[發明專利]磁模擬器中雙磁強計對準方法無效
| 申請號： | 200910024486.1 | 申請日： | 2009-02-24 |
| 公開（公告）號： | CN101488035A | 公開（公告）日： | 2009-07-22 |
| 發明（設計）人： | 華冰;郁豐;熊智;程月華;康國華;沈萍 | 申請（專利權）人： | 南京航空航天大學 |
| 主分類號： | G05F7/00 | 分類號： | G05F7/00;G01R33/02 |
| 代理公司： | 南京經緯專利商標代理有限公司 | 代理人： | 魏學成 |
| 地址： | 210016江*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 模擬器 磁強計 對準 方法 | ||
1.一種磁模擬器中雙磁強計對準方法，該對準方法采用的磁模擬器包括計算機系統、恒流源系統、無磁轉臺、待測磁強計和檢測磁強計，其特征在于該對準方法包括如下步驟：
a)采用磁模擬器標定恒流源系統輸出待測電流矢量I2到檢測磁強計磁場測量值B1的系數轉換矩陣N1、恒流源系統輸出待測電流矢量I2到待測磁強計磁場測量值B2的系數轉換矩陣N2和待測磁強計常值偏置b2；
b)采用用戶計算機輸出磁場強度指令即待測磁強計磁場測量值B2至磁模擬器的計算機系統得到檢測磁強計的磁場矢量標值：
c)將步驟b所述的磁場強度指令即待測磁強計磁場測量值B2經過計算機系統輸出電流強度指令至恒流源系統，恒流源系統輸出檢測電流矢量I1；
d)采用步驟c所述的恒流源系統輸出檢測電流矢量I1和檢測電流矢量I1到檢測磁強計當地點磁場矢量H1的系數轉換矩陣M12得到檢測磁強計當地點下的磁場矢量H1：H1＝M12I1，檢測磁強計將檢測磁強計當地點下的磁場矢量H1輸出至計算機系統；
e)當步驟d所述的檢測磁強計當地點下的磁場矢量H1與步驟b所述的計算機系統得到的檢測磁強計的磁場矢量標值H之差不在設定的誤差范圍內，則返回步驟c；
f)當步驟d所述的檢測磁強計當地點下的磁場矢量H1與步驟b所述的計算機系統得到的檢測磁強計的磁場矢量標值H之差在設定的誤差范圍內，則進入步驟g；
g)檢測電流矢量I1等于待測電流矢量I2，待測磁強計磁場測量值B2＝N2I2+b2+e2。
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