[發明專利]電子電路實驗用黑箱系統有效
| 申請號: | 200910071960.6 | 申請日: | 2009-05-07 |
| 公開(公告)號: | CN101567142A | 公開(公告)日: | 2009-10-28 |
| 發明(設計)人: | 王傘;王揚;王松武;王麗敏;刁鳴;于鑫 | 申請(專利權)人: | 哈爾濱工程大學 |
| 主分類號: | G09B23/18 | 分類號: | G09B23/18 |
| 代理公司: | 哈爾濱市船大專利事務所 | 代理人: | 張貴豐 |
| 地址: | 150001黑龍江省哈*** | 國省代碼: | 黑龍江;23 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 電子電路 實驗 黑箱 系統 | ||
(一)技術領域
本發明涉及的是一種實驗裝置,具體地說是一種適于高等院校電子電路實驗 與考試的鑒別與管理系統。
(二)背景技術
開設綜合性、設計性實驗項目,實驗內容多樣化,實驗課程考核,對所有高 校都是難點。在當前電子電路實驗教學過程中學生是被動的、從屬的,只要按照 老師講解的過程和實驗指導書上的接線圖進行,不用動腦即可輕松完成實驗;尤 其是實驗方案單一,往往一個實驗只有一套實驗電路圖,這就造成了實驗測試結 果相似,使學生在實驗過程中普遍存在抄襲現象;這就極大的弱化了實驗對學生 實踐能力培養的作用,更缺失了對學生創新能力的培養。
目前,我們尚未發現用于電子電路實驗與考試的黑箱系統的實體,亦未發現 有關電子電路實驗與考試黑箱系統的文獻記載。
(三)發明內容
本發明的目的在于提供一種適于高等院校電子電路實驗與考試,具有鑒別與 管理功能的電子電路實驗用黑箱系統。
本發明的目的是這樣實現的:
它包括PC上位機、主控機、黑箱以及包含有黑箱數據庫的運行軟件組成; 主控機是黑箱識別及信息打印的核心控制系統,由單片機、射頻讀卡器、MAX232 接口、微型打印機構成;黑箱內封裝被測電路模塊與射頻卡芯片;當黑箱靠近主 控機時,主控機內含的射頻讀卡器讀取黑箱內置射頻卡的序列號信息;并將該信 息經通信鏈路傳送給PC上位機,PC將序列號信息與內置的黑箱數據庫比對, 從而獲得黑箱內置電路模塊的參數。
本發明還可以包括:
電子電路實驗用黑箱系統主控機設計:主控機以單片機(89C51)和MAX232 接口為核心,通過J1、J2、J3三個插座分別連接微型打印機、射頻讀卡器、PC 上位機;其具體結構如圖2所示,單片機P1.0~P1.7經由J1插座2~9針連接 微型打印機數據端口,并行傳入打印數據;微型打印機STB、ACK、BUSY、SEL、 ERR端口分別經由J1插座第1針、第10針、第11針、第13針、第15針、連 接單片機T0(P3.4)口、WR(P3.6)口、INT1(P3.3)口、T1(P3.5)口、RD(P3.7) 口,單片機通過上述端口對微型打印機實施控制;單片機TXD(P3.1)口經由J2 插座第2針連接射頻讀卡器REST1口,控制射頻讀卡器復位;射頻讀卡器RFCAD 口經由J2插座第3針連接MAX232接口T2IN端,經電平轉換后由MAX232接口 T2OUT端輸出至J3插座第2針,該針連接PC上位機串行輸入口,射頻讀卡器讀 出的射頻卡芯片序列號經由上述通信鏈路傳送給PC上位機;PC上位機串行輸 出口經由J3插座第3針連至MAX232接口R1IN端,經電平轉換后由R1OUT端連 至單片機RXD(P3.0),PC上位機的打印信息經上述通信鏈路傳送給單片機。
本發明為了進一步推進實驗課程的教學改革,提供了一種電子電路實驗與考 核黑箱系統,用于“電路基礎”、“模擬電路”課程實驗與考核,獨僻了實驗與考 核的新途徑。
所謂黑箱又稱黑匣子,其基本思想是將某元件或電路置于煙盒大小的塑料箱 內,外面有接線端子。每個黑箱的外觀形狀相同,而內部置入的元件與電路各不 相同,性能參數多種多樣。學生在未知黑箱內裝何物的的情況下,通過實驗手段 測得黑箱的元件或電路參數,這正是黑箱的實質。由于每個黑箱內置電路不同, 把黑箱引入實驗教學可使每個學生的實驗電路不同,促使學生獨立完成實驗,杜 絕抄襲;尤其應用在實驗考核中,確??己私Y果公正合理。
黑箱實驗實現了由定性測量到定量測量,是設計性實驗的基礎,由于學生事 先并不知道黑箱內部的結構和功能,可視為一個集成系統。因而每個學生所作的 實驗均不相同,必須自行設計實驗方案,建立測試條件,組裝實驗電路,獨立完 成測試。黑箱實驗系統可以提供一種新穎的設計性實驗思路,對于提高學生獨立 的分析問題、解決問題的能力,以及綜合測試能力是有益的。
黑箱又為實驗考核提供了新途徑。對于實踐類課程的考核,不能像理論課程 那樣統一命題、集中考試,因此實驗考核成為實驗教學改革的難點。黑箱考核可 以做到“一人一箱”,甚至是“一人多箱”,在考試時,學生當場拿到黑箱,每個 學生的實驗結果都不相同,有效地杜絕了學生互相抄襲實驗數據,為實驗考核提 供了公平公正的平臺。
(四)附圖說明
圖1是本發明的構成框圖;
圖2是本發明的主控機硬件系統示意圖。
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