[發(fā)明專(zhuān)利]一種巖土細(xì)觀力學(xué)試驗(yàn)的三軸可調(diào)顯微觀測(cè)系統(tǒng)無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200910036622.9 | 申請(qǐng)日: | 2009-01-13 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN101464450A | 公開(kāi)(公告)日: | 2009-06-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 周翠英;張磊;朱鳳賢;黃煒;劉動(dòng) | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 中山大學(xué) |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01N33/24 | 分類(lèi)號(hào): | G01N33/24;G01N3/00 |
| 代理公司: | 暫無(wú)信息 | 代理人: | 暫無(wú)信息 |
| 地址: | 510275廣東*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 巖土 力學(xué) 試驗(yàn) 可調(diào) 顯微 觀測(cè) 系統(tǒng) | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于巖土工程試驗(yàn)儀器領(lǐng)域,特別涉及在巖土細(xì)觀力學(xué)試 驗(yàn)中的三軸可調(diào)顯微觀測(cè)系統(tǒng)。
技術(shù)背景
巖土遇水軟化現(xiàn)象普遍存在于國(guó)內(nèi)外諸多重大工程中,是造成邊 坡、基坑、隧道等產(chǎn)生變形破壞或安全隱患的關(guān)鍵之所在。具體來(lái)說(shuō), 由于水-力對(duì)巖土的耦合作用使得巖土體內(nèi)部礦物顆粒連接被削弱, 加上巖土體中粘土礦物膨脹的不均勻性,共同導(dǎo)致了巖土體內(nèi)部與表 面微裂紋的產(chǎn)生,;隨著水與巖土體相互作用的加劇,巖土體中微裂 紋不斷擴(kuò)展、匯合,巖土體宏觀強(qiáng)度也在不斷降低,最終由于宏觀裂 隙的貫通導(dǎo)致軟巖的破壞。
由此可見(jiàn),巖土體表面微裂紋的產(chǎn)生、擴(kuò)展及連通的過(guò)程也正對(duì) 應(yīng)著巖土體軟化的過(guò)程,所以,可以通過(guò)開(kāi)展巖土軟化細(xì)觀力學(xué)試驗(yàn), 來(lái)全程跟蹤水-巖相互作用下巖土表面裂隙和裂紋的產(chǎn)生和發(fā)展,最 終揭示巖土內(nèi)部損傷的演化規(guī)律。目前,研究巖土體的細(xì)觀力學(xué)試驗(yàn) 儀器中壓力室以立式為主,這就要求光學(xué)顯微觀測(cè)系統(tǒng)顯微鏡鏡頭軸 向應(yīng)處于水平方向。因此,設(shè)計(jì)一套顯微鏡鏡頭軸向處于水平方向的 簡(jiǎn)單,高效并易于操作的三軸可調(diào)顯微觀測(cè)系統(tǒng)成為開(kāi)展巖土軟化細(xì) 觀力學(xué)試驗(yàn)的必然要求,具有十分重要的科學(xué)意義與廣闊的應(yīng)用前 景。
但是目前顯微鏡主要用于垂向觀察,現(xiàn)有一般顯微鏡支架也以滿(mǎn) 足垂向觀察要求為主;特制的為觀察大型樣品的顯微鏡萬(wàn)能支架有的 也只用于垂向觀察,個(gè)別可進(jìn)行一定角度的調(diào)節(jié),但是對(duì)于滿(mǎn)足水平 向觀察并方便的進(jìn)行三軸細(xì)調(diào)的顯微鏡支架當(dāng)前并沒(méi)有很好的解決 方案。本發(fā)明就是以滿(mǎn)足顯微鏡三軸細(xì)調(diào)為目的。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于針對(duì)現(xiàn)有的巖石三軸和土三軸加載系統(tǒng),提供 一種能在水與巖土體耦合作用過(guò)程中進(jìn)行細(xì)觀觀察的三軸可調(diào)顯微 觀測(cè)系統(tǒng)。
