[發明專利]光傳輸模塊

有效

• 申請號: 200910005714.0
• 申請日: 2009-02-03
• 公開（公告）號: CN101504477A
• 公開（公告）日: 2009-08-12
• 發明（設計）人: 坂本朗;逆井一宏;上野修
• 申請（專利權）人: 富士施樂株式會社
• 主分類號: G02B6/42
• 分類號: G02B6/42
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司
• 代理人: 李 輝

技術領域

本發明涉及一種光傳輸模塊。

背景技術

在諸如光通信或光存儲的技術領域中，用作光源的垂直腔體表面發 射型激光器(以下簡稱為VCSEL)日益受到關注。VCSEL具備邊緣發射 型半導體激光器所沒有的優異特性。例如，VCSEL具有更低的閾值電流， 能耗更小，而且VCSEL還可以排列為二維陣列。由于這些特性，在諸如 光通信或光數據處理等領域中期望將光傳輸模塊用作光源。

通常，對于使用現有技術中的VCSEL的光傳輸模塊，可以在諸如 TO-CAN的封裝中實現VCSEL，并且可以在此狀態下進行強化測試 (burn-in?test)以檢測早期故障，然后可以將該封裝安裝在光傳輸模塊中。 USP6302596公開了此種類型的光傳輸模塊的示例。

對于不能在封裝(如TO-CAN)中實現的光傳輸模塊(如陣列型收 發器)，可以將VCSEL實現在支座(submount)上，并且可以進行強化 測試，然后可以將該支座安裝到光模塊中。JP-A-2002-280653公開了此 種類型的光傳輸模塊的示例。

在多個文獻中公開了關于使用VCSEL的光傳輸模塊的一些其他技 術。JP-A-2-67832公開了一種光傳輸裝置，其中針對強化測試設置有用 于使保護串聯電阻器短路的切換元件，并且可以從殼體外部控制所述切 換元件。JP-A-4-255922公開了一種關于光盤光源的技術，其中可以對比 較確定電路的連接進行切換，以檢測調制期間的劣化和非調制期間的劣 化中的每一個。JP-A-6-504405公開了一種半導體激光二極管，其中使用 接收器的信號來執行光輸出的初始設置，并且將該設置寫入并保持在存 儲器中，從而可以分析激光二極管的操作性能的變化，并且可以進行缺 陷預測。JP-A-7-32648公開了一種關于激光二極管的調節電路的技術， 該調節電路能夠通過簡單的結構來實現良好的光軸校準和功率調節。 JP-A-2007-27322公開了一種半導體激光裝置，其中可以確定光輸出的降 低是由半導體激光裝置的劣化還是由探針的劣化造成的。

發明內容

本發明所要解決的技術問題

為了實現光傳輸模塊的較低成本，需要將VCSEL及驅動該VCSEL 的驅動電路安裝在同一封裝中。在此情況下，以使得驅動電路和VCSEL 相互電連接的方式封裝驅動電路和VCSEL。如果在此狀態下進行強化測 試，則用于強化測試的驅動電流的一部分可能泄漏到驅動電路中，不能 在精確的測試條件下測試VCSEL。此外，在將大驅動電流提供給VCSEL 以用于強化測試的情況下，如果沒有保護驅動電路以使其不受用于強化 測試的驅動電流的影響，驅動電路可能受損。

而且，為了對VCSEL進行缺陷確定，必須測量等于或小于1μA的 微小電流。如果該電流的一部分泄漏到驅動電路，則難以獲得足夠的S/N 比。結果，正常的VCSEL有時被錯誤地作為有缺陷的VCSEL而丟棄。

為了解決現有技術中的問題，本發明的目的是提供一種其中可以進 行強化測試和缺陷確定的光傳輸模塊。

技術手段

本發明的一方面提供了一種光傳輸模塊，該光傳輸模塊包括：用于 發射激光的半導體發光元件；用于向所述半導體發光元件提供第一驅動 電流的第一驅動單元；連接在所述半導體發光元件和所述第一驅動單元 之間的切換單元；以及用于容納所述半導體發光元件、所述第一驅動單 元和所述切換單元的封裝。所述切換單元包括接收至少從所述第一驅動 單元輸出的第一驅動電流的第一輸入、接收用于測試所述半導體發光元 件的第二驅動電流的第二輸入、以及連接到所述半導體發光元件的輸出。 所述切換單元將所述第一輸入或所述第二輸入連接到所述輸出，其中， 所述切換單元還包括接收用于確定所述半導體發光元件的缺陷的測量信 號的第三輸入，并且所述切換單元在確定所述半導體發光元件的缺陷時 將所述第三輸入連接到所述輸出。

所述光傳輸模塊還可以包括接收所述第二驅動電流的第一外部端 子，所述第二輸入可以通過所述第一外部端子而接收所述第二驅動電流。 所述光傳輸模塊還可以包括用于向所述半導體發光元件提供所述第二驅 動電流的第二驅動單元，所述第二輸入可以接收從所述第二驅動單元輸 出的所述第二驅動電流。