[發(fā)明專利]CMOS圖像傳感器及其制造方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200910056523.7 | 申請(qǐng)日: | 2009-08-14 |
| 公開(公告)號(hào): | CN101996899A | 公開(公告)日: | 2011-03-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 劉釗;朱虹;徐錦心;奚民偉 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中芯國際集成電路制造(上海)有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/56 | 分類號(hào): | H01L21/56;H01L21/60;H01L27/146;H01L23/28 |
| 代理公司: | 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227 | 代理人: | 吳靖靚;李麗 |
| 地址: | 201203 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | cmos 圖像傳感器 及其 制造 方法 | ||
1.一種CMOS圖像傳感器的制造方法,其特征在于,包括:
提供晶圓,所述晶圓包括形成有圖像傳感區(qū)和電極墊的正面及相對(duì)于所述正面的背面;
用壓模法在所述晶圓正面覆蓋樹脂層。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的CMOS圖像傳感器的制造方法,其特征在于,所述圖像傳感區(qū)包括微透鏡,所述樹脂層的折射率小于所述微透鏡的折射率。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的CMOS圖像傳感器的制造方法,其特征在于,所述樹脂層的折射率小于或等于1.5。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的CMOS圖像傳感器的制造方法,其特征在于,所述樹脂層的材料為硅膠或環(huán)氧樹脂。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的CMOS圖像傳感器的制造方法,其特征在于,所述樹脂層的厚度為200μm~700μm。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的CMOS圖像傳感器的制造方法,其特征在于,所述樹脂層的厚度為400μm。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的CMOS圖像傳感器的制造方法,其特征在于,用壓模法在所述晶圓正面覆蓋樹脂層后,還包括:在所述晶圓背面形成連接所述電極墊的連接結(jié)構(gòu)。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的CMOS圖像傳感器的制造方法,其特征在于,在所述晶圓背面形成連接所述電極墊的連接結(jié)構(gòu)包括:
研磨所述晶圓背面;
在所述晶圓背面形成通孔,以暴露出所述電極墊;
在所述晶圓背面和通孔表面形成保護(hù)層,并去除所述電極墊表面的保護(hù)層;
填充所述通孔并在通孔表面形成通孔接觸;
在所述通孔接觸表面形成焊塊。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的CMOS圖像傳感器的制造方法,其特征在于,在所述晶圓背面形成連接所述電極墊的連接結(jié)構(gòu)后,還包括:在所述樹脂層上增加透鏡單元。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的CMOS圖像傳感器的制造方法,其特征在于,在所述樹脂層上增加透鏡單元包括:用壓模法在所述樹脂層上覆蓋聚光樹脂。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的CMOS圖像傳感器的制造方法,其特征在于,所述聚光樹脂的材料為硅膠或環(huán)氧樹脂。
12.根據(jù)權(quán)利要求9所述的CMOS圖像傳感器的制造方法,其特征在于,在所述樹脂層上增加透鏡單元包括:用透鏡支架將聚光透鏡固定在樹脂層上方。
13.一種CMOS圖像傳感器,其特征在于,包括:
晶圓,包括形成有圖像傳感區(qū)和電極墊的正面及相對(duì)于所述正面的背面;
樹脂層,用壓模法覆蓋在所述晶圓正面。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的CMOS圖像傳感器,其特征在于,所述圖像傳感區(qū)包括微透鏡,所述樹脂層的折射率小于所述微透鏡的折射率。
15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的CMOS圖像傳感器,其特征在于,所述樹脂層的折射率小于或等于1.5。
16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的CMOS圖像傳感器,其特征在于,所述樹脂層的材料為硅膠或環(huán)氧樹脂。
17.根據(jù)權(quán)利要求13所述的CMOS圖像傳感器,其特征在于,所述樹脂層的厚度為200μm~700μm。
18.根據(jù)權(quán)利要求17所述的CMOS圖像傳感器,其特征在于,所述樹脂層的厚度為400μm。
19.根據(jù)權(quán)利要求13所述的CMOS圖像傳感器,還包括:連接所述電極墊的連接結(jié)構(gòu),形成在所述晶圓背面。
20.根據(jù)權(quán)利要求19所述的CMOS圖像傳感器的制造方法,其特征在于,所述連接結(jié)構(gòu)包括:
通孔,形成在所述晶圓背面,并暴露出所述電極墊;
保護(hù)層,形成在所述晶圓背面和通孔表面,并暴露出所述電極墊;
導(dǎo)電材料,填充所述通孔;
通孔接觸,形成在通孔表面并連接所述導(dǎo)電材料;
焊塊,形成在所述通孔接觸表面。
21.根據(jù)權(quán)利要求19所述的CMOS圖像傳感器,其特征在于,還包括:樹脂層上的透鏡單元。
22.根據(jù)權(quán)利要求21所述的CMOS圖像傳感器,其特征在于,所述透鏡單元包括聚光樹脂,用壓模法覆蓋在所述樹脂層上。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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