[發(fā)明專利]用于觀察樣本表面的設(shè)備有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200880108521.1 | 申請日： | 2008-09-23 |
| 公開（公告）號： | CN101809431A | 公開（公告）日： | 2010-08-18 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | S·瓦德曼 | 申請（專利權(quán)）人： | 皇家飛利浦電子股份有限公司 |
| 主分類號： | G01N21/55 | 分類號： | G01N21/55;A61B5/103;G01B11/30 |
| 代理公司： | 中國專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 周紅力;譚祐祥 |
| 地址： | 荷蘭艾*** | 國省代碼： | 荷蘭;NL |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 用于 觀察 樣本 表面 設(shè)備 | ||
1.一種用于觀察半透明材料樣本(1)的可變形表面(2)的外 觀的設(shè)備，該設(shè)備包括：用于從預(yù)定方向照射樣本(1)的可變形表 面(2)的感興趣區(qū)域(16)和感興趣區(qū)域(16)的周圍區(qū)域的光源 (11)和用于觀察對照射感興趣區(qū)域(16)的響應(yīng)的裝置(14)，其 中半透明板(41)放置在可變形表面(2)上，該板具有與感興趣區(qū) 域(16)一致的開口，其中被照射區(qū)域的尺寸比感興趣區(qū)域(16)的 尺寸大于在樣本(1)中滲透的光的消光長度的至少兩倍。
2.如權(quán)利要求1所述的設(shè)備，其中半透明板(41)包括：發(fā)光和 顏色標(biāo)準(zhǔn)以及比例尺。
3.如前述權(quán)利要求中任一項所述的設(shè)備，進(jìn)一步包括：用于調(diào)節(jié) 光源(11)的位置以從不同預(yù)定方向照射樣本(1)的可變形表面(2) 的裝置。
4.如權(quán)利要求1所述的設(shè)備，進(jìn)一步包括：光學(xué)聚焦裝置，用 于確定觀察裝置(14)是否聚焦在感興趣區(qū)域(16)的至少一部分可 變形表面(2)上。
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- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段，即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā)，因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng)，測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
