[發(fā)明專利]電化學元件用電極和使用該電極的電化學元件無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200880015758.5 | 申請日: | 2008-05-15 |
| 公開(公告)號: | CN101689628A | 公開(公告)日: | 2010-03-31 |
| 發(fā)明(設計)人: | 武澤秀治;今宿昇一;長田薰;大塚隆 | 申請(專利權)人: | 松下電器產業(yè)株式會社 |
| 主分類號: | H01M4/02 | 分類號: | H01M4/02;H01M4/36;H01M4/48;H01M4/70;H01G9/016;H01G9/058 |
| 代理公司: | 永新專利商標代理有限公司 | 代理人: | 陳建全 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 電化學 元件 用電 使用 電極 | ||
技術領域
本發(fā)明涉及充放電特性優(yōu)良的電化學元件,更詳細地說,涉及容 量維持率、高速率特性和低溫特性優(yōu)良的電化學元件用電極和使用該 電極的電化學元件。
背景技術
近年來,作為電化學元件,例如代表非水電解質二次電池的鋰離 子二次電池具有重量輕、且電動勢高、高能量密度這樣的特征而得以 廣泛應用。例如,作為手機和數(shù)碼相機、攝影機、筆記本電腦等種類 各式各樣的便攜式電子設備以及移動通信設備的驅動用電源,鋰離子 二次電池的需求正在擴大。
鋰離子二次電池的構成包括:由含鋰復合氧化物構成的正極、含 有鋰金屬、鋰合金或能夠嵌入和脫嵌鋰離子的負極活性物質的負極、 以及電解質。
而且近年來,已經報道了有關具有鋰離子的嵌入性、理論容量密 度超過833mAh/cm3的元素以代替從前作為負極材料使用的石墨等碳素 材料的研究。例如,作為理論容量密度超過833mAh/cm3的負極活性物 質的元素,有能夠與鋰合金化的硅(Si)、錫(Sn)、鍺(Ge)或它 們的氧化物以及合金等。在這些之中,Si粒子和氧化硅粒子等含硅粒 子由于價格便宜,因而被廣泛地進行了研究。
但是,這些元素在充電的情況下,在嵌入鋰離子時其體積增加。 例如,在負極活性物質為Si的情況下,在鋰離子被最大量嵌入的狀態(tài) 下以Li4.4Si表示,通過從Si向Li4.4Si發(fā)生變化,其體積增加為放電時的 4.12倍。
因此,特別在采用CVD法和濺射法等在集電體上沉積上述元素的 薄膜而形成負極活性物質的情況下,因鋰離子的嵌入和脫嵌而使負極 活性物質發(fā)生膨脹和收縮,在反復進行充放電循環(huán)的期間,存在發(fā)生 因負極活性物質和負極集電體的密合性降低所引起的剝離等的可能 性。
為解決上述問題,公開了在集電體的表面設置凹凸,在其上沉積 負極活性物質薄膜,通過侵蝕在厚度方向形成空隙的方法(例如,參 照專利文獻1)。同樣地,公開了在集電體的表面設置凹凸,形成抗蝕 劑圖案從而使該凸部位置成為開口部,在其上電沉積負極活性物質薄 膜,然后除去抗蝕劑,從而形成柱狀體的方法(例如,參照專利文獻2)。 另外,還提出了在集電體的上方配置網(wǎng)眼,通過網(wǎng)眼沉積負極活性物 質薄膜,由此使負極活性物質在相當于網(wǎng)眼的框的區(qū)域的沉積受到抑 制的方法(例如,參照專利文獻3)。
另外,還公開了在集電體的表面設置凹凸,并在其上以相對于負 極材料主面的垂直面傾斜的方式形成薄膜狀負極材料的方法(例如, 參照專利文獻4)。由此表明:因充放電的膨脹和收縮而產生的應力分 散在負極材料主面的平行方向和垂直方向上,從而可以抑制皺褶和剝 離的發(fā)生。
而且,專利文獻1至專利文獻3所示的二次電池的構成是:將負極 活性物質的薄膜形成為柱狀,在各個柱間形成空隙部,從而防止剝離 和皺褶。但是,充電開始時由于負極活性物質收縮,所以集電體的金 屬面往往經由空隙部而露出。這樣,充電時由于露出的集電體與正極 相對置,所以鋰金屬容易析出,從而成為安全性和容量降低的主要原 因。另外,為增大電池容量,如果提高柱狀負極活性物質的高度,或 減小空隙部的間隔,則特別是柱狀負極活性物質的頂端(開放側),由 于不受集電體等所限制,因而隨著充電的進行,與集電體附近相比, 負極活性物質極大地膨脹。其結果,存在的問題是柱狀的負極活性物 質之間在頂端附近接觸,起因于互相推擠而發(fā)生集電體和負極活性物 質的剝離以及在集電體上產生皺褶。另一方面,當為了避免負極活性 物質膨脹時的接觸而擴大空隙部的間隔時,也存在鋰金屬的析出容易 發(fā)生的問題。即,在上述的二次電池中,無法實現(xiàn)防止集電體和負極 活性物質的剝離以及集電體的皺褶的發(fā)生。再者,由于在膨脹而接觸 的柱狀負極活性物質間的空隙部封入電解液,所以妨礙放電初期的鋰 離子的移動,從而特別是在高速放電(以下記為“高速率放電”)和低 溫環(huán)境下的放電特性等方面存在問題。
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