[發明專利]判斷燒成爐爐溫準確性和均勻性的方法

無效

• 申請號: 200910030812.X
• 申請日: 2009-04-16
• 公開（公告）號: CN101526402A
• 公開（公告）日: 2009-09-09
• 發明（設計）人: 杭岳琪;朱立鋒;王保平;林青園
• 申請（專利權）人: 南京華顯高科有限公司
• 主分類號: G01K5/48
• 分類號: G01K5/48
• 代理公司: 南京天華專利代理有限責任公司
• 代理人: 夏 平

技術領域

本發明涉及等離子顯示屏領域，尤其是一種在較短的時間內以及無需停產的情況下判斷隧道窯式燒成爐，具體地說是等離子顯示屏制備過程中判斷燒成爐爐溫準確性和均勻性的方法。

背景技術

等離子平板顯示屏Plasma?Display?Panel，簡稱PDP，是利用兩個電極間加高壓，引發惰性氣體放電產生等離子體，等離子產生的紫外線激發對應電極區涂有的熒光粉發光進行顯示的平面顯示屏。蔭罩式等離子顯示屏ShadowMask?Plasma?Display?Panel，簡稱SMPDP，是在原有PDP技術基礎上，利用彩色陰極射線管CRT中的蔭罩板即金屬柵網板代替傳統PDP中復雜的障壁制造，獨立加工蔭罩板，并在其上制作熒光粉，最后將前基板、蔭罩板、后基板以“三明治”的方式裝配起來制作成整屏。目前采用的蔭罩式等離子體顯示屏主要包括：前基板、后基板、蔭罩，如圖1所示。前基板從玻璃基板4起，分別有掃描電極1、介質層2以及在介質層表面形成的保護層3組成；后基板從玻璃基板5起，分別有與掃描電極1垂直的尋址電極6、介質層7、以及在介質層表面形成的保護層8組成。包含電極的前后基板結構如圖2、3所示。蔭罩是由導電材料加工而成的包含網孔陣列的金屬薄網板。其具備經高溫燒結后尺寸增大，再進過低溫后蔭罩尺寸不會完全回縮的特性。R、G、B三色熒光粉漿料分別按順序涂覆在蔭罩孔內，如圖4、5所示。

前后基板的制備過程需要經過3～4次的燒結工藝，而燒成爐顯示溫度與被燒成材料表面實際溫度是有差異的，通常為了保證燒成爐爐溫的準確性和均勻性是將熱電偶9的一頭貼付在玻璃基板的測量點上送進燒成爐的爐膛10，另一頭接到顯示溫度的監控設備上進行爐溫測量，如圖6示，在貼有熱電偶9的玻璃基板進入每一個爐溫段時從監控設備的溫度顯示器11上記錄下此時的溫度，將其與設定溫度比較，再行數次校調，以達到工藝所需爐溫。但是，運用這樣的監控方法時不能進行正常的燒結工藝，而且將熱電偶放入燒成爐內對爐膛也產生了污染，測量溫度結束后還需要用干凈的光玻璃送進燒成爐的爐膛10，將爐膛內落在玻璃上的臟物跟隨玻璃一起帶出，用以清潔爐膛，這樣一條燒結曲線的監控測量需要花將近一周左右的時間，既耽誤了生產，也消耗了人力、物力和財力。不能達到準確、高效、無污染和低成本的要求，不能滿足現有生產的需要。

發明內容

本發明的目的是針對傳統監控爐溫的方法既耽誤生產，又造成污染的問題，提出一種高效率、易實施、又能準確反映爐溫的判斷燒成爐爐溫準確性和均勻性的方法。

本發明的技術方案是：

一種判斷燒成爐爐溫準確性和均勻性的方法，它包括以下步驟：

(a).選一張蔭罩作為標準蔭罩，在標準蔭罩上選取測量點并記錄測量點的中心坐標的橫坐標X、縱坐標Y，在燒成爐爐溫正常的情況下，將標準蔭罩放入燒成爐燒結的爐膛內，燒結完成后，記錄標準蔭罩測量點燒結后的中心坐標X、Y并記錄；

(b).將標準蔭罩測量點燒結前后中心坐標X、Y的測量值進行比較，得出燒結前后標準蔭罩的測量點中心坐標X、Y的變化量即ΔX、ΔY并將這個數值作為標準值；

(c).選取一張未燒結的與標準蔭罩相同的測量蔭罩，測量與標準蔭罩同樣位置的實際測量點中心坐標值X1、Y1，然后放入燒成爐的爐膛內燒結，測量蔭罩燒結完成后，記錄測量蔭罩測量點燒結后的中心坐標的橫坐標X1、縱坐標Y1；

(d).將測量蔭罩測量點燒結前后中心坐標X1、Y1的測量值進行比較，得出燒結前后測量蔭罩的測量點中心坐標X1、Y1的變化量即ΔX1、ΔY1；

(e).將測量蔭罩的測量點中心坐標變化量即ΔX1、ΔY1分別與標準值ΔX、ΔY進行比較得到差值，如果差值在所選蔭罩類型的合理誤差范圍內，誤差范圍是0-50um，爐溫正常，燒成爐爐溫準確性和均勻性符合要求；否則，爐溫異常，燒成爐爐溫準確性和均勻性不符合要求。

本發明的測量點為八個。

本發明的標準蔭罩的測量點和測量蔭罩的測量點均位于同樣的固定區域內。

本發明進入燒成爐的蔭罩均放在石英墊板上面一起進入燒成爐。

本發明的有益效果：

本發明利用蔭罩的高溫生長以后低溫尺寸不完全回縮的特性通過對蔭罩燒結前后尺寸的測量與標準值進行比較的方法的特性，能在準確監控爐溫的同時又不耽誤生產，我們通過測量蔭罩的數據監控爐溫的準確性和均勻性，提高了生產效率。