | 哈爾濱工業(yè)大學 |
| 主分類號： | G01J3/00 | 分類號： | G01J3/00;G01J3/02;G01J3/18 |
| 代理公司： | 哈爾濱市松花江專利商標事務所 | 代理人： | 牟永林 |
| 地址： | 150001黑龍江*** | 國省代碼： | 黑龍江;23 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 基于 擺動 透射 光柵 光譜儀 | ||
1.一種基于擺動鏡和透射光柵的光譜儀，其特征在于它由入射光纖(1)、雙凸透鏡(2)、平面透射光柵(3)、擺動反射鏡(4)、凹面反射鏡(5)和近紅外探測器(6)組成，平面透射光柵(3)的后表面上有光柵刻痕，通過入射光纖(1)的光束入射到雙凸透鏡(2)內(nèi)，經(jīng)雙凸透鏡(2)透射得到平行光，所述平行光入射到平面透射光柵(3)的前表面，經(jīng)前表面到達后表面被光柵刻痕第一次分光后、其中800nm至1800nm的近紅外波段的光入射到擺動反射鏡(4)內(nèi)，經(jīng)擺動反射鏡(4)反射后的光入射到平面透射光柵(3)的后表面，被光柵刻痕第二次分光后再經(jīng)過前表面入射到凹面反射鏡(5)內(nèi)，經(jīng)凹面反射鏡(5)反射后的光線被近紅外探測器(6)的輸入端接收；平面透射光柵(3)垂直于平面坐標系的X軸，入射光纖(1)和雙凸透鏡(2)的軸心線相對于X軸的夾角A為20度，凹面反射鏡(5)的軸心線相對于X軸的夾角C為40度，近紅外探測器(6)的軸心線相對于X軸的夾角B為25度，擺動反射鏡(4)相對于Y軸的擺動角度范圍為-15°至15°。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于擺動鏡和透射光柵的光譜儀，其特征在于平面透射光柵(3)的光柵刻痕規(guī)格為600線/毫米。
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