[發明專利]調整接觸式影像傳感器模塊使用光源尺寸的方法

有效

• 申請號: 200910004223.4
• 申請日: 2009-02-12
• 公開（公告）號: CN101808178A
• 公開（公告）日: 2010-08-18
• 發明（設計）人: 許書誠;羅文安
• 申請（專利權）人: 亞泰影像科技股份有限公司
• 主分類號: H04N1/028
• 分類號: H04N1/028;G01J1/02
• 代理公司: 上海翼勝專利商標事務所(普通合伙) 31218
• 代理人: 翟羽

技術領域

本發明是有關于一種調整接觸式影像傳感器模塊的方法，且特別是一種 調整接觸式影像傳感器模塊使用光源尺寸的方法。

背景技術

隨著光學技術的日益月新，接觸式影像傳感器模塊(Contact?Image?Sensor? Module，CISM)，是光電產品中常見的一種影像傳感器。傳統的接觸式影像傳 感器模塊主要由發光二極管(Light?emitting?diode，LED)數組、光學透鏡、光學 傳感器組成。當執行掃描任務時，發光二極管產生的光束照射到待掃描物上 并被反射，反射光經由光學透鏡聚焦到與掃描幅面等寬的光學傳感器上，由 光學傳感器將感測的光線強度轉化為模擬電信號，經模擬數字轉換器 (Analog-to-digital?converter，A/D?converter)轉換成數字信號的形式輸出后，再 經處理后即可形成被掃描物的完整圖像信息。

由于接觸式影像傳感器模塊具有低功耗、體積小、重量小、曝光時間短 以及無需預熱等特點，使其在高速影像輸入和攜帶型影像掃描設備中得到了 廣泛應用。迄今，接觸式影像傳感器模塊甚至已整合在包含掃描儀、傳真機 及復印機等功能的多功能事務機(MFP，Multi?Function?Printer)中，更是構成 復印、掃描、傳真等功能的主要信息的輸入設備。

由于產業分工的緣故，接觸式影像傳感器模塊的制造商需要將制造完成 的成品包裝后再送至組裝多功能事務機或是其它使用接觸式影像傳感器模塊 的光學設備的廠商。而目前業界制作接觸式影像傳感器模塊之前會依照客戶 所需要的導光板尺寸，先行光均勻度模擬。接下來將仿真的圖形(Pattern) 出圖后，進行模仁加工。待加工完畢，還需量測加工成品是否如所仿真的圖 形相當。之后在模仁上安裝模具，再行上模射出，并借機調整射出機參數， 當射出機參數達95％以上圖形復制率后，再將射出的導光板(light?guide)安 裝至所設計的光源基座上。最后再組裝到接觸式影像傳感器模塊上進行實機 驗證光均勻度。直到符合所需光均勻度后，才宣告完成。換言之，如果在實 機驗證光均勻度時，制造出的接觸式影像傳感器模塊未符合所需規格時，則 廠商就必需重復模擬到組裝上實機驗證的過程，一直重復測試到達到規格為 止。這樣傳統的設計調整流程的缺點在于，整個流程一次只能設計一種尺寸， 如客戶臨時需求其它尺寸的接觸式影像傳感器模塊，其制作制程需從模擬射 出驗證重新開始。除此之外，廠商必須購置相關光學仿真軟件(例如：traspro? light?tool...等軟件)以及標準光輝度量測儀等硬設備，再加上模具開模的成本， 這導致相關開發所需設備成本高昂。如要自行投入開發接觸式影像傳感器模 塊光源的費用，不僅費用較高，且開發制程繁瑣還要花費較多時間。因此如 何避免此問題的產生，是一個急待解決的問題。

發明內容

有鑒于此，本發明的目的是開發一種成本低廉且流程簡單快速的調整接 觸式影像傳感器模塊使用光源尺寸的方法，以解決先前技術的問題。

本發明是提供一種調整接觸式影像傳感器模塊使用光源尺寸的方法，其 包含以下步驟：

(a)依據需求尺寸將光源裁切，以便于收容于接觸式影像傳感器模塊的基 架內；

(b)量測裁切后該光源的光均勻度值；

(c)依據量測后的光均勻度值以及預設光均勻度，計算出擴散片的透光率 以及長度；

(d)將該擴散片黏貼在該接觸式影像傳感器模塊上，并對齊該光源末端的 基架的擋墻；

(e)量測已黏貼該擴散片的該接觸式影像傳感器模塊的光均勻度；以及

(f)在步驟(e)之后，當測出的光均勻度不符該預設光均勻度，調整該擴散 片的透光率。

依據本發明實施例，其中計算該擴散片透光率的步驟包含：選取該光源 的未裁切側的平均最大光均勻度值，選取該光源的裁切側的最大光均勻度值， 以及依據該光源未裁切側的平均最大光均勻度值以及該光源裁切側的最大光 均勻度值決定該擴散片的透光率。

依據本發明實施例，其中計算該擴散片長度的步驟包含：選取略大于該 光源的未裁切側的平均最大光均勻度值以及該光源的裁切側的最大光均勻度 值之間的區域做為參考區域，以及將該參考區域內的像素個數與單一像素長 度的乘積作為該擴散片的長度。

為讓本發明的上述內容能更明顯易懂，下文特舉一較佳實施例，并配合 所附圖式，作詳細說明如下：

附圖說明