[發明專利]一種基于電荷耦合器件的太陽能光譜輻射測量儀

無效

• 申請號: 200910023123.6
• 申請日: 2009-07-07
• 公開（公告）號: CN101943603A
• 公開（公告）日: 2011-01-12
• 發明（設計）人: 韋守良
• 申請（專利權）人: 韋守良
• 主分類號: G01J3/28
• 分類號: G01J3/28;G01J1/42
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種基于電荷耦合器件的太陽能光譜輻射測量儀，主要包括：包括三個大部分：光學部分；數據采集部分；數據處理部分，其中光源、光路系統和多色儀構成光學部分；線陣電荷耦合器件及其驅動電路和A/D轉換是數據采集部分；單片機系統及其外圍設備構成數據處理部分，其特征是：太陽入射光經過光路系統中的余弦校正器、濾色片、光闌、透鏡后，在多色儀入射狹縫上得到太陽光的象，然后經過光柵分光后投射在電荷耦合器件陣列上，通過電荷耦合器件陣列實現光電轉換，并由A/D變換輸出數字量，交由單片機系統處理，再由計算機顯示光譜圖和計算結果。

2.根據權利要求1所述的一種基于電荷耦合器件的太陽能光譜輻射測量儀，其特征是：光路系統中首先設置一個的余弦校正器，形成二次光源，避免入射輻射方向的變化引起電荷耦合器件對應波長位置的變化。

3.根據權利要求1所述的一種基于電荷耦合器件的太陽能光譜輻射測量儀，其特征是：光路系統中，在余弦校正器后設置一個濾色片，消除紫外的二級光譜對可見光測量值的影響。