[發明專利]一種磁感應強度的測量方法及裝置

無效

• 申請號: 200910058524.5
• 申請日: 2009-03-06
• 公開（公告）號: CN101509962A
• 公開（公告）日: 2009-08-19
• 發明（設計）人: 武保劍;程立偉;邱昆
• 申請（專利權）人: 電子科技大學
• 主分類號: G01R33/032
• 分類號: G01R33/032
• 代理公司: 電子科技大學專利中心
• 代理人: 葛啟函

1.一種磁感應強度的測量方法，其特征在于，包括以下步驟：

步驟1：采用兩個或兩個以上已知磁感應強度B的磁場作用于FBG，測量已知光強的線偏振光入射到FBG后的模式轉換反射光或模式轉換透射光的強度，并將模式轉換反射光或模式轉換透射光的強度換算成相對于入射線偏振光光強的相對強度，繪制出FBG模式轉換反射光或模式轉換透射光的相對強度與外加磁場磁感應強度B的線性關系；

步驟2：將待測磁感應強度B的磁場作用于FBG，測量已知光強的線偏振光入射到FBG后的模式轉換反射光或模式轉換透射光的相對強度，根據步驟1所得的FBG模式轉換反射光或透射光的相對強度與外加磁場磁感應強度的線性關系確定待測磁場的磁感應強度B的大小；

其中，所述模式轉換反射光為FBG在外加磁場作用下，由外加磁場引起的偏振模式轉換在FBG反射光譜的帶隙邊緣出現兩個尖銳的譜線；所述模式轉換透射光為FBG在外加磁場作用下，由外加磁場引起的偏振模式轉換在FBG透射光譜的帶隙邊緣出現兩個尖銳的譜線。

2.根據權利要求1所述的磁感應強度的測量方法，其特征在于，所述已知光強的線偏振光用寬譜光源的輸出光經光纖起偏器起偏獲得；所述模式轉換反射光或模式轉換透射光由與所述光纖起偏器偏振方向垂直的光纖檢偏器檢偏獲得。

3.一種實現如權利要求1所述方法的磁感應強度的測量裝置，包括寬譜光源、光纖起偏器、FBG、光纖檢偏器、可調FP-SOA和光譜儀；其特征在于，所述寬譜光源的輸出光經光纖起偏器起偏后入射到FBG中，FBG在外加磁場作用下的透射光經與所述光纖起偏器偏振方向垂直的光纖檢偏器檢偏后轉換成模式轉換透射光；所述模式轉換透射光經可調FP-SOA放大后輸入光譜儀。

4.根據權利要求3所述的磁感應強度的測量裝置，其特征在于，在可調FP-SOA兩段通過耦合器連接一個直通臂，形成一個含有可調FP-SOA的M-Z干涉儀結構對模式轉換光進行功率放大，在干涉儀輸出端，即直通臂輸出端或耦合臂輸出端，使用光譜儀測量模式轉換光的強度。

5.一種實現如權利要求1所述方法的磁感應強度的測量裝置，包括寬譜光源、光纖起偏器、光環形器、FBG、光纖檢偏器、可調FP-SOA和光譜儀；其特征在于，所述寬譜光源的輸出光經光纖起偏器起偏并經光環形器入射到FBG中，FBG在外加磁場作用下的反射光經光環形器、并經與所述光纖起偏器偏振方向垂直的光纖檢偏器檢偏后轉換成模式轉換反射光；所述模式轉換反射光經可調FP-SOA放大后輸入光譜儀。

6.根據權利要求5所述的磁感應強度的測量裝置，其特征在于，在可調FP-SOA兩段通過耦合器連接一個直通臂，形成一個含有可調FP-SOA的M-Z干涉儀結構對模式轉換光進行功率放大，在干涉儀輸出端，即直通臂輸出端或耦合臂輸出端，使用光譜儀測量模式轉換光的強度。