[發明專利]數據儲存裝置及將測試數據寫入存儲器的方法

有效

• 申請號: 200910056500.6
• 申請日: 2009-08-17
• 公開（公告）號: CN101996686A
• 公開（公告）日: 2011-03-30
• 發明（設計）人: 盧茂中
• 申請（專利權）人: 慧國(上海)軟件科技有限公司;慧榮科技股份有限公司
• 主分類號: G11C29/00
• 分類號: G11C29/00;G06F12/02;G11C11/34
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司 31100
• 代理人: 任永武

技術領域

本發明有關存儲器，特別是有關存儲器的測試。

背景技術

次級品存儲器(downgrade?memory)是用來指稱有缺陷的存儲器芯片。當生產廠商完成一批存儲器芯片的生產時，會對該批存儲器芯片進行品質測試。若該批存儲器芯片無法通過品質測試，該批存儲器芯片便被標注為次級品存儲器。此時，生產廠商便會以低于正常的定價銷售該批次級品存儲器芯片。

一般而言，次級品存儲器并非完全無法用以儲存數據，只是由于生產過程的缺陷，造成芯片內有許多存儲單元無法正常儲存數據。因此，當一數據儲存裝置運用次級品存儲器以儲存數據時，數據儲存裝置的控制器就必須事先對次級品存儲器的存儲單元進行掃描，以確定并記錄有缺陷的存儲單元。如此，控制器便可于儲存數據時避開有缺陷的存儲單元，而將數據儲存于次級品存儲器中可正常運作的存儲單元。

圖1為測試一存儲器的現有方法100的流程圖，控制器可藉方法100辨別初次級品存儲器的缺陷的存儲單元。假設控制器欲檢測存儲器的一檢測范圍的存儲單元是否正常運作。首先，控制器向存儲器傳送一寫入命令及該檢測范圍中的一寫入地址(步驟102)。接著，控制器向存儲器傳送一測試數據(步驟104)。存儲器收到測試數據后，便會依據寫入命令將測試數據寫入存儲器的寫入地址。此時，控制器檢查是否存儲器的檢測范圍已全被寫入測試數據(步驟106)。若否，則控制器將寫入地址更新為存儲器的檢測范圍的其它地址(步驟108)，再依序向存儲器發送寫入命令、更新的寫入地址、以及測試數據(步驟102、104)。如此，控制器便可逐次將存儲器的檢測范圍寫滿測試數據。

當存儲器的檢測范圍寫滿測試數據后，控制器便向存儲器傳送一讀取命令及檢測范圍的一讀取地址(步驟110)。當存儲器收到讀取命令及讀取位置，便會依讀取命令自讀取位置讀取數據。當控制器自存儲器接收讀出數據時(步驟112)，便將讀出數據與測試數據相比較。若讀出數據與測試數據不符合(步驟114)，表示讀取地址對應的存儲單元有損壞，控制器便記錄讀取地址為損壞地址。若讀出數據與測試數據相符合(步驟114)，控制器便自檢測范圍選取其它讀取地址以更新讀取地址的值(步驟120)，并持續比較自更新后讀取地址讀出的數據以確定該讀取地址是否損壞，直到存儲器的檢測范圍已全被讀取完畢為止(步驟118)。如此，控制器便可找出存儲器的檢測范圍內所有損壞的地址。

圖1的存儲器的現有測試方法100雖可正確的找出損壞地址，但仍有缺點。每當控制器向存儲器寫入一次測試數據，控制器便需向存儲器傳送一遍測試數據。測試數據的傳送需耗費許多時間，而拖延了測試流程。圖2A為一數據儲存裝置200的區塊圖。數據儲存裝置200包括一控制器202及一非揮發性存儲器204。控制器202包括一數據緩沖器214用以儲存測試數據。每當控制器202發送一次寫入命令，控制器202便需將數據緩沖器214中儲存的測試數據向非揮發性存儲器204傳送。而非揮發性存儲器204于收到測試數據后將測試數據儲存于數據寄存器224，再將數據寄存器224中儲存的測試數據寫入具寫入地址的存儲單元。例如，第一次將測試數據寫入存儲單元241時，控制器202需沿數據路徑231將測試數據傳送至非揮發性存儲器204；而第二次將測試數據寫入存儲單元242時，控制器202需沿數據路徑232再次將測試數據傳送至非揮發性存儲器204。

由于一般而言控制器一次寫入存儲器的數據量大約是一頁(page)，而一頁數據量很大，因而反復于控制器與存儲器間傳送供寫入的測試數據會造成測試流程的延遲。圖2B顯示控制器傳送寫入命令與寫入數據至存儲器的時序示意圖。控制器首先向存儲器發送寫入命令80h。接著，控制器向存儲器傳送寫入地址，其中寫入地址包括列地址CA1、CA2以及行地址RA1、RA2、RA3。最后，控制器首先向存儲器發送寫入的測試數據D1～DN。假設存儲器的一頁數據包括2KB，而控制器與存儲器間一個時脈周期可傳送1字節，則2KB數據需耗費2K個時脈周期，造成系統的延遲。因此，需要一種可快速將測試數據寫入存儲器的方法，以提升系統的效能。

發明內容

有鑒于此，本發明的目的在于提供一種將測試數據寫入存儲器的方法，以解決現有技術存在的問題。