[發明專利]功率自校準防偽全息標識特性參數檢測方法及檢測儀無效
| 申請號： | 200910067963.2 | 申請日： | 2009-02-27 |
| 公開（公告）號： | CN101498659A | 公開（公告）日： | 2009-08-05 |
| 發明（設計）人： | 劉鐵根;江俊峰;何瑾;梁霄 | 申請（專利權）人： | 天津大學 |
| 主分類號： | G01N21/17 | 分類號： | G01N21/17 |
| 代理公司： | 天津佳盟知識產權代理有限公司 | 代理人： | 侯 力 |
| 地址： | 300072*** | 國省代碼： | 天津;12 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 功率 校準 防偽 全息 標識 特性 參數 檢測 方法 | ||
1、一種防偽全息產品特性參數檢測方法，其特征是該方法依次包括：
(1)令光源發出的光束與被測防偽全息標識樣品法線成角度θ經過分光基片照射到樣品表面；其中，分光基片的法線方向與光源發出的光束方向不重合；
(2)在分光基片反射光方向放置第一光電接收器，在第二光電接收器測量衍射光強度的對應時刻，第一光電接收器同步探測該時刻分光基片反射方向上的光強度信號，來標定防偽標識表面的入射光功率；
(3)在樣品臺的法線方向放置一凹面鏡以匯聚入射到全息防偽標識表面光強度的衍射光強；其中，凹面鏡的法線方向與防偽標識樣品的法線方向不重合；
(4)在凹面鏡反射光方向放置第二光電接收器，實時獲取掃描方向上各點衍射光強度信號；
(5)第一光電接收器和第二光電接收器將獲取的相同時刻對應的光強度信號轉換為電壓信號再經A/D轉換模塊轉換成數字信號后，送入中央控制模塊，由中央控制模塊對采集到的數據進行分析和處理，通過以下公式(1)和(2)計算出防偽標識的特性參數：信噪比SNR及衍射效率η
其中，k為分光基片的透反比，IS為待測標識表面的衍射光強度，Ir1為分光基片表面的反射光強，I01＝kIr1為透過分光鏡入射到標識表面的入射光光強，IN為待測標識表面噪聲點處的衍射光強度，Ir2為此時分光基片表面的反射光強，I02＝kIr2為此時入射到標識表面的入射光光強；
(6)輸出檢測結果。
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