[發(fā)明專利]一種射頻測(cè)試系統(tǒng)及方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 200910047089.6
• 申請(qǐng)日: 2009-03-05
• 公開（公告）號(hào): CN101577592A
• 公開（公告）日: 2009-11-11
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 汪青波
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 上海聞泰電子科技有限公司
• 主分類號(hào): H04B17/00
• 分類號(hào): H04B17/00
• 代理公司: 上海漢聲知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司
• 代理人: 胡 晶

1.一種射頻測(cè)試系統(tǒng)，包括相互連接的信號(hào)發(fā)生器以及測(cè)試夾具，所 述測(cè)試夾具的另一端連接被測(cè)終端的射頻測(cè)試接口，其特征在于，還包括 功分器，所述功分器的輸入端連接所述信號(hào)發(fā)生器的輸出端，其若干輸出 端通過(guò)測(cè)試夾具與若干被測(cè)終端的射頻測(cè)試接口連接；

所述測(cè)試夾具包括：第一支撐板，包括PCB板，所述PCB板上相互連接 的設(shè)置有連接所述功分器輸出端的射頻連接接口、與所述被測(cè)終端射頻測(cè) 試接口連接的射頻連接器以及與所述被測(cè)終端阻抗相同的電阻；

第二支撐板，位于所述第一支撐板下方并通過(guò)彈簧連接第一支撐板， 包括設(shè)置在第二支撐板上方的第一測(cè)試柱以及設(shè)置在第二支撐板下方的第 二測(cè)試柱，所述第一測(cè)試柱連接第二測(cè)試柱并與所述PCB板的射頻連接器對(duì) 應(yīng)；

測(cè)試架，包括通過(guò)彈簧連接所述第二支撐板的一測(cè)試臺(tái)面和設(shè)置在測(cè) 試臺(tái)面的一豎桿，所述第一支撐板和第二支撐板分別活動(dòng)設(shè)置在所述豎桿 上，所述測(cè)試臺(tái)面匹配所述被測(cè)終端并使其射頻測(cè)試接口與所述第二測(cè)試 柱對(duì)應(yīng)；

所述第一測(cè)試柱與PCB板的射頻連接器的距離大于所述第二測(cè)試柱與 位于測(cè)試臺(tái)面的被測(cè)終端的射頻測(cè)試接口的距離。

2.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述測(cè)試夾具與被測(cè) 終端的阻抗相同，測(cè)試時(shí)，所述信號(hào)發(fā)生器通過(guò)所述測(cè)試夾具與被測(cè)終端 連接，同時(shí)斷開所述測(cè)試夾具的阻抗，測(cè)試結(jié)束后，所述測(cè)試夾具與被測(cè) 終端斷開，同時(shí)所述信號(hào)發(fā)生器連接并負(fù)載所述測(cè)試夾具的阻抗。