[發(fā)明專(zhuān)利]一種探測(cè)裝置及探測(cè)方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 200910038410.4
• 申請(qǐng)日: 2009-04-03
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN101515042A
• 公開(kāi)（公告）日: 2009-08-26
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 邱亮南;沈彤
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 廣州秋亮科技有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G01V8/10
• 分類(lèi)號(hào): G01V8/10;G01V8/20;G01V1/00;G08B13/181
• 代理公司: 廣州華進(jìn)聯(lián)合專(zhuān)利商標(biāo)代理有限公司
• 代理人: 曾旻輝

1.一種探測(cè)裝置，其特征在于，該探測(cè)裝置在探測(cè)區(qū)域中區(qū)分出至少兩個(gè)獨(dú)立的可探測(cè)區(qū)塊，當(dāng)物體進(jìn)入探測(cè)區(qū)域并反射信號(hào)發(fā)射源發(fā)出的探測(cè)介質(zhì)，接收元件接收到來(lái)自與其對(duì)應(yīng)可探測(cè)區(qū)塊的被反射探測(cè)介質(zhì)，并將接收到的信號(hào)反饋給分析及控制電路，該分析及控制電路將接收到的信號(hào)識(shí)別并處理后，由輸出接口電路輸出，該信號(hào)發(fā)射源發(fā)出的探測(cè)介質(zhì)為單一頻率的光波或聲波或超聲波。

2.如權(quán)利要求1所述的探測(cè)裝置，其特征在于，該探測(cè)介質(zhì)除了其基波頻率特征外，還具有基于該基波頻率的其他特定和/或隨機(jī)的信號(hào)特征。

3.如權(quán)利要求1或2所述的探測(cè)裝置，其特征在于，該裝置采用至少兩個(gè)針對(duì)不同方位的接收元件以及至少一個(gè)發(fā)射源，從而在探測(cè)區(qū)域中區(qū)分出至少兩個(gè)不同的獨(dú)立的可探測(cè)區(qū)塊。

4.如權(quán)利要求3所述的探測(cè)裝置，其特征在于，其進(jìn)一步包括信號(hào)接收定向約束器，該信號(hào)接收定向約束器是具有至少兩個(gè)互相獨(dú)立探測(cè)介質(zhì)通道的裝置，在探測(cè)區(qū)域內(nèi)形成與該探測(cè)介質(zhì)通道相對(duì)應(yīng)的互相獨(dú)立的可探測(cè)區(qū)塊，僅允許該可探測(cè)區(qū)塊內(nèi)反射方向與該探測(cè)介質(zhì)通道一致的被反射探測(cè)介質(zhì)可以通過(guò)而被接收元件所接收。

5.如權(quán)利要求4所述的探測(cè)裝置，其特征在于，該信號(hào)接收定向約束器可以調(diào)節(jié)至少任意相鄰兩個(gè)探測(cè)介質(zhì)通道之間的角度和/或相對(duì)位置，以適應(yīng)不同探測(cè)要求。

6.如權(quán)利要求1或2所述的探測(cè)裝置，其特征在于，該裝置采用至少兩個(gè)不同指向且不同信號(hào)特征的發(fā)射源以及至少一個(gè)接收元件，從而在探測(cè)區(qū)域中區(qū)分出至少兩個(gè)不同的獨(dú)立的可探測(cè)區(qū)塊。

7.如權(quán)利要求6所述的探測(cè)裝置，其特征在于，該不同指向且不同信號(hào)特征的發(fā)射源可以調(diào)節(jié)其中至少任意相鄰兩個(gè)發(fā)射源之間的角度和/或指向和/或相對(duì)位置，以適應(yīng)不同探測(cè)要求。?

8.如權(quán)利要求1或2所述的探測(cè)裝置，其特征在于，其包括多個(gè)相同或不同指向且不同信號(hào)特征的信號(hào)發(fā)射源以及多個(gè)接收元件，該信號(hào)發(fā)射源及接收元件排成行或排成陣列。

9.如權(quán)利要求8所述的探測(cè)裝置，其特征在于，其進(jìn)一步包括由分析及控制電路選擇性開(kāi)通的電控選通器，該電控選通器包括以陣列排布的多個(gè)光通或聲通單元。

10.如權(quán)利要求1或2所述的探測(cè)裝置，其特征在于，該接收元件為與信號(hào)發(fā)射源相同介質(zhì)、相應(yīng)頻率響應(yīng)的光敏器件和/或聲接收器件。

11.如權(quán)利要求1或2所述的探測(cè)裝置，其特征在于，所述接收元件為光和/或聲的陣列式接收器件。

12.一種應(yīng)用于如權(quán)利要求1～11所述的探測(cè)裝置的探測(cè)方法，其特征在于，探測(cè)過(guò)程包括如下步驟：分析及控制電路控制信號(hào)發(fā)射源發(fā)出探測(cè)介質(zhì)，當(dāng)該探測(cè)介質(zhì)被進(jìn)入探測(cè)區(qū)域的物體所反射并被接收元件所接收時(shí)，接收元件將接收到的信號(hào)特征反饋給分析及控制電路，分析及控制電路對(duì)來(lái)自各接收元件的信號(hào)進(jìn)行信號(hào)特征識(shí)別和反射方位等因素分析，并輸出分析結(jié)果，

當(dāng)該探測(cè)介質(zhì)被進(jìn)入探測(cè)區(qū)域的物體所反射，并被對(duì)應(yīng)于任意相鄰的至少兩個(gè)獨(dú)立的可探測(cè)區(qū)塊的接收元件同時(shí)接收時(shí)，或接收元件接收到至少包含具有兩個(gè)任意相鄰獨(dú)立的可探測(cè)區(qū)塊信號(hào)特征的有效探測(cè)介質(zhì)時(shí)，分析及控制電路將作出提示；

當(dāng)該探測(cè)介質(zhì)被進(jìn)入探測(cè)區(qū)域的物體所反射，并被對(duì)應(yīng)于至少某一獨(dú)立的可探測(cè)區(qū)塊的接收元件所接收，或物體反射至少某一獨(dú)立的可探測(cè)區(qū)塊信號(hào)特征的有效探測(cè)介質(zhì)被接收元件所接收，分析及控制電路將作出另一種提示。

13.如權(quán)利要求11所述的探測(cè)方法，其特征在于，分析及控制電路控制信號(hào)發(fā)射源發(fā)出的探測(cè)介質(zhì)具有基于該基波頻率特征的其他特定和/或隨機(jī)的信號(hào)特征。?

14.如權(quán)利要求11所述的探測(cè)方法，其特征在于，當(dāng)裝置由多個(gè)信號(hào)發(fā)射源構(gòu)成時(shí)，分析及控制電路可以控制各信號(hào)發(fā)射源按規(guī)定順序分時(shí)發(fā)出探測(cè)介質(zhì)。?