[發(fā)明專利]一種檢測(cè)多層印制電路板層間位置偏移的方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 200910036910.4
• 申請(qǐng)日: 2009-01-22
• 公開（公告）號(hào): CN101697001A
• 公開（公告）日: 2010-04-21
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 崔賽華
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 依利安達(dá)(廣州)電子有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/02
• 分類號(hào): G01R31/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種檢測(cè)多層印制電路板層間位置偏移的方法，其特征在于，包括以下步驟：

A、選取印制電路板中的偶數(shù)或奇數(shù)層，在選取的各層上分別設(shè)置若干個(gè)直徑成等差遞增的圓形對(duì)位標(biāo)記；

B、將各層上所述圓形對(duì)位標(biāo)記蝕刻成基材，將印制電路板中的各層按照?qǐng)A形對(duì)位標(biāo)記疊加并壓合在一起；

C、從印制電路板最外層對(duì)圓形對(duì)位標(biāo)記進(jìn)行鉆孔，鉆孔的孔徑為各圓形對(duì)位標(biāo)記中最小的孔徑；

D、將印制電路板最外層的各個(gè)鉆孔周圍的銅料蝕刻出圓環(huán)，使各個(gè)鉆孔之間相互獨(dú)立；

E、采用電阻表測(cè)量?jī)?nèi)層中最小直徑圓形對(duì)位標(biāo)記分別與其他圓形對(duì)位標(biāo)記之間的短路或開路狀況，判斷內(nèi)層的對(duì)位精度。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種檢測(cè)多層印制電路板層間位置偏移的方法，其特征在于，所述步驟A中在選取的各層上設(shè)置五個(gè)直徑成等差遞增的圓形對(duì)位標(biāo)記分別為第一、第二、第三、第四、第五圓形對(duì)位標(biāo)記。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種檢測(cè)多層印制電路板層間位置偏移的方法，其特征在于，所述五個(gè)直徑成等差遞增的第一、第二、第三、第四、第五圓形對(duì)位標(biāo)記的直徑的公差為Pmil，直徑分別為12mil、12mil+Pmil、12mil+2Pmil、12mil+3Pmil、12mil+4Pmil，其中P為正整數(shù)。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種檢測(cè)多層印制電路板層間位置偏移的方法，其特征在于：P為小于6的正整數(shù)。

5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種檢測(cè)多層印制電路板層間位置偏移的方法，其特征在于，所述五個(gè)圓形對(duì)位標(biāo)記相鄰圓心之間的距離為50mil。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種檢測(cè)多層印制電路板層間位置偏移的方法，其特征在于，所述步驟E具體為：

E1：選取印制電路板中的一個(gè)內(nèi)層；

E2：使用電阻表的一針在該內(nèi)層上直徑最小的第一圓形對(duì)位標(biāo)記的位置作為第一接觸點(diǎn)，另一針依次分別在第二、第三、第四、第五圓形對(duì)位標(biāo)記的鉆孔位置作為第二接觸點(diǎn)；

E3：根據(jù)電阻表測(cè)試顯示的短路或開路狀況，判斷該內(nèi)層的對(duì)位精度，當(dāng)電阻表顯示開路時(shí)，結(jié)束測(cè)試。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種檢測(cè)多層印制電路板層間位置偏移的方法，其特征在于，所述步驟E3具體包括：

E31：當(dāng)?shù)诙佑|點(diǎn)在第二圓形對(duì)位標(biāo)記位置時(shí)，如果電阻表顯示短路則表示該層的對(duì)位精度超過Pmil，跳轉(zhuǎn)到步驟E32，如果電阻表顯示開路則表示該層的對(duì)位精度在Pmil的范圍之內(nèi)，并結(jié)束測(cè)試；

E32：當(dāng)?shù)诙佑|點(diǎn)在第三圓形對(duì)位標(biāo)記位置時(shí)，如果電阻表顯示短路則表示該層的對(duì)位精度超過2Pmil，跳轉(zhuǎn)到步驟E33，如果電阻表顯示開路則表示該層的對(duì)位精度在2Pmil的范圍之內(nèi)，并結(jié)束測(cè)試；

E33：當(dāng)?shù)诙佑|點(diǎn)在第四圓形對(duì)位標(biāo)記位置時(shí)，如果電阻表顯示短路則表示該層的對(duì)位精度超過3Pmil，跳轉(zhuǎn)到步驟E34，如果電阻表顯示開路則表示該層的對(duì)位精度在3Pmil的范圍之內(nèi)，并結(jié)束測(cè)試；

E34：當(dāng)?shù)诙佑|點(diǎn)在第五圓形對(duì)位標(biāo)記位置時(shí)，如果電阻表顯示短路則表示該層的對(duì)位精度超過4Pmil，如果電阻表顯示開路則表示該層的對(duì)位精度在4Pmil的范圍之內(nèi)，并結(jié)束測(cè)試。