[發明專利]確定網絡分析儀電磁延遲、測量高頻電路阻抗的方法

有效

• 申請號: 200910001134.4
• 申請日: 2009-01-23
• 公開（公告）號: CN101464482A
• 公開（公告）日: 2009-06-24
• 發明（設計）人: 王國濤
• 申請（專利權）人: 青島海信移動通信技術股份有限公司
• 主分類號: G01R27/04
• 分類號: G01R27/04;G01R27/06
• 代理公司: 北京同達信恒知識產權代理有限公司
• 代理人: 李 娟

1.一種網絡分析儀電磁延遲確定方法，其特征在于，包括：

對網絡分析儀校準后，測量第一反射系數和第二反射系數；

所述第一反射系數為所述網絡分析儀通過接入到高頻電路的探針對所述高頻電路進行測量獲得的；所述第二反射系數為對所述高頻電路串聯電感后，所述網絡分析儀通過探針對串聯電感后的電路進行測量獲得的；

根據所述電感的值，以及獲得的第一反射系數和第二反射系數，確定網絡分析儀的電磁延遲；

其中：

所述根據所述電感的值，以及獲得的第一反射系數和第二反射系數，確定網絡分析儀的電磁延遲，具體為：

根據如下第一公式計算出無損傳輸線ζ₁和無損傳輸線ζ₂后，根據ζ₁、ζ₂確定所述電磁延遲：

Γ2=Γ1e-j2βζ1+(jπfL/z0)*(1-Γ1e-j2βζ1)1+(jπfL/z0)*(1-Γ1e-j2βζ1)e-j2βζ2]]>

其中，z₀是特征阻抗，π為圓周率，f為電磁波頻率，L為所述電感的值；β＝2π/λ_p，λ_p為傳輸線中電磁波波長；Γ₁、Γ₂分別為所述第一反射系數和第二反射系數；電磁延遲τ＝-ζ₂；

或者

所述根據所述電感的值，以及獲得的第一反射系數和第二反射系數，確定網絡分析儀的電磁延遲，具體包括：

通過史密斯Simth圓圖工具顯示所述第一反射系數和第二反射系數；

在所述第一反射系數的基礎上通過所述Simth圓圖工具依次增加無損傳輸線ζ₁、所述電感以及無損傳輸線ζ₂后得到第三反射系數；

調整ζ₁、ζ₂，直至所述第三反射系數與所述第二反射系數重合；

電磁延遲τ＝-ζ₂。