[發(fā)明專利]流路中流動(dòng)的樣本的光學(xué)特性測(cè)量裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200880101132.6 | 申請(qǐng)日: | 2008-06-03 |
| 公開(公告)號(hào): | CN101765765A | 公開(公告)日: | 2010-06-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 巖井秀直;山內(nèi)豐彥 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 浜松光子學(xué)株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào): | G01N21/45 | 分類號(hào): | G01N21/45;G01B9/02 |
| 代理公司: | 北京尚誠(chéng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11322 | 代理人: | 龍淳 |
| 地址: | 日本*** | 國(guó)省代碼: | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 流路中 流動(dòng) 樣本 光學(xué) 特性 測(cè)量 裝置 | ||
1.一種光學(xué)特性測(cè)量裝置,其特征在于,
是利用光的干涉來(lái)測(cè)量流路中的樣本的光學(xué)特性的光學(xué)特性測(cè)量 裝置,
具備:
光源部,其輸出光;
第1光耦合器,其將從所述光源部輸出的光調(diào)制成2個(gè)分支并作 為第1分支光以及第2分支光輸出;
第2光耦合器,其輸入從所述第1光耦合器輸出并經(jīng)過(guò)第1分支 光路的第1分支光,并輸入從所述第1光耦合器輸出并在經(jīng)過(guò)第2分 支光路的同時(shí)通過(guò)該第2分支光路上的所述流路的第2分支光,并且 使這些輸入的第1分支光以及第2分支光干涉并輸出該干涉光;
相位調(diào)制部,其被設(shè)置于所述第1光耦合器與所述第2光耦合器 之間的所述第1分支光路以及所述第2分支光路中的任意的光路上, 并以頻率f對(duì)在該光路上傳播的光進(jìn)行相位調(diào)制;
光程長(zhǎng)度差調(diào)整部,其對(duì)所述第1光耦合器與所述第2光耦合器 之間的所述第1分支光路以及所述第2分支光路的各自的光程長(zhǎng)度的 差進(jìn)行調(diào)整;
受光部,接收從所述第2光耦合器輸出的干涉光并輸出對(duì)應(yīng)于該 受光強(qiáng)度的值的電信號(hào);
同步檢測(cè)部,其輸入從所述受光部輸出的電信號(hào),并在輸出對(duì)應(yīng) 于該電信號(hào)中所含的頻率f的成分的大小的值的第1信號(hào)的同時(shí),輸出 對(duì)應(yīng)于該電信號(hào)中所含的頻率2f的成分的大小的值的第2信號(hào);
控制部,其以根據(jù)從所述同步檢測(cè)部輸出的第1信號(hào)或者第2信 號(hào)而使被所述光程長(zhǎng)度差調(diào)整部調(diào)整的光程長(zhǎng)度差為規(guī)定值的方式進(jìn) 行控制,使由于環(huán)境變動(dòng)而引起的光程長(zhǎng)度差的變動(dòng)頻率透過(guò)、并且 經(jīng)由低通濾波器來(lái)進(jìn)行,其中,該低通濾波器截?cái)喟殡S著樣本通 過(guò)的信號(hào)的頻率;以及
測(cè)量部,其根據(jù)從所述同步檢測(cè)部輸出的第1信號(hào)以及第2信號(hào), 測(cè)量所述流路中的樣本的光學(xué)特性。
2.一種光學(xué)特性測(cè)量裝置,其特征在于,
是利用光的干涉來(lái)測(cè)量流路中的樣本的光學(xué)特性的光學(xué)特性測(cè)量 裝置,
具備:
光源部,其輸出光;
第1光耦合器,其將從所述光源部輸出的光調(diào)制成2個(gè)分支并作 為第1分支光以及第2分支光輸出;
第2光耦合器,其輸入從所述第1光耦合器輸出并經(jīng)過(guò)第1分支 光路的第1分支光,并輸入從所述第1光耦合器輸出并在經(jīng)過(guò)第2分 支光路的同時(shí)通過(guò)該第2分支光路上的所述流路的第2分支光,并且 使這些輸入的第1分支光以及第2分支光干涉并輸出該干涉光;
相位調(diào)制部,其被設(shè)置于所述第1光耦合器與所述第2光耦合器 之間的所述第1分支光路以及所述第2分支光路中的任意的光路上, 并以頻率f對(duì)在該光路上傳播的光進(jìn)行相位調(diào)制;
光程長(zhǎng)度差調(diào)整部,其對(duì)所述第1光耦合器與所述第2光耦合器 之間的所述第1分支光路以及所述第2分支光路的各自的光程長(zhǎng)度的 差進(jìn)行調(diào)整;
第1受光部,選擇性地接收從所述第2光耦合器輸出的干涉光中 的0次光,并輸出對(duì)應(yīng)于該受光強(qiáng)度的值的第1電信號(hào);
第2受光部,選擇性地接收從所述第2光耦合器輸出的干涉光中 的高次光,并輸出對(duì)應(yīng)于該受光強(qiáng)度的值的第2電信號(hào);
第1同步檢測(cè)部,其輸入從所述第1受光部輸出的第1電信號(hào), 并輸出對(duì)應(yīng)于該第1電信號(hào)中所含的頻率f的成分的大小的值的第1 信號(hào),或者輸出對(duì)應(yīng)于該第1電信號(hào)中所含的頻率2f的成分的大小的 值的第2信號(hào);
第2同步檢測(cè)部,其輸入從所述第2受光部輸出的第2電信號(hào), 并在輸出對(duì)應(yīng)于該第2電信號(hào)中所含的頻率f的成分的大小的值的第3 信號(hào)的同時(shí),輸出對(duì)應(yīng)于該第2電信號(hào)中所含的頻率2f的成分的大小 的值的第4信號(hào);
控制部,其以根據(jù)從所述第1同步檢測(cè)部輸出的第1信號(hào)或者第2 信號(hào)而使被所述光程長(zhǎng)度差調(diào)整部調(diào)整的光程長(zhǎng)度差為規(guī)定值的方式 進(jìn)行控制;以及
測(cè)量部,其根據(jù)從所述第2同步檢測(cè)部輸出的第3信號(hào)以及第4 信號(hào),測(cè)量所述流路中的樣本的光學(xué)特性。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于浜松光子學(xué)株式會(huì)社,未經(jīng)浜松光子學(xué)株式會(huì)社許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/200880101132.6/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:帶式輸送機(jī)可更換襯面滾筒
- 下一篇:移動(dòng)硬盤的包裝盒
- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見(jiàn)光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
- 樣本引入裝置、樣本引入基片和樣本引入方法
- 樣本查找方法、裝置及系統(tǒng)
- 模型訓(xùn)練、樣本平衡方法及裝置以及個(gè)人信用評(píng)分系統(tǒng)
- 樣本輸送系統(tǒng)、樣本輸送方法以及樣本檢測(cè)系統(tǒng)
- 樣本分析裝置、樣本檢測(cè)設(shè)備及樣本檢測(cè)方法
- 樣本檢測(cè)方法、樣本檢測(cè)裝置及樣本檢測(cè)系統(tǒng)
- 樣本架、樣本混勻系統(tǒng)及樣本分析儀
- 樣本收集管及樣本收集系統(tǒng)
- 樣本數(shù)據(jù)集的擴(kuò)容方法及模型的訓(xùn)練方法
- 行人重識(shí)別的噪聲樣本識(shí)別方法、裝置、設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)





