[發(fā)明專利]一種晶粒切割前排列晶片的基片無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200910066346.0 | 申請日: | 2009-11-03 |
| 公開(公告)號: | CN102054732A | 公開(公告)日: | 2011-05-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 陳建民;陳建衛(wèi);陳磊;陳燕青 | 申請(專利權(quán))人: | 河南鴻昌電子有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/683 | 分類號: | H01L21/683;H01L21/673 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 461500 河南省長*** | 國省代碼: | 河南;41 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 晶粒 切割 排列 晶片 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體加工領(lǐng)域,具體地說是涉及一種晶粒切割前排列晶片的基片。
背景技術(shù)
在半導(dǎo)體加工過程中,需要將大片的晶片切割成小塊所需要的晶粒,為了提高切割效率,要將多塊晶片整齊的排列起來,多個晶片之間有間隔是切割好晶粒的質(zhì)量保證,多個晶片排列是在基片中;現(xiàn)有技術(shù)中,基片是上部具有多個凹凸槽長方形塊狀的結(jié)構(gòu),側(cè)向看就像梳子,晶片就安插在凹槽之中,這樣的安插方式具有在切割過程中晶片容易松動的特點,影響切割效果。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的就是針對上述缺點,提供一種安插效果更好,晶片不易松動的晶粒切割前排列晶片的基片。
本發(fā)明的技術(shù)方案是這樣實現(xiàn)的:晶粒切割前排列晶片的基片,包括基片本體,其特征是:基片本體上具有凸臺,凸臺上具有凹槽。
為了使晶片排列的更好,它還包括間隔體,所述的間隔體是片狀結(jié)構(gòu)或棒狀結(jié)構(gòu)。
本發(fā)明的有益效果是:這樣的晶粒切割前排列晶片的基片具有使晶片排列更好,切割時不易脫落的特點。
附圖說明
圖1是本發(fā)明晶粒切割前排列晶片的基片的結(jié)構(gòu)示意圖
其中;1、基片本體??2、凸臺??3、凹槽
具體實施方式
下面結(jié)合附圖對本發(fā)明作進一步的描述。
晶粒切割前排列晶片的基片,包括基片本體1,其特征是:基片本體1上具有凸臺2,凸臺2上具有凹槽3,如圖1所示。
排列晶片時可以將晶片間隔地粘接凹槽3里。
為了使晶片排列的更好,它還包括間隔體,所述的間隔體是片狀結(jié)構(gòu)或棒狀結(jié)構(gòu)。
這是為了在粘接晶片的過程中用間隔體使晶片之間具有一定的間隔,在粘接牢固之后可以將間隔體拔出,本技術(shù)領(lǐng)域人員很容易實現(xiàn)。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





