[發(fā)明專利]一種#字形納米電磁超介質(zhì)表面增強(qiáng)拉曼散射襯底無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200910066222.2 | 申請日: | 2009-10-22 |
| 公開(公告)號: | CN101672784A | 公開(公告)日: | 2010-03-17 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 梁二軍;胡偉琴;丁佩 | 申請(專利權(quán))人: | 鄭州大學(xué) |
| 主分類號: | G01N21/65 | 分類號: | G01N21/65;B82B1/00 |
| 代理公司: | 鄭州聯(lián)科專利事務(wù)所(普通合伙) | 代理人: | 田小伍 |
| 地址: | 450052*** | 國省代碼: | 河南;41 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 字形 納米 電磁 介質(zhì) 表面 增強(qiáng) 散射 襯底 | ||
1.一種#字形納米電磁超介質(zhì)表面增強(qiáng)拉曼散射襯底,其特征在于:所述襯底由基板及周期排列在其上并形成二維陣列的#字形納米金屬結(jié)構(gòu)單元組成,基板為電介質(zhì)或半導(dǎo)體材料。
2.如權(quán)利要求1所述的#字形納米電磁超介質(zhì)表面增強(qiáng)拉曼散射襯底,其特征在于:#字形納米金屬結(jié)構(gòu)單元在基板上排列時,沿二維平面的兩軸向的排列周期為160~260nm,納米金屬結(jié)構(gòu)單元的尺寸為:橫棒或豎棒長度140~240nm,橫棒或豎棒寬度30~45nm,橫棒或豎棒間距6~30nm,橫棒或豎棒厚度25~35nm。
3.如權(quán)利要求2所述的#字形納米電磁超介質(zhì)表面增強(qiáng)拉曼散射襯底,其特征在于:所用金屬為幣族金屬。
4.如權(quán)利要求3所述的#字形納米電磁超介質(zhì)表面增強(qiáng)拉曼散射襯底,其特征在于:所述幣族金屬為金、銀或銅。
5.如權(quán)利要求1~4之任意一項所述的#字形納米電磁超介質(zhì)表面增強(qiáng)拉曼散射襯底,其特征在于:電介質(zhì)材料為玻璃或氧化鋁,半導(dǎo)體材料為硅、氧化硅、氧化鋅或砷化鎵。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于鄭州大學(xué),未經(jīng)鄭州大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/200910066222.2/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





