[發明專利]光電轉換裝置及其制造方法無效
| 申請號: | 200880025511.1 | 申請日: | 2008-12-05 |
| 公開(公告)號: | CN101755340A | 公開(公告)日: | 2010-06-23 |
| 發明(設計)人: | 鶴我薰典;山口賢剛;吳屋真之;坂井智嗣 | 申請(專利權)人: | 三菱重工業株式會社 |
| 主分類號: | H01L31/04 | 分類號: | H01L31/04 |
| 代理公司: | 中原信達知識產權代理有限責任公司 11219 | 代理人: | 高培培;車文 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 光電 轉換 裝置 及其 制造 方法 | ||
1.一種光電轉換裝置,具備層疊有p層、i層、n層的光電轉換層, 其中,所述p層為以晶體硅為主、以1%以上25%以下的原子濃度含 有氮原子且所述p層的結晶率為大于0且不足3的含氮層。
2.一種光電轉換裝置,具備層疊有p層、i層、n層的光電轉換層, 其中,所述n層為以晶體硅為主、以1%以上20%以下的原子濃度含 有氮原子且所述n層的結晶率為大于0且不足3的含氮層。
3.如權利要求1或2所述的光電轉換裝置,其中,所述i層為晶 體硅。
4.一種光電轉換裝置的制造方法,包括在基板上形成層疊有p層、 i層、n層的光電轉換層的工序,其中,
所述p層形成以晶體硅為主、以1%以上25%以下的原子濃度含 有氮原子且結晶率為大于0且不足3的含氮層。
5.一種光電轉換裝置的制造方法,包括在基板上形成層疊有p層、 i層、n層的光電轉換層的工序,其中,
所述n層形成以晶體硅為主、以1%以上20%以下的原子濃度含 有氮原子且結晶率為大于0且不足3的含氮層。
6.如權利要求4或5所述的光電轉換裝置的制造方法,其中,以 30MHz以上100MHz以下的高頻頻率,通過高頻等離子CVD法形成所 述含氮層。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





