[發明專利]火花塞絕緣體的彎曲檢查裝置、火花塞絕緣體的彎曲檢查方法和火花塞絕緣體的制造方法

有效

• 申請號: 200880010612.1
• 申請日: 2008-11-18
• 公開（公告）號: CN101647163A
• 公開（公告）日: 2010-02-10
• 發明（設計）人: 本田稔貴;黑野啟一
• 申請（專利權）人: 日本特殊陶業株式會社
• 主分類號: H01T21/02
• 分類號: H01T21/02;H01T13/20
• 代理公司: 北京信慧永光知識產權代理有限責任公司
• 代理人: 武玉琴;陳桂香

1.一種火花塞絕緣體的彎曲檢查裝置，所述火花塞絕緣體包括主體 部和通孔，所述主體部呈圓筒狀并具有在所述主體部的軸向中間部位上 沿徑向擴大的突緣部，所述通孔沿著所述主體部的軸線方向形成在所述 主體部中，所述檢查裝置包括：

絕緣體支承部件，其用于支承所述火花塞絕緣體，使得所述火花塞 絕緣體能夠在所述火花塞絕緣體的軸線方向上滑動；

直線狀的檢查銷，其插入被所述絕緣體支承部件支承的所述火花塞 絕緣體的所述通孔；

檢測部件，其用于當通過由于超過預定容許值的所述火花塞絕緣體 的彎曲而不能完全貫通所述火花塞絕緣體的所述通孔的所述檢查銷，使 得所述火花塞絕緣體在軸線方向上滑動時，檢測所述火花塞絕緣體的滑 動。

2.根據權利要求1所述的火花塞絕緣體的彎曲檢查裝置，其特征在 于，

所述絕緣體支承部件是具有保持孔的保持板，所述保持孔與所述突 緣部配合來支承所述火花塞絕緣體。

3.根據權利要求1或2所述的火花塞絕緣體的彎曲檢查裝置，其特 征在于，

所述絕緣體支承部件支承被布置成一行或多行的多個所述火花塞絕 緣體，并且多根所述檢查銷被相應地布置成一行或多行。

4.根據權利要求1或2所述的火花塞絕緣體的彎曲檢查裝置，其特 征在于，

所述檢測部件是印臺，所述印臺浸漬有印油，所述火花塞絕緣體的 滑動通過所述印油在所述火花塞絕緣體的前端的附著來檢測，所述火花 塞絕緣體的前端位于與所述檢查銷插入所述通孔的插入側相反的一側。

5.根據權利要求3所述的火花塞絕緣體的彎曲檢查裝置，其特征在 于，

所述檢測部件是印臺，所述印臺浸漬有印油，所述火花塞絕緣體的 滑動通過所述印油在所述火花塞絕緣體的前端的附著來檢測，所述火花 塞絕緣體的前端位于與所述檢查銷插入所述通孔的插入側相反的一側。

6.根據權利要求1或2所述的火花塞絕緣體的彎曲檢查裝置，其特 征在于，

所述檢查銷具有導電性，并且所述檢測部件包括接觸部，所述接觸 部具有導電性且被配置為當所述檢查銷移動而貫通所述通孔時與所述檢 查銷接觸，所述接觸部與所述檢查銷合作形成導電裝置，當所述檢查銷 不能與所述接觸部接觸且不能在所述檢查銷與所述接觸部之間實現導通 時，所述火花塞絕緣體的滑動被檢測到。

7.根據權利要求3所述的火花塞絕緣體的彎曲檢查裝置，其特征在 于，

所述檢查銷具有導電性，并且所述檢測部件包括接觸部，所述接觸 部具有導電性且被配置為當所述檢查銷移動而貫通所述通孔時與所述檢 查銷接觸，所述接觸部與所述檢查銷合作形成導電裝置，當所述檢查銷 不能與所述接觸部接觸且不能在所述檢查銷與所述接觸部之間實現導通 時，所述火花塞絕緣體的滑動被檢測到。

8.根據權利要求1或2所述的火花塞絕緣體的彎曲檢查裝置，其特 征在于，

所述檢測部件被構造為通過目測確認所述火花塞絕緣體的滑動。

9.根據權利要求3所述的火花塞絕緣體的彎曲檢查裝置，其特征在 于，

所述檢測部件被構造為通過目測確認所述火花塞絕緣體的滑動。

10.根據權利要求1或2所述的火花塞絕緣體的彎曲檢查裝置，其 特征在于，

所述檢測部件是光學傳感器，并且被構成為基于通過所述光學傳感 器接收的光量的變化來檢測所述火花塞絕緣體的滑動。

11.根據權利要求3所述的火花塞絕緣體的彎曲檢查裝置，其特征 在于，

所述檢測部件是光學傳感器，并且被構成為基于通過所述光學傳感 器接收的光量的變化來檢測所述火花塞絕緣體的滑動。