[發(fā)明專利]襯底加熱設(shè)備、半導體裝置制造方法以及半導體裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200910006816.4 | 申請日: | 2009-02-27 |
| 公開(公告)號: | CN101521146B | 公開(公告)日: | 2012-04-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 柴垣真果 | 申請(專利權(quán))人: | 佳能安內(nèi)華股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/00 | 分類號: | H01L21/00;H01L21/324 |
| 代理公司: | 中國國際貿(mào)易促進委員會專利商標事務(wù)所 11038 | 代理人: | 柴毅敏 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 襯底 加熱 設(shè)備 半導體 裝置 制造 方法 以及 | ||
1.一種襯底加熱設(shè)備,其包括絲極和加速電源,所述絲極布置在 真空加熱容器中并連接至絲極電源以產(chǎn)生熱電子,所述加速電源用于 使所述熱電子在所述絲極與形成所述真空加熱容器的一個表面的傳導 加熱器之間加速,以便使由所述絲極產(chǎn)生的熱電子碰撞所述傳導加熱 器并加熱所述傳導加熱器,
其中所述傳導加熱器用熱解碳涂覆,并且
其中所述傳導加熱器的內(nèi)表面和外表面中至少之一用碳化鉭 (TaC)涂覆。
2.一種半導體裝置制造方法,包括使用根據(jù)權(quán)利要求1所述的襯 底加熱設(shè)備在真空中加熱離子注入碳化硅(SiC)襯底的步驟。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,還包括在真空中的加熱過程中添 加包含硅(Si)和氫(H)中至少之一的氣體的步驟。
4.一種通過根據(jù)權(quán)利要求2所述的制造方法制造的半導體裝置。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
- 傳感設(shè)備、檢索設(shè)備和中繼設(shè)備
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