[發明專利]一種電子元器件的密封性測試設備有效
| 申請號： | 200910045739.3 | 申請日： | 2009-02-03 |
| 公開（公告）號： | CN101514938A | 公開（公告）日： | 2009-08-26 |
| 發明（設計）人： | 柳光福;劉啟明;陳志安 | 申請（專利權）人： | 上海埃德電子股份有限公司 |
| 主分類號： | G01M3/06 | 分類號： | G01M3/06 |
| 代理公司： | 上海申匯專利代理有限公司 | 代理人： | 翁若瑩 |
| 地址： | 200237上海*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 電子元器件 密封性 測試 設備 | ||
【權利要求書】：
1.一種電子元器件的密封性測試設備，包括鍋蓋(10)和鍋身(30)，所述鍋蓋(10)上設有安全閥(12)、報警閥(13)、上手柄(14)、自鎖閥(15)和安全窗(16)，所述鍋蓋(10)下側設有橡皮圈(20)，所述鍋身(30)上設有下手柄(31)和輔手柄(32)；其特征在于：
所述鍋身(30)上分別設有進氣閥(33)、出氣閥(34)和氣壓表(35)，所述進氣閥(33)連接過氣管(40)，過氣管(40)上設有減壓閥(50)；
所述鍋蓋(10)上固定有盛液槽(17)，鍋蓋(10)與盛液槽(17)之間設有橡皮墊(171)，盛液槽(17)底部中心的開口上依次設有鋼板(176)、密封圈(60)、橡膠密封墊(80)和壓板(90)，壓板(90)與盛液槽(17)底部固定連接，被測器件設在密封圈(60)與橡膠密封墊(80)之間。
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