[發明專利]降低存儲器漏電流的方法與存儲器存取方法

無效

• 申請號: 200910004734.6
• 申請日: 2009-02-23
• 公開（公告）號: CN101814324A
• 公開（公告）日: 2010-08-25
• 發明（設計）人: 張全仁
• 申請（專利權）人: 南亞科技股份有限公司
• 主分類號: G11C29/52
• 分類號: G11C29/52
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司 31100
• 代理人: 駱希聰

技術領域

本發明是有關于一種存儲器的降低漏電流的方法，且特別有關于關閉故障存儲單元與電壓源間的路徑，以降低存儲器在待機模式下的漏電流的方法。

背景技術

為了能夠提高存儲器產品的生產良率，以降低生產成本，目前的存儲器已具有修補功能。當主存儲器的某些主存儲單元(memory?cell)損壞時，可利用備用存儲器(redundant?memory)中的備用存儲單元來修補。

在現有的具有修補功能的存儲器中，通常會記錄所測得的損壞主存儲單元所對應的地址，然后再以激光方式來熔斷熔絲(fuse)。如此，備用存儲器中的備用存儲單元可以取代主存儲器中的故障主存儲單元。也就是說，資料不再讀出/寫入于故障主存儲單元，而是讀出/寫入于備用存儲單元。

但是，即使經過修補，故障的主存儲單元在待機模式(standby?mode)下，仍然會出現漏電流(1eakage?current)。這是因為，在存儲器的實際布局上，位元線的位置非常鄰近于字元線。所以，如果位元線與字元線之間有短路的話，會造成漏電流出現。

也就是說，即使故障主存儲單元已被備用存儲單元所取代，以維持存儲器正常運作，但漏電流的情況并未隨著改善。此漏電流所造成的功率消耗或許在存儲器正常操作下微不足道。但當存儲器在待機模式下，此漏電流所造成的功率消耗最好能被降低，以避免存儲器在待機模式下產生不必要的功率損耗。

發明內容

本發明提供一種降低存儲器漏電流的方法。找出損壞存儲單元所對應的地址后，切斷損壞存儲單元與預充電電壓源間的電流路徑。如此一來，損壞存儲單元就不會有漏電流的情況出現。

本發明一范例提供一種降低存儲器漏電流的方法，包括：在一存儲器開機時，執行一備用欄位檢測，以找出上述存儲器的損壞存儲單元。根據備用欄位檢測結果，切斷上述損壞存儲單元與一預充電電壓源間的一電流路徑。以及當上述存儲器在預充電時，上述損壞存儲單元的位元線不會被預充電，以避免上述損壞存儲單元出現漏電流。

此外，本發明另一范例提供一種存儲器存取方法，包括：在一存儲器開機時，執行一備用欄位檢測，以找出上述存儲器的損壞存儲單元；利用上述存儲器的備用存儲單元來修補上述損壞存儲單元；根據備用欄位檢測結果，切斷上述損壞存儲單元與一預充電電壓源間的一電流路徑；以及當上述存儲器處于預充電狀態時，使得上述損壞存儲單元的位元線不會被預充電，以避免上述損壞存儲單元出現漏電流。

綜合以上所述，本發明范例利用備用欄位檢測的結果找出存儲器內損壞存儲單元，并切斷損壞存儲單元與預充電電壓源間的電流路徑。借此，即使存儲器在待機模式下，損壞存儲單元不會有漏電流的情形出現，并可降低存儲器不必要的功率損耗。

附圖說明

為讓本發明的上述目的、特征和優點能更明顯易懂，以下結合附圖對本發明的具體實施方式作詳細說明，其中：

圖1為根據本發明實施例的降低漏電流的電路示意圖。

主要元件符號說明：

100：存儲器

110：熔絲煉盒

120：修補單元

130：定址單元

131：閂鎖器

140：主存儲器

150：備用存儲器

141、141’：限流單元

142、142’：等位電路

142a、142b、142c、142a’、142b’及142c’：等位電路開關

143、143’：字元線開關

144、144’：存儲單元

WL：字元線

CSLeq(n)：等效欄位選擇線

P：比對信號

BL：位元線

互補位元線

VBLEQ：參考電壓

EQL：等位電路信號

CA：欄地址

FI：熔絲信息

D：資料

具體實施方式

以下的敘述將伴隨著實施例的圖示，來詳細對本發明所提出的實施例進行說明。在各圖示中所使用相同或相似的參考標號，是用來敘述相同或相似的部份。

在本發明實施例中，在開機時，會檢查相關于損壞存儲單元的欄地址，以確認哪些存儲單元為損壞。接著，切斷損壞存儲單元與電壓源間的電流路徑，使得其相關位元線不再被預充電。因而，可避免在待機狀態下與存儲器正常操作下的漏電流的出現。