[發(fā)明專利]一種晶體硅太陽電池鋁背場二次燒結(jié)工藝無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200910039022.8 | 申請日: | 2009-04-27 |
| 公開(公告)號: | CN101540349A | 公開(公告)日: | 2009-09-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 沈輝;王學(xué)孟;張陸成 | 申請(專利權(quán))人: | 中山大學(xué) |
| 主分類號: | H01L31/18 | 分類號: | H01L31/18 |
| 代理公司: | 廣州知友專利商標(biāo)代理有限公司 | 代理人: | 李海波 |
| 地址: | 510275廣*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 晶體 太陽電池 鋁背場 二次 燒結(jié) 工藝 | ||
1.一種晶體硅太陽電池鋁背場二次燒結(jié)工藝,其特征在于,利用激光束或微波束在晶體硅太陽電池背面鋁層密集掃描,使掃描區(qū)域內(nèi)的鋁瞬間加熱熔化,并向硅體擴(kuò)散,形成性能優(yōu)異的重?cái)U(kuò)散鋁背場。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶體硅太陽電池鋁背場二次燒結(jié)工藝,其特征在于,所述的激光束采用功率為1~1000W、波長為1100~200nm的脈沖或連續(xù)激光束,在經(jīng)過聚焦后達(dá)到微米至毫米量級直徑的光斑照射到鋁層表面進(jìn)行掃描。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶體硅太陽電池鋁背場二次燒結(jié)工藝,其特征在于,所述的微波束采用功率10~1000W、毫秒及更短的脈沖寬度的微波源,經(jīng)過天線匯聚后在鋁層上進(jìn)行加熱。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶體硅太陽電池鋁背場二次燒結(jié)工藝,其特征在于,根據(jù)晶體硅片、印刷鋁層和激光、微波的性能,選擇合適的掃描圖樣,在太陽電池背面進(jìn)行全面或者局部的燒結(jié)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的多晶硅太陽電池絨面制作方法,其特征在于,所述的掃描圖樣設(shè)計(jì)成點(diǎn)陣或線陣。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中山大學(xué),未經(jīng)中山大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/200910039022.8/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進(jìn)行電能控制的半導(dǎo)體器件;專門適用于制造或處理這些半導(dǎo)體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導(dǎo)體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉(zhuǎn)換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的,一個(gè)或多個(gè)電光源,如場致發(fā)光光源在結(jié)構(gòu)上相連的,并與其電光源在電氣上或光學(xué)上相耦合的





