[發(fā)明專利]TFT陣列基板制造方法無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200910049779.5 | 申請(qǐng)日: | 2009-04-22 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN101527283A | 公開(kāi)(公告)日: | 2009-09-09 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 譚莉;吳賓賓 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海廣電光電子有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/84 | 分類號(hào): | H01L21/84;H01L21/768;H01L21/027 |
| 代理公司: | 上海申匯專利代理有限公司 | 代理人: | 白璧華 |
| 地址: | 200233上*** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | tft 陣列 制造 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種半導(dǎo)體元件的制造方法,尤其涉及TFT陣列基板制造方法。
背景技術(shù)
現(xiàn)在的液晶顯示器主要以薄膜晶體管液晶顯示器(TFT?LCD)為主流,TFT?LCD(ThinFilm?Transistor?Liquid?Crystal?Display)的一般結(jié)構(gòu)是具有彼此相對(duì)的TFT陣列基板和彩膜基板,在兩個(gè)基板之間設(shè)置襯墊料以保持盒間隙,并在該盒間隙之間填充液晶。
目前量產(chǎn)的TFT陣列基板大多至少需要四輪光罩工序。圖1為采用四道光罩工序制造的現(xiàn)有技術(shù)TFT陣列基板的平面圖,圖2為沿圖1的A-A’、B-B’線提取的截面圖。參照?qǐng)D1和圖2所示,現(xiàn)有技術(shù)的陣列基板在基板1上形成有彼此交叉的柵線11和數(shù)據(jù)線52,柵線11與數(shù)據(jù)線52的交叉區(qū)形成TFT?91。TFT?91包括柵極10、源極51和漏極50。所述柵極10形成在與基板1直接接觸的第一金屬層上,在柵極10上依次覆蓋有柵絕緣層20、半導(dǎo)體層30、歐姆接觸40、源極51、漏極50和鈍化層60。柵極10連接到柵線11,源極51連接到數(shù)據(jù)線52。在由柵極10和數(shù)據(jù)線52交叉限定的像素區(qū)域中形成像素電極78,所述像素電極78通過(guò)接觸孔70和TFT?91的漏極50相連。
以下將參照?qǐng)D3A~3D詳細(xì)說(shuō)明采用四道光罩工序的液晶面板的TFT陣列基板制造方法。
參照?qǐng)D3A,采用第一道光罩在基板上形成包括柵線11(參照?qǐng)D1)、柵極10和柵焊盤(pán)12的第一導(dǎo)電圖案組。
參照?qǐng)D3B,先在形成有柵圖案的基板上依次沉積柵絕緣層20、有源層30和歐姆接觸層40,再在歐姆接觸層40上沉積第二導(dǎo)電金屬層50。然后利用第二道光罩在柵絕緣層20上形成包括有源層30和歐姆接觸層40的圖案,以及包括數(shù)據(jù)線52(參照?qǐng)D1)、源極51、漏極50以及數(shù)據(jù)焊盤(pán)53(參照?qǐng)D1)的第二導(dǎo)電圖案層。
參照?qǐng)D3C,在第二導(dǎo)電層圖案形成之后,接著在基板上用PECVD沉積鈍化層60,在形成鈍化層之后,通過(guò)采用第三道光罩的光刻和蝕刻工序,形成接觸孔61。
參照?qǐng)D3D,在接觸孔61形成之后,沉積上一層透明導(dǎo)電層70,通過(guò)第四道光罩在鈍化層上形成包括像素電極78、柵焊盤(pán)上電極72和數(shù)據(jù)焊盤(pán)上電極73的第三導(dǎo)電圖案組。
在液晶顯示器中,由于TFT陣列基板需要半導(dǎo)體工序和多輪光罩工序,其制造工序很復(fù)雜并因此制造成本比較高,主要原因在于一輪光罩工序包括諸如薄膜沉積工序、清洗工序、光刻工序、蝕刻工序、光刻膠剝離和檢查工序等多個(gè)工序。
為了解決這個(gè)問(wèn)題,希望能夠提供一種可以簡(jiǎn)化光罩工序的TFT陣列基板制造方法。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種采用多灰階光罩而簡(jiǎn)化光罩工序的TFT陣列基板制造方法。
本發(fā)明為解決上述技術(shù)問(wèn)題而采用的技術(shù)方案是提供一種TFT陣列基板制造方法,包括以下步驟:
提供一基板,并在該基板上形成一第一金屬層和一第一光刻膠層,利用一第一光罩在該第一金屬層之上形成柵線、柵極和柵焊盤(pán);
在該基板上繼續(xù)依次沉積一柵絕緣層、一半導(dǎo)體層、一歐姆接觸層、一第二金屬層和一第二光刻膠層,利用一第二光罩在該第二金屬層之上形成源極、漏極、溝道、數(shù)據(jù)線和數(shù)據(jù)焊盤(pán)下電極;
在該基板上繼續(xù)沉積一絕緣層后放置絲網(wǎng),所述絲網(wǎng)覆蓋源極、漏極和數(shù)據(jù)線,經(jīng)過(guò)刻蝕形成鈍化層,然后繼續(xù)沉積一第三光刻膠層,利用一第三道光罩形成柵焊盤(pán)接觸孔;
在該基板上繼續(xù)沉積一透明導(dǎo)電層一第四光刻膠層,利用一第四道光罩形成像素電極和數(shù)據(jù)焊盤(pán)上電極。
上述方法中,所述第二光罩為一多灰階光罩。
本發(fā)明對(duì)比現(xiàn)有的四道光罩工序的TFT陣列基板制造方法有如下的有益效果:本發(fā)明在第三道光罩前先使用絲網(wǎng)形成絕緣層,所述絕緣層覆蓋數(shù)據(jù)線和源漏極區(qū)域,然后利用第三道光罩形成柵極焊盤(pán)的接觸孔,最后利用第四道光罩形成像素電極。和現(xiàn)有的四輪光罩工序相比,本發(fā)明提供的TFT陣列基板制造方法中第三道光罩工序僅需形成柵極焊盤(pán)的接觸孔,可以簡(jiǎn)化第三道光罩工序,降低成本,提高產(chǎn)量。此外,采用上述方法制造的TFT陣列基板,所述像素電極不但覆蓋源漏極區(qū)域,還覆蓋了數(shù)據(jù)線,因此有效提高單位面積的電容,從而提供了開(kāi)口率。
附圖說(shuō)明
圖1為采用現(xiàn)有技術(shù)四道光罩工序的TFT陣列基板的平面圖。
圖2為沿圖1的A-A’和B-B’線提取的截面圖。
圖3A~3D是現(xiàn)有技術(shù)的TFT陣列基板的制作流程剖視圖。
圖4為本發(fā)明的TFT陣列基板的平面圖。
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- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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