為達(dá)到本發(fā)明的目的,采用的技術(shù)方案如下:
基于巖石三軸和土三軸加載系統(tǒng)的三軸可調(diào)顯微觀測(cè)系統(tǒng),包括 一臺(tái)顯微鏡,一套顯微鏡所用的萬(wàn)能支架。
與顯微鏡配套的萬(wàn)能支架由以下幾部分組成:
1.支座
支架的底座為鑄鐵塊,其自身質(zhì)量保證顯微鏡安放到支架上之后 能夠穩(wěn)定的工作。
2.豎向位移調(diào)節(jié)系統(tǒng)
豎向調(diào)節(jié)系統(tǒng)由兩部分組成,一為粗調(diào)系統(tǒng),由豎向支桿和豎向 移動(dòng)固定環(huán)組成,使用時(shí),將豎向移動(dòng)固定環(huán)固定到需要的位置,上 面放上豎向橫向連接器,即可以使顯微鏡放到我們想要安放的大體豎 向高度;另一部分為細(xì)調(diào)系統(tǒng),由相互嵌合的兩塊鑄鐵塊組成,其中 一塊鑄鐵塊上的螺紋與另一塊鑄鐵塊上旋鈕上的螺紋相互符合,當(dāng)旋 轉(zhuǎn)旋鈕時(shí),可移動(dòng)的鑄鐵塊即可沿固定的鑄鐵塊表面上下移動(dòng)。
3.橫向位移調(diào)節(jié)系統(tǒng)
橫調(diào)節(jié)系統(tǒng)也由兩部分組成,一為粗調(diào)系統(tǒng),由豎向橫向連接器 和橫向支桿組成,豎向橫向連接器中的橫向孔內(nèi)有一圈小鋼珠,這樣 橫向支桿可以手動(dòng)靈活的橫向移動(dòng);另一部分為細(xì)調(diào)系統(tǒng),由固定橫 桿和套在固定橫桿上的移動(dòng)塊體組成,當(dāng)移動(dòng)塊體上的旋鈕旋轉(zhuǎn)時(shí), 移動(dòng)塊體可沿著固定橫桿的軸向移動(dòng);固定橫桿與豎向位移細(xì)調(diào)系統(tǒng) 中的移動(dòng)鑄鐵塊固定在一起。
4.顯微鏡鏡頭軸向調(diào)焦系統(tǒng)
顯微鏡鏡頭軸向調(diào)焦系統(tǒng)的支撐桿固定在橫向位移細(xì)調(diào)系統(tǒng)的 移動(dòng)塊體上,顯微鏡本身的調(diào)節(jié)系統(tǒng)套在支撐桿上,當(dāng)顯微鏡本身的 調(diào)焦旋鈕旋轉(zhuǎn)時(shí),顯微鏡可以沿著顯微鏡鏡頭軸向移動(dòng)。
由于豎向調(diào)節(jié)系統(tǒng),橫向調(diào)節(jié)系統(tǒng),顯微鏡鏡頭軸向調(diào)焦系統(tǒng)的 調(diào)節(jié)方向互為90度角,所以本支持系統(tǒng)可以實(shí)現(xiàn)顯微鏡觀察的三軸 可調(diào)。
本發(fā)明在巖土軟化細(xì)觀力學(xué)試驗(yàn)中的應(yīng)用:
1.根據(jù)巖石三軸或土三軸加載系統(tǒng)的位置及壓力室內(nèi)巖樣的高 度,初步安裝好三軸可調(diào)顯微觀測(cè)系統(tǒng)。
2、啟動(dòng)巖石三軸或土三軸加載系統(tǒng),巖土試件開(kāi)始受到水-力共 同作用,調(diào)節(jié)橫向位移粗調(diào)系統(tǒng),豎向位移粗調(diào)系統(tǒng)和顯微鏡鏡頭軸 向調(diào)焦系統(tǒng),對(duì)試上表面各部分進(jìn)行顯微放大監(jiān)測(cè),找到要觀察的巖 土表面裂紋。
3、根據(jù)巖土表面裂紋的發(fā)展,調(diào)節(jié)橫向位移細(xì)調(diào)系統(tǒng)旋鈕和豎 向位移細(xì)調(diào)系統(tǒng)旋鈕,跟蹤裂紋的發(fā)展。
本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)為:
1)能夠?qū)崿F(xiàn)顯微鏡觀察的三軸可調(diào),為巖土軟化細(xì)觀力學(xué)試驗(yàn) 提供了有效的裂紋觀察工具。
2)操作簡(jiǎn)單,方便,易于掌握。
3)結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,可靠,便于維護(hù)。
附圖說(shuō)明
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