[發(fā)明專利]一種極片卷繞掉粉的檢驗方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200910068389.2 | 申請日： | 2009-04-07 |
| 公開（公告）號： | CN101509877A | 公開（公告）日： | 2009-08-19 |
| 發(fā)明（設計）人： | 魯建霞;高磊 | 申請（專利權）人： | 天津力神電池股份有限公司 |
| 主分類號： | G01N21/88 | 分類號： | G01N21/88;G01N21/25 |
| 代理公司： | 天津市三利專利商標代理有限公司 | 代理人： | 閆俊芬 |
| 地址： | 300384*** | 國省代碼： | 天津;12 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 卷繞 檢驗 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種極片卷繞掉粉的檢驗方法，其特征是，極片試涂時取測量涂敷量的樣本進行黑白度的檢測，將檢測得到的黑白度與所述極片涂敷體系的黑白度標準范圍進行比較，如果檢測得到的黑白度在極片涂敷體系的黑白度標準范圍內則判定極片進入卷繞工序后不會出現(xiàn)掉粉。
2.根據權利要求1所述的極片卷繞掉粉的檢驗方法，其特征是，對極片涂敷體系制定黑白度標準包括對材料和配比分別制定標準。
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