[發(fā)明專利]連接器測試治具

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200910028769.3
• 申請日: 2009-01-05
• 公開（公告）號: CN101769979A
• 公開（公告）日: 2010-07-07
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 黃柏翰
• 申請（專利權(quán)）人: 昆山意力電路世界有限公司
• 主分類號: G01R31/04
• 分類號: G01R31/04
• 代理公司: 昆山四方專利事務(wù)所 32212
• 代理人: 盛建德

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種測試治具，尤其是一種連接器測試治具。

背景技術(shù)

目前大家公知的應(yīng)用的連接器測試治具是采用與待測線路板上連接器相對的測試連接器(待測連接器為公端則采用母端作為其測試連接器，待測連接器為母端則采用公端作為其測試連接器)，通過測試連接器轉(zhuǎn)接焊接在待測線路板上的連接器，測試其導(dǎo)通狀態(tài)。此種測試方法因連接器的插接次數(shù)限制即插接過程中所引起的連接器損壞而導(dǎo)致測試壽命短，一個連接器能夠測試的次數(shù)在200-400次之間，其成本高，且待測線路板上連接器與測試連接器的對位插接需消耗一定時間，相對的效率較低。

發(fā)明內(nèi)容

為了克服上述缺陷，本發(fā)明提供一種連接器測試治具，該測試治具測試壽命長、測試時間短，因此相對成本較低、效率較高。

本發(fā)明為了解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是：

一種連接器測試治具，以使用方向為基準(zhǔn)，包括治具上支架和與治具上支架配合的治具下支架，所述治具下支架上端面固設(shè)一治具下支架探針護(hù)板，所述治具下支架上形成有至少一個連接器定位槽，治具下支架探針護(hù)板上形成有與連接器定位槽對應(yīng)的連接器定位開口，所述治具下支架上設(shè)有若干組探針容納孔，所述探針容納孔的數(shù)量組與連接器定位槽的個數(shù)對應(yīng)相同，所述治具下支架探針護(hù)板上設(shè)有與所述探針容納孔相對應(yīng)的探針保護(hù)孔，所述的每組探針容納孔與線路板上連接器焊接線路所引出的待測焊盤相對應(yīng)，所述探針容納孔內(nèi)固設(shè)有探針，探針上部伸出探針容納孔且容置于探針保護(hù)孔中，所述探針與外界電測機(jī)電連接；所述治具上支架上形成有與連接器定位槽相同數(shù)量的感應(yīng)片定位槽，感應(yīng)片定位于感應(yīng)片定位槽靠近治具下支架的一側(cè)，所述感應(yīng)片與外界電測機(jī)電連接；所述感應(yīng)片定位槽與連接器定位槽配合對位。

還包括有上支架連接接口、下支架連接接口和導(dǎo)線，所述探針與外界電測機(jī)電連接的結(jié)構(gòu)是：所述治具下支架上固定定位有下支架連接接口，所述探針通過導(dǎo)線和下支架連接接口相連接，下支架連接接口與外界電測機(jī)電連接；所述感應(yīng)片與外界電測機(jī)電連接的結(jié)構(gòu)是：所述治具上支架上固定定位有上支架連接接口，所述感應(yīng)片通過導(dǎo)線和上支架連接接口相連接，上支架連接接口與外界電測機(jī)電連接。

所述感應(yīng)片上設(shè)有同步檢波放大器。

本發(fā)明的有益效果是：本發(fā)明通過探針與待測焊盤的連接而通電于待測線路板上的連接器，又通過導(dǎo)電的感應(yīng)片緊密接觸待測線路板的連接器使待測線路板的連接器與感應(yīng)片之間形成感應(yīng)電場，即可通過感應(yīng)電場的電場強(qiáng)度值放大處理后得到的測試值判斷連接器的焊接導(dǎo)通狀態(tài)，有效避免了原有的測試治具測試時連接器間的插接耗損以及減短了測試時間，因此相對成本較低、效率較高。

附圖說明

圖1為本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為本發(fā)明所述治具上支架的示意圖；

圖3為本發(fā)明所述治具下支架的示意圖；

圖4為本發(fā)明所述感應(yīng)片的放大示意圖。

具體實施方式

實施例：一種連接器測試治具，以使用方向為基準(zhǔn)，包括治具上支架1和與治具上支架1配合的治具下支架2，所述治具下支架2上端面固設(shè)一治具下支架探針護(hù)板3，所述治具下支架2上形成有至少一個連接器定位槽4，治具下支架探針護(hù)板3上形成有與連接器定位槽4對應(yīng)的連接器定位開口，所述治具下支架2上設(shè)有若干組探針容納孔，所述探針容納孔的數(shù)量組與連接器定位槽4的個數(shù)對應(yīng)相同，所述治具下支架探針護(hù)板上設(shè)有與所述探針容納孔相對應(yīng)的探針保護(hù)孔，所述的每組探針容納孔與線路板上連接器焊接線路所引出的待測焊盤相對應(yīng)，所述探針容納孔內(nèi)固設(shè)有探針5，探針5上部伸出探針容納孔且容置于探針保護(hù)孔中，所述探針5與外界電測機(jī)電連接；所述治具上支架1上形成有與連接器定位槽4相同數(shù)量的感應(yīng)片定位槽6，感應(yīng)片7定位于感應(yīng)片定位槽6靠近治具下支架2的一側(cè)，所述感應(yīng)片7與外界電測機(jī)電連接；所述感應(yīng)片定位槽6與連接器定位槽4配合對位。

還包括有上支架連接接口11、下支架連接接口12和導(dǎo)線，所述探針5與外界電測機(jī)電連接的結(jié)構(gòu)是：所述治具下支架2上固定定位有下支架連接接口12，所述探針5通過導(dǎo)線和下支架連接接口12相連接，下支架連接接口12與外界電測機(jī)電連接；所述感應(yīng)片7與外界電測機(jī)電連接的結(jié)構(gòu)是：所述治具上支架1上固定定位有上支架連接接口11，所述感應(yīng)片7通過導(dǎo)線和上支架連接接口11相連接，上支架連接接口11與外界電測機(jī)電連接。

所述感應(yīng)片上設(shè)有同步檢波放大器17。

本發(fā)明的測試原理是：探針5和感應(yīng)片7與外界電測機(jī)電連接，將待測線路板上的連接器定位放置于治具下支架探針護(hù)板3的連接器定位槽4上，將線路板上連接器焊接線路所引出的待測焊盤對位置于連接器探針保護(hù)孔上使各待測焊盤與對應(yīng)探針5連接，治具下支架2下移至感應(yīng)片7緊密接觸待測線路板的連接器，待測線路板的連接器與感應(yīng)片7之間形成感應(yīng)電場，通過該感應(yīng)電場的電場強(qiáng)度值放大處理后得到的測試值判斷連接器的焊接導(dǎo)通狀態(tài)。當(dāng)正常測試時，如果被測線路板上的連接器的引腳有與其它焊點短路，則測試到的值會偏高；如果被測引腳有空焊，則測試到的值會偏小。