[發明專利]具有抗單粒子效應能力的星載處理平臺有效
| 申請號: | 200910043422.6 | 申請日: | 2009-05-15 |
| 公開(公告)號: | CN101551762A | 公開(公告)日: | 2009-10-07 |
| 發明(設計)人: | 楊俊;王躍科;張傳勝;邢克飛;周永彬;陳建云;鐘小鵬;胡助理;明德祥;楊建偉 | 申請(專利權)人: | 中國人民解放軍國防科學技術大學 |
| 主分類號: | G06F11/00 | 分類號: | G06F11/00 |
| 代理公司: | 湖南兆弘專利事務所 | 代理人: | 趙 洪 |
| 地址: | 410073湖南省長沙市硯瓦池正街47*** | 國省代碼: | 湖南;43 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 具有 粒子 效應 能力 處理 平臺 | ||
1.一種具有抗單粒子效應能力的星載處理平臺,其特征在于:它包括由高可靠監控單元、非易失性存儲器、現場可編程邏輯門陣列和一個以上的DSP,高可靠監控單元與其他各部分采用局部總線互聯,現場可編程邏輯門陣列和DSP之間采用高速總線互聯;所述高可靠監控單元用于對現場可編程邏輯門陣列和DSP內的單粒子翻轉進行檢測和修復,所述高可靠監控單元包括通過總線互連的檢測修復控制器、DSP監控模塊、DSP修復模塊、FPGA檢測模塊、FPGA修復模塊以及DSP監控接口、FPGA監控接口和NVRAM接口,所述檢測修復控制器通過總線直接與DSP監控模塊、DSP修復模塊、FPGA檢測模塊、FPGA修復模塊和NVRAM接口連接,DSP監控接口通過總線與DSP監控模塊和DSP修復模塊連接,FPGA監控接口通過總線與FPGA檢測模塊和FPGA修復模塊連接;所述FPGA檢測模塊通過FPGA監控接口實現對FPGA單粒子翻轉進行檢測;所述FPGA修復模塊通過FPGA監控接口對FPGA單粒子翻轉進行修復;所述DSP檢測模塊通過DSP監控接口實現對DSP單粒子翻轉進行檢測;所述DSP修復模塊通過DSP監控接口對DSP單粒子翻轉進行修復。
2.根據權利要求1所述的具有抗單粒子效應能力的星載處理平臺,其特征在于:所述檢測修復控制器用于監測并接收DSP監控模塊和FPGA檢測模塊發出的器件修復請求指令,以及向DSP修復模塊和FPGA修復模塊發出器件修復命令。
3.根據權利要求1所述的具有抗單粒子效應能力的星載處理平臺,其特征在于:所述FPGA檢測模塊包括FPGA配置數據讀取控制器、FPGA配置數據回讀控制器和FPGA配置數據檢測控制器,所述FPGA配置數據讀取控制器通過NVRAM接口從非易失性存儲器中讀取現場可編程邏輯門陣列原始配置數據,FPGA配置數據回讀控制器通過FPGA監控接口回讀現場可編程邏輯門陣列的運行配置數據,FPGA配置數據檢測控制器對原始配置數據和運行配置數據進行比對分析,當發生比對不匹配時,通過內部數據總線向檢測修復控制器發出現場可編程邏輯門陣列修復請求指令。
4.根據權利要求1所述的具有抗單粒子效應能力的星載處理平臺,其特征在于:所述FPGA修復模塊包括FPGA配置數據讀取控制器和FPGA配置數據寫入控制器,FPGA配置數據讀取控制器通過局部總線接收檢測修復控制器的現場可編程邏輯門陣列修復命令、通過NVRAM接口讀取存儲在非易失性存儲器中的現場可編程邏輯門陣列原始配置數據,現場可編程邏輯門陣列配置數據寫入控制器通過FPGA監控接口將現場可編程邏輯門陣列原始配置數據寫入現場可編程邏輯門陣列中,完成對現場可編程邏輯門陣列的修復。
5.根據權利要求1所述的具有抗單粒子效應能力的星載處理平臺,其特征在于:所述DSP監控模塊包括DSP狀態信息回讀控制器和DSP狀態判別器,回讀控制器通過DSP監控接口監測并接收DSP運行狀態信息,判別器根據DSP運行狀態信息對DSP狀態進行判別,當監測到DSP“跑死”或“跑飛”時,產生DSP內核復位命令發送給DSP進行復位,或者產生DSP修復請求指令給檢測修復控制器等待修復DSP。
6.根據權利要求1所述的具有抗單粒子效應能力的星載處理平臺,其特征在于:所述DSP修復模塊包括DSP程序數據讀取控制器和DSP程序數據寫入控制器,DSP程序數據讀取控制器通過內部數據總線接收檢測修復控制器的DSP修復命令、通過NVRAM接口讀取存儲在非易失性存儲器中的DSP程序數據,DSP程序數據寫入控制器通過DSP監控接口將DSP程序數據寫入DSP中,完成對DSP的修復。
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