[發明專利]49S/SMD晶體自動測試檢測封裝機有效
| 申請號: | 200910067966.6 | 申請日: | 2009-02-27 |
| 公開(公告)號: | CN101499430A | 公開(公告)日: | 2009-08-05 |
| 發明(設計)人: | 付玉磊;劉金波;付廷喜;李向前 | 申請(專利權)人: | 天津伍嘉聯創科技發展有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/56 | 分類號: | H01L21/56;H01L21/66;H01L21/48 |
| 代理公司: | 天津中環專利商標代理有限公司 | 代理人: | 胡京生 |
| 地址: | 300451天*** | 國省代碼: | 天津;12 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 49 smd 晶體 自動 測試 檢測 裝機 | ||
1.一種49S/SMD晶體自動測試檢測封裝機,包括工控機,其特征在于:還包括有工作平臺(1)、振動上料裝置(2)、分料測試裝置(3)、視覺判別A裝置(4)、晶體移載定向裝置(5)、供載帶裝置(6)、載帶導向裝置(7)、視覺判別B裝置(8)、熱封上膜供料裝置(9)、載帶熱封機構(10)、載帶驅動裝置(11)、載帶收料裝置(12)、機架(13),所述的工作平臺(1)固定于機架(13)上的上端面,在機架(13)的左下部固定有工控機安裝支架,供載帶裝置(6)、載帶導向裝置(7)、載帶驅動裝置(11)、載帶收料裝置(12)從右向左依次成一直線固定于工作平臺(1)的平面上;載帶熱封機構(10)固定于載帶導向裝置(7)上,并使載帶熱封機構(10)的封刀板(10-1)垂直對準載帶導向裝置(7)的中間導槽部分,熱封上膜供料裝置(9)固定于工作平臺(1)的左后面上并位于載帶熱封機構(10)的左后方;振動上料裝置(2)的圓振(2-2)固定于機架(13)的左后部的機架上,并使振動上料裝置(2)的平振(2-3)與固定于工作平臺(1)上的分料測試裝置(3)中的兩塊料前預擋板(3-1)組成的進料軌道成一直線銜接在一起,使分料測試裝置(3)的分料執行機構與載帶導向裝置(7)的中間導槽部分成空間上下垂直角度;視覺判別A裝置(4)固定于工作平臺(1)上并使視覺判別A裝置(4)中的CCD相機(4-6)處于分料測試裝置(3)的分料執行機構的最后端正上方;晶體移載定向裝置(5)位于分料測試裝置(3)的分料執行機構右側并固定于工作平臺(1)上;視覺判別B裝置(8)固定于大立板肋板(9-13)上的對應位置上,視覺判別B裝置(8)的CCD相機(8-5)處于載帶熱封機構(10)的右面及晶體移載定向裝置(5)的左面,并在載帶導向裝置(7)的中間導槽部分正上方。
2.如權利要求1所述的49S/SMD晶體自動測試檢測封裝機,其特征在于:所述的分料測試裝置(3)包括預擋料裝置、測試裝置及分料執行裝置三部分構成,其預擋料裝置包括左右各一塊的料前預擋板(3-1)、限位擋及光纖架(3-2)、反射式光纖及鏡頭(3-3)、銷軸安裝板(3-4)、左右各一塊的擋爪彈性聯塊(3-5)、微力小彈簧(3-6)、開口調節螺栓(3-7)、預擋爪轉軸(3-8)、立板(3-31)和轉軸用軸承組合而成,其連接關系為銷軸安裝板(3-4)固定在L形板(3-9)上,然后在此L形板(3-9)上安裝轉軸用軸承并將預擋爪轉軸(3-8)從下向上穿入軸承中,下部靠軸肩限位,上部用軸承擋圈卡住,后將左右各一塊的料前預擋板(3-1)分別安裝在預擋爪轉軸(3-8)的下端,將左右各一塊的擋爪彈性聯塊(3-5)分別安裝在預擋爪轉軸(3-8)的上端,微力小彈簧(3-6)分別將兩端固定在左右料前預擋板(3-1)的拉簧螺絲上,將限位擋及光纖架(3-2)安裝在銷軸安裝板(3-4)的前端面上,將反射式光纖及鏡頭(3-3)安裝在限位擋