[發明專利]透鏡筒和成像裝置無效
| 申請號: | 200910000550.2 | 申請日: | 2009-01-15 |
| 公開(公告)號: | CN101487919A | 公開(公告)日: | 2009-07-22 |
| 發明(設計)人: | 阿部兼太郎;武井智哉 | 申請(專利權)人: | 索尼株式會社 |
| 主分類號: | G02B7/04 | 分類號: | G02B7/04;G01B7/00;G01B11/00;H04N5/225 |
| 代理公司: | 北京東方億思知識產權代理有限責任公司 | 代理人: | 宋 鶴;南 霆 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 透鏡 成像 裝置 | ||
1.一種透鏡筒,包括:
成像光學系統;
筒體,其被構造為容納所述成像光學系統;
保持器,其被構造為以使透鏡可沿著所述成像光學系統的光軸的方向移動的方式將包括在所述成像光學系統中的所述透鏡保持在所述筒體中;
傳感器單元,其被構造為輸出周期性的檢測信號,所述檢測信號的峰值根據所述保持器的移動量而變化;
存儲單元,其被構造為預先存儲所述檢測信號的峰值與所述保持器在所述光軸的方向上的位置之間的關系;以及
演算處理器,其被構造為基于存儲在所述存儲單元中的所述關系,根據在所述保持器移動時由所述傳感器單元檢測到的檢測信號的峰值,來計算所述保持器在所述光軸的方向上的位置,
其中,所述傳感器單元包括:
發光元件,其設置在所述筒體和所述保持器中的一者上,并用于位置檢測;
光感應的位置檢測元件,其設置在所述筒體和所述保持器中的另一者上,以與所述發光元件相對,并輸出所述檢測信號;以及
光學直線標尺,其布置在所述發光元件與所述位置檢測元件之間,并且通過改變從所述發光元件入射在所述位置檢測元件上的光來使得所述檢測信號根據所述保持器的所述移動量而周期性地變化,并使得所述檢測信號的所述峰值以根據所述保持器沿著所述光軸的方向的移動量而減小或增大的方式變化,其中
所述光學直線標尺包括:
縫隙板,其設置在所述發光元件附近以沿著所述光軸的方向延伸;
多個縫隙,其以與所述檢測信號的周期相當的間隔形成在所述縫隙板中,以使得所述檢測信號周期性地變化;
測量板,其設置在所述位置檢測元件附近以沿著所述光軸的方向延伸;
透射縫隙,其形成在所述測量板中,并將已經穿過所述縫隙板的所述縫隙的光引導至所述位置檢測元件;以及
濾光器,其設置在所述縫隙板與所述測量板之間以沿著所述光軸的方向延伸,并使得所述檢測信號的所述峰值以根據所述保持器沿著所述光軸的方向的移動量而減小或增大的方式變化。
2.根據權利要求1所述的透鏡筒,其中
所述濾光器的光透射量沿著所述濾光器的延伸方向從所述濾光器的一端朝向另一端減小或增大。
3.一種成像裝置,其包括透鏡筒,所述透鏡筒包括:
成像光學系統;
筒體,其被構造為容納所述成像光學系統;
保持器,其被構造為以使透鏡可沿著所述成像光學系統的光軸的方向移動的方式將包括在所述成像光學系統中的所述透鏡保持在所述筒體中;
傳感器單元,其被構造為輸出周期性的檢測信號,所述檢測信號的峰值根據所述保持器的移動量而變化;
存儲單元,其被構造為預先存儲所述檢測信號的峰值與所述保持器在所述光軸的方向上的位置之間的關系;以及
演算處理器,其被構造為基于存儲在所述存儲單元中的所述關系,根據在所述保持器移動時由所述傳感器單元檢測到的檢測信號的峰值,來計算所述保持器在所述光軸的方向上的位置,
其中,所述傳感器單元包括:
發光元件,其設置在所述筒體和所述保持器中的一者上,并用于位置檢測;
光感應的位置檢測元件,其設置在所述筒體和所述保持器中的另一者上,以與所述發光元件相對,并輸出所述檢測信號;以及
光學直線標尺,其布置在所述發光元件與所述位置檢測元件之間,并且通過改變從所述發光元件入射在所述位置檢測元件上的光來使得所述檢測信號根據所述保持器的所述移動量而周期性地變化,并使得所述檢測信號的所述峰值以根據所述保持器沿著所述光軸的方向的移動量而減小或增大的方式變化,其中
所述光學直線標尺包括:
縫隙板,其設置在所述發光元件附近以沿著所述光軸的方向延伸;
多個縫隙,其以與所述檢測信號的周期相當的間隔形成在所述縫隙板中,以使得所述檢測信號周期性地變化;
測量板,其設置在所述位置檢測元件附近以沿著所述光軸的方向延伸;
透射縫隙,其形成在所述測量板中,并將已經穿過所述縫隙板的所述縫隙的光引導至所述位置檢測元件;以及
濾光器,其設置在所述縫隙板與所述測量板之間以沿著所述光軸的方向延伸,并使得所述檢測信號的所述峰值以根據所述保持器沿著所述光軸的方向的移動量而減小或增大的方式變化。
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