[發(fā)明專利]靜電離子阱質(zhì)量分析器的接口裝置及其使用方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200910054221.6
• 申請日: 2009-06-30
• 公開（公告）號: CN101593660A
• 公開（公告）日: 2009-12-02
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 徐國賓;黃超;楊芃原
• 申請（專利權(quán)）人: 上海華質(zhì)生物技術(shù)有限公司
• 主分類號: H01J49/02
• 分類號: H01J49/02;H01J49/26;G01N27/62
• 代理公司: 上海光華專利事務(wù)所
• 代理人: 李儀萍;余明偉

1.靜電離子阱質(zhì)量分析器的接口裝置，其特征在于包括：

該接口裝置包括位于同一平面內(nèi)的同心圓弧狀外部導(dǎo)電體(3)和內(nèi)部導(dǎo)電體(4)，所述 外部導(dǎo)電體(3)和內(nèi)部導(dǎo)電體(4)形成離子運動空間(1)；

第一電源(8)，與所述外部導(dǎo)電體相連接，用于提供直流電壓；

第二電源(10)，與所述內(nèi)部導(dǎo)電體相連接，用于提供直流電壓；第二電源提供的直流電 壓低于第一電源提供的直流電壓；

第三電源(9)，與所述外部導(dǎo)電體相連接，用于提供周期性正電壓脈沖；

所述內(nèi)部導(dǎo)電體(4)上設(shè)有用于離子通過的通道(12)；所述內(nèi)部導(dǎo)電體上設(shè)有的通道 (12)為一條狹縫，所述狹縫周長與內(nèi)部導(dǎo)電體(4)周長相等。

2.如權(quán)利要求1所述的靜電離子阱質(zhì)量分析器的接口裝置，其特征在于：所述外部導(dǎo)電體(3) 和內(nèi)部導(dǎo)電體(4)的圓弧角度為區(qū)間[0,2π)內(nèi)的任意角度。

3.一種如權(quán)利要求1至2任意一項所述的靜電離子阱質(zhì)量分析器的接口裝置的使用方法，其 特征在于包括步驟：

1)第一電源(8)提供的直流電壓施加在所述外部導(dǎo)電體(3)上；

2)第二電源(10)提供的直流電壓施加在所述內(nèi)部導(dǎo)電體(4)上，第二電源提供的直 流電壓低于第一電源提供的直流電壓；

3)第三電源(9)提供的周期性正電壓脈沖施加在所述外部導(dǎo)電體(3)上，通過調(diào)節(jié)第 三電源所提供的周期性正電壓脈沖的幅度和周期，改變外部導(dǎo)電體上的電勢，從而改 變在所述兩個導(dǎo)電體形成的對數(shù)式靜電場內(nèi)運動的離子的運動軌跡，將離子從所述通 道(12)引入靜電離子阱。

4.如權(quán)利要求3所述的靜電離子阱質(zhì)量分析器的接口裝置的使用方法，其特征在于：當(dāng)所述 第一電源提供直流正電壓施加在外部導(dǎo)電體上時，所述第二電源提供直流負(fù)電壓施加在內(nèi) 部導(dǎo)電體上。

5.如權(quán)利要求3所述的靜電離子阱質(zhì)量分析器的接口裝置的使用方法，其特征在于：當(dāng)所述 第一電源提供直流正電壓施加在外部導(dǎo)電體上時，所述內(nèi)部導(dǎo)電體電勢維持為零。

6.如權(quán)利要求3所述的靜電離子阱質(zhì)量分析器的接口裝置的使用方法，其特征在于：當(dāng)所述 第一電源提供直流正電壓施加在外部導(dǎo)電體上時，所述第二電源提供直流正電壓施加在內(nèi) 部導(dǎo)電體上，第二電源提供的直流正電壓小于第一電源提供的直流正電壓。

7.如權(quán)利要求3所述的靜電離子阱質(zhì)量分析器的接口裝置的使用方法，其特征在于：當(dāng)所述 外部導(dǎo)電體電勢維持為零時，所述第二電源提供直流負(fù)電壓施加在內(nèi)部導(dǎo)電體上。

8.如權(quán)利要求3所述的靜電離子阱質(zhì)量分析器的接口裝置的使用方法，其特征在于：當(dāng)所述 第一電源提供直流負(fù)電壓施加在外部導(dǎo)電體上時，所述第二電源提供直流負(fù)電壓施加在內(nèi) 部導(dǎo)電體上，第二電源提供的直流負(fù)電壓小于第一電源提供的直流負(fù)電壓。