[發明專利]用于陰影校正的裝置和方法

有效

• 申請號: 200910009922.8
• 申請日: 2009-01-22
• 公開（公告）號: CN101789121A
• 公開（公告）日: 2010-07-28
• 發明（設計）人: 溫東超;胥立豐
• 申請（專利權）人: 佳能株式會社
• 主分類號: G06T5/00
• 分類號: G06T5/00;G06K9/36
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 11038
• 代理人: 屠長存

1.一種對在其全部或部分上具有陰影的圖像I進行陰影校正的 方法，包括以下步驟：

從圖像I檢測背景像素；

根據所檢測到的背景像素產生圖像I的光強度圖像；以及

利用該光強度圖像從圖像I去除陰影，

其中，從圖像I檢測背景像素的步驟包括：

將圖像I劃分為圖像塊；

通過對每個圖像塊應用二值化來產生與每個圖像塊對應的 二值圖像塊；

通過參考所產生的二值圖像塊對于每個圖像塊從包含在該 圖像塊的像素提取第一組背景像素；

通過向對于每個圖像塊提取的第一組背景像素應用用于計 算用于去除前景像素和噪聲像素的閾值T1和T2的等式，對每個圖像 塊確定光強度范圍［T1，T2］；以及

從包含在對每個圖像塊提取的第一組背景像素中的像素檢 測均具有在光強度范圍［T1，T2］內的光強度的第二組背景像素，作為 每個圖像塊的背景像素，

其中，根據所檢測到的背景像素產生圖像I的光強度圖像的步驟 包括：

基于檢測到的每個圖像塊的背景像素的光強度，獲取每個圖 像塊的背景光強度；以及

基于每個圖像塊的背景光強度，產生圖像I的光強度圖像。

2.一種對在其全部或部分上具有陰影的圖像I進行陰影校正的 方法，包括以下步驟：

從圖像I檢測背景像素；

根據所檢測到的背景像素產生圖像I的光強度圖像；以及

利用該光強度圖像從圖像I去除陰影，

其中，從圖像I檢測背景像素的步驟包括：

通過對圖像I應用二值化來產生二值圖像A；

將圖像I劃分為圖像塊；

通過參考二值圖像A從包含在每個圖像塊中的像素提取第 一組背景像素；

通過向對于每個圖像塊提取的第一組背景像素應用用于計 算用于去除前景像素和噪聲像素的閾值T1和T2的等式，對每個圖像 塊確定光強度范圍［T1，T2］；以及

從包含在對每個圖像塊提取的第一組背景像素中的像素檢 測均具有在光強度范圍［T1，T2］內的光強度的第二組背景像素，作為 每個圖像塊的背景像素，

其中，根據所檢測到的背景像素產生圖像I的光強度圖像的步驟 包括：

基于每個圖像塊的背景像素的光強度，獲取每個圖像塊的背 景光強度；以及

基于每個圖像塊的背景光強度，產生圖像I的光強度圖像。

3.如權利要求1或2所述的方法，其中所述確定光強度范圍［T₁， T₂］的步驟進一步包括：

對于每一圖像塊計算在所提取的各自的第一組背景像素中的光 強度均值M和光強度方差σ；

對于每一圖像塊如下計算T₁和T₂：

T₁＝M+α₁*σ

T₂＝M+α₂*σ

其中，α₁∈[-1，0]且α₂∈[0，1]。

4.如權利要求1或2所述的方法，其中根據所檢測到的背景像 素產生圖像I的光強度圖像的步驟包括：

將每一圖像塊中的所檢測到的背景像素的光強度的平均值設置 為該圖像塊的平均背景光強度；以及

由各圖像塊的平均背景光強度生成光強度圖像。

5.如權利要求4所述的方法，其中由各圖像塊的平均背景光強 度生成光強度圖像的步驟包括：

通過對各圖像塊的平均背景光強度進行上采樣，或進行上采樣并 然后進行平滑，來產生具有與圖像I相同尺寸的光強度圖像。