[發(fā)明專利]用于對光學混濁介質的內部成像的方法和設備無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200880114925.1 | 申請日: | 2008-11-03 |
| 公開(公告)號: | CN101848671A | 公開(公告)日: | 2010-09-29 |
| 發(fā)明(設計)人: | L·P·巴克;M·C·范比克;M·B·范德馬克 | 申請(專利權)人: | 皇家飛利浦電子股份有限公司 |
| 主分類號: | A61B5/00 | 分類號: | A61B5/00;G01N21/64 |
| 代理公司: | 中國專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 劉鵬;譚祐祥 |
| 地址: | 荷蘭艾*** | 國省代碼: | 荷蘭;NL |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 光學 混濁 介質 內部 成像 方法 設備 | ||
1.一種用于對混濁介質(40)的內部成像的方法,包括以下步驟:
-將來自光源(35)的照射光耦合(5)到混濁介質(40)內;
-在相對于混濁介質(40)的至少一個收集位置(65)處收集(10)從混濁介質(40)發(fā)出的檢測光,所述檢測光作為將照射光耦合(5)到混濁介質(40)內的結果而從混濁介質(40)發(fā)出;
-同時測量收集的檢測光的至少第一特性和第二特性,所述收集的檢測光在單個收集位置(65)處被收集;
-獲取測量的特性的第一線性組合與測量的特性的第二線性組合的比值(25)。
2.如權利要求1所述的方法,其中:
-所述檢測光包含以相互基本上不同的波長范圍為特征的至少第一光成分和第二光成分;
-所述第一特性為第一光成分的特性;
-該方法包括以下附加步驟:在測量步驟之前使用第一成分分離器從收集的收集光中使得第一光成分的至少一部分單獨可用。
3.一種用于對混濁介質(40)的內部成像的方法,包括以下步驟:
-將來自光源(35)的照射光耦合(5)到混濁介質(40)內;
-在相對于混濁介質(40)的至少一個收集位置(65)處收集(10)從混濁介質(40)發(fā)出的檢測光,所述檢測光作為將照射光耦合(5)到混濁介質(40)內的結果而從混濁介質(40)發(fā)出并且所述檢測光包含第一光成分和第二光成分;
-使用成分分離器(80)從單個收集位置(65)處收集的檢測光中使得第一光成分和第二光成分單獨可用(15);
-使用檢測單元(110)同時檢測(20)第一光成分和第二光成分的強度;
-獲取第一光成分和第二光成分的檢測的強度的第一線性組合與第一光成分和第二光成分的檢測的強度的第二線性組合的比值(25)。
4.如權利要求3所述的方法,其中第一光成分包括具有被選擇用于激發(fā)混濁介質(40)中包含的熒光劑的波長的激發(fā)光并且其中第二光成分包括作為利用激發(fā)光激發(fā)熒光劑的結果而由熒光劑產(chǎn)生的熒光。
5.一種用于對混濁介質(40)的內部成像的設備(30,125),包括:
-光源(35),其用于產(chǎn)生要耦合到混濁介質(40)內的光;
-收集位置(65),其用于收集作為將來自光源(35)的光耦合(5)到混濁介質(40)內的結果而從混濁介質(40)發(fā)出的檢測光;
-測量單元(110),其用于同時測量收集的檢測光的至少第一特性和第二特性;
-處理單元(115),其用于獲取測量的特性的第一線性組合與檢測的特性的第二線性組合的比值。
6.一種用于對混濁介質(40)的內部成像的設備(30,125),包括:
-光源(35),其用于產(chǎn)生要耦合到混濁介質(40)內的光;
-收集位置,其用于收集作為將來自光源(35)的光耦合(5)到混濁介質(40)內的結果而從混濁介質(40)發(fā)出的檢測光;
-成分分離器(80),其用于使得第一光成分和第二光成分單獨可用(15),所述第一光成分和第二光成分初始時包含在相對于混濁介質(40)的單個收集位置(65)處收集的檢測光中;
-檢測單元(110),其用于檢測(20)第一光成分和第二光成分的強度;
-處理單元(115),其用于獲取第一光成分和第二光成分的檢測的強度的第一線性組合與第一光成分和第二光成分的檢測的強度的第二線性組合的比值(25)。
7.如權利要求6所述的設備(30,125),其中該設備(30,125)為用于對混濁介質(40)的內部成像的醫(yī)療圖像采集設備(125)。
8.如權利要求6-7所述的設備(30,125),其中第一光成分和第二光成分以相互不同的波長范圍為特征,并且其中成分分離器(80)被設置用于依照波長使得第一光成分和第二光成分單獨可用。
9.如權利要求6-8所述的設備(30,125),其中成分分離器(80)包括一定組中包括的元件中的至少一個,該組包括:二向色鏡、透射光柵和棱鏡。
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