[發明專利]用于半導體晶片與裝置的具有阻擋層的鎳錫接合體系有效
| 申請號: | 200880111927.5 | 申請日: | 2008-08-12 |
| 公開(公告)號: | CN101828274A | 公開(公告)日: | 2010-09-08 |
| 發明(設計)人: | 馬修·德奧諾費奧;大衛·B·斯雷特;約翰·A·埃德蒙德;華雙·孔 | 申請(專利權)人: | 科里公司 |
| 主分類號: | H01L33/00 | 分類號: | H01L33/00;H01L23/492 |
| 代理公司: | 北京林達劉知識產權代理事務所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 劉新宇;李茂家 |
| 地址: | 美國北卡*** | 國省代碼: | 美國;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 半導體 晶片 裝置 具有 阻擋 接合 體系 | ||
1.一種發光二極管結構,其包括:
由外延層形成的發光激活部;
用于支承所述發光激活部的載體基底;
以鎳和錫為主的接合金屬體系,其將所述發光激活部連接 至所述載體基底,其中所述接合金屬體系以小于50重量%的量 包含金;和
至少一個與所述接合金屬體系相鄰的阻擋層,所述阻擋層 包含足以基本上防止所述接合金屬體系中的錫遷移通過所述阻 擋層的厚度的鉑。
2.根據權利要求1所述的發光二極管結構,其中所述阻擋 層能夠形成在240℃至350℃之間的溫度范圍內是熱穩定的與錫 的金屬間化合物。
3.根據權利要求1所述的發光二極管結構,其進一步包括 至少一個在所述發光激活部與所述阻擋層之間的鈦粘附層。
4.根據權利要求3所述的發光二極管結構,其中所述鈦粘 附層包括鈦。
5.根據權利要求1所述的發光二極管結構,其中所述接合 金屬體系包括大于85重量%的鎳和錫的金屬合金。
6.根據權利要求1所述的發光二極管結構,其中所述接合 金屬體系為以小于20重量%的量包含金的金屬合金。
7.根據權利要求1所述的發光二極管結構,其中所述發光 激活部由第III族氮化物材料體系形成。
8.根據權利要求4所述的發光二極管結構,其進一步包括:
在所述接合金屬體系與所述載體基底之間的第二鈦粘附 層;和
在所述鈦粘附層與所述接合金屬體系之間的第二鉑阻擋 層。
9.根據權利要求4所述的發光二極管結構,其中:
所述發光激活部由至少兩個第III族氮化物的外延層形成;
在所述發光激活部與所述載體基底之間的所述接合金屬體 系包括在兩個鎳外層之間的錫中間層,其中錫的相對量大于通 過與任一單一鎳層反應消耗的量,但是小于提供超過兩個鎳層 的功能性反應的錫的量。
10.根據權利要求1或權利要求9所述的發光二極管結構, 其中所述外延層包括氮化鎵。
11.根據權利要求1或權利要求9所述的發光二極管結構, 其中所述載體基底選自由鋁、銅、硅和碳化硅組成的組。
12.根據權利要求9所述的發光二極管結構,其中所述錫層 的厚度在任一所述鎳層厚度的5至10倍之間。
13.根據權利要求9所述的發光二極管結構,所述發光二極 管結構進一步包括在所述載體基底與所述接合金屬體系之間的 第二鈦層。
14.根據權利要求13所述的發光二極管結構,其進一步包 括在所述第二鈦層與所述接合金屬體系之間的第二鉑層。
15.根據權利要求1或權利要求9所述的發光二極管結構, 其中所述接合金屬體系為小于6微米厚。
16.根據權利要求1或權利要求9所述的發光二極管結構, 其中所述接合金屬體系為小于3微米厚。
17.一種發光二極管用前體結構,所述前體結構包括:
連接在一起的生長結構和載體結構;
所述生長結構包括生長基底、在所述生長基底上的發光外 延層和在所述發光外延層上用于連接至所述載體結構的接合金 屬體系;
所述生長結構的接合金屬體系主要由鎳層和錫層形成,其 中鈦粘附層在所述鎳層與所述發光外延層之間和鉑阻擋層在所 述鈦粘附層與所述鎳層之間;和
所述載體結構包括載體基底、在所述載體基底上的第二鈦 粘附層、在所述第二鈦層上的第二鉑阻擋層和在所述第二鉑阻 擋層上用于連接至所述生長結構的鎳層;
以致當將在所述生長結構上的所述接合金屬體系與在所述 載體結構上的所述鎳層連接并加熱時,所述各個鉑阻擋層防止 錫遷移至任一所述鈦粘附層中或者遷移通過任一所述鈦粘附 層。
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