[發明專利]減少測量點數的平面度評定方法

無效

• 申請號: 200910046279.6
• 申請日: 2009-02-18
• 公開（公告）號: CN101493321A
• 公開（公告）日: 2009-07-29
• 發明（設計）人: 李郝林;王雪妮
• 申請（專利權）人: 上海理工大學
• 主分類號: G01B21/30
• 分類號: G01B21/30
• 代理公司: 上海申匯專利代理有限公司
• 代理人: 吳寶根

技術領域

本發明涉及一種平面度測量方法，尤其是一種平面度誤差的測量與評定方法。

背景技術

平面度是形狀公差的主要項目之一，平面度誤差的測量與評定在幾何量測量中有著重要的意義。根據形位公差國家標準的規定，平面度誤差是指被測表面對理想平面的變動量，而理想平面的方位應符合最小條件，即其方位應使被測表面對理想平面的最大變動量為最小。在平面度誤差的評定中，平面誤差測量點的數目對其評定結果有著較大的影響。由于被測表面位置是由若干個測量點代表的，而采用測量采樣點對誤差評定時，受到采樣點數的限制，往往會低估了實際的誤差值。另一方面，受測量時間的限制，平面度誤差測量點不可能很多。因此，如何在測量點數有限的情況下，提高平面度誤差評定的精度就成為一個重要問題。

發明內容

本發明是要解決在測量點數有限的情況下，提高平面度誤差評定的精度的技術問題，而提供一種減少測量點數的平面度評定方法。

為解決上述技術問題，本發明的技術方案是：一種減少測量點數的平面度評定方法，具體步驟是：

1)按照現有的平面度測量方法，測量平面上若干個點位置上的平面誤差值；

2)根據這些有限的測量點值，通過最大熵方法，估計被測平面誤差的概率分布；

3)根據所估計的概率分布，在被測平面的其它位置上，產生測量點間平面誤差的估計值，即對測量點進行插值；

4)利用最小包容區域法、最小二乘法或對角線法的平面度誤差評定方法，由平面度誤差的測量值與插值位置平面誤差的估計值，評定平面度誤差；

5)根據概率與統計理論和插值位置上多次估計值，分別計算平面度誤差，并取這些計算結果的平均值作為最終的平面度誤差評定值。

上述最小二乘法平面度誤差評定方法為：

設被測平面上任一點的坐標值為M_i(x_i，y_i，z_i)，理想平面的方程為：z＝Ax+By+C；按最小二乘法，目標函數為：

minS＝∑(z_i-z)²＝∑(z_i-Ax_i-By_i-C)²????(1)

由式(1)確定A、B、C的值，即確定理想平面的位置，再求各測點與理想平面的距離，即得各測點處的平面度誤差為：

e_i＝z_i-(Ax_i+By_i+C)??????????????????????????????(2)

應用最大熵方法計算平面誤差的概率密度函數，被測平面相對于理想平面誤差e_i的概率密度p(e)的信息熵定義為：

H=-∫Rp(e)lnp(e)de---(3)]]>

式(3)中，R為積分空間，約束條件為：

∫Rp(e)de=1---(4)]]>