及光纖架(3-2)上,立板(3-31)安裝在工作平臺(1)上,再將L形板(3-9)固定在立板(3-31)的上端;測試裝置由后限位板(3-91)、后限位螺絲(3-10)、L形限位板(3-11)、滑軌(3-12)、滑塊(3-13)、直角座底板(3-14)、直角座肋板(3-15)、直角座立板(3-16)、測試氣缸(3-17)、測試安裝架(3-18)、探針套導向塊(3-19)、探針套(3-20)和測試探針(3-21)構成,其連接關系為測試裝置后限位板(3-91)依對應關系裝配在工作平臺(1)上,后限位螺絲(3-10)安裝在后限位板(3-91)上,再將滑軌(3-12)也安裝在工作平臺(1)上,將直角座底板(3-14)安裝在滑塊(3-13)上,將直角座立板(3-16)安裝在直角座底板(3-14)上,直角座肋板(3-15)安裝在此兩件上,再將測試氣缸(3-17)安裝在直角座立板(3-16)上,將測試安裝架(3-18)裝配在測試氣缸(3-17)上,順次將探針套導向塊(3-19)裝配在測試安裝架(3-18)上,探針套(3-20)和探針(3-21)裝配在探針套導向塊(3-19)上;分料執行裝置由氣缸安裝板(3-22)、前后氣缸前限位板(3-23)、前后氣缸后限位板(3-24)、前后運動氣缸(3-25)、對稱各一的分料夾爪(3-26)、夾爪開閉氣缸(3-27)、兩氣缸聯結板(3-28)、分料下底板(3-29)構成,其連接關系為氣缸安裝板(3-22)按對應關系裝配在工作平臺(1)上,將分料下底板(3-29)安裝在氣缸安裝板(3-22)上,前后運動氣缸(3-25)裝配在氣缸安裝板(3-22)上,前后氣缸后限位板(3-24)裝配在前后運動氣缸(3-25)的后端,前后氣缸前限位板(3-23)安裝在氣缸安裝板(3-22)上,兩氣缸聯結板(3-28)裝配在前后運動氣缸(3-25)上部的滑塊(3-13)上,夾爪開閉氣缸(3-27)裝配在兩氣缸聯結板(3-28)上,兩個夾爪轉接塊(3-30)裝配在夾爪開閉氣缸(3-27)的兩個分料夾爪(3-26)上,而后將兩個分料夾爪(3-26)分別裝配在兩個夾爪轉接塊(3-30)上。
3.如權利要求2所述的49S/SMD晶體自動測試檢測封裝機,其特征在于:工作流程包括以下步驟:
①復位、等待步驟
各個動作執行部分歸原點,各汽缸回到初始位置,如果有異常則報警且不能啟動;
②等待料震出到分料測試裝置(3)的第一位步驟
用戶下達啟動指令后,振動上料裝置(2)振動和等待料振出到分料測試裝置(3)的第一位;
③視覺判別A裝置(4)測試、判別步驟
分料夾爪(3-26)夾緊后前后運動汽缸(3-25)向前將料平送到前位,到位后判斷第三位是否有料,如果有則測試汽缸(3-17)上下動作開始測試頻率,并將測量的結果按位置保存到PLC中;判斷第5位是否有料,如果有料則視覺判別A裝置(4)的CCD相機(4-6)判斷該料的方向并將結果保存到PLC中;
④晶體移載定向裝置(5)取料并判別步驟
晶體移載定向裝置(5)的KK60直線單元(5-5)取料,吸頭到位后上下吸料旋轉裝置下行吸料并抬起,查詢對應的頻率測量的結果,如果為不良品則直接放置到不良品盒,如果是良品再查詢視覺判別A裝置(4)判斷的結果,如果是反向的則KK60直線單元(5-5)上的28電機(5-26)旋轉180度,如果是正向的則不旋轉將料運送到載帶中;
⑤載帶前進一步并視覺判別B裝置(8)判斷步驟
載帶前進一步并判斷料是否運行到視覺判別B裝置(8)的CCD相機(8-5)的下方,有料則判斷表面的狀況,如果是NG則報警,否則無動作;
⑥載帶熱封機構(10)封帶步驟
載帶熱封機構(10)的封刀板(10-1)根據設定的參數封帶一次;
⑦判斷熱封總數量步驟
判斷是否達到設定的總數量,如果達到則結束本次運行,否則循環步驟①~⑦。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





