[發明專利]用于制造只讀光盤介質的方法和只讀光盤介質無效
| 申請號: | 200880003602.5 | 申請日: | 2008-12-08 |
| 公開(公告)號: | CN101595525A | 公開(公告)日: | 2009-12-02 |
| 發明(設計)人: | 坂本哲洋;中野淳;朝比奈隆行;芝崎悅男;河內秀夫 | 申請(專利權)人: | 索尼株式會社 |
| 主分類號: | G11B7/007 | 分類號: | G11B7/007;G11B7/0045;G11B7/24;G11B7/26 |
| 代理公司: | 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 | 代理人: | 秦 晨 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 制造 只讀 光盤 介質 方法 | ||
1.一種只讀光盤介質的制造方法,其特征在于包括用于根據第 一調制信號在信息記錄表面上形成凹凸形狀的成形工序、以及用于使 用反射膜覆蓋該信息記錄表面的沉積工序,并且,其特征在于在所述 成形工序中形成記錄軌道,在該記錄軌道中凹凸形狀作為由凹坑和平 臺形成的第一記錄數據序列設置,
其中,該制造方法在所述沉積工序之后還包括:
用于在記錄軌道的一部分中設置附加信息記錄區域的工序,在記 錄軌道中第一記錄數據序列在成形工序中由凹坑和平臺形成,附加信 息記錄區域與該平臺處于同一平面;以及
用于在附加信息記錄區域中由穿孔標記形成第二記錄數據序列 的工序,所述穿孔標記是通過根據第二調制信號擦除或減少反射膜來 形成的,并且
其中,第一記錄數據序列的形成和第二記錄數據序列的形成這樣 被執行,使得當激光被施加到第一記錄數據序列和第二記錄數據序列 上時,通過在形成第二記錄數據序列的工序中調整通過擦除或減少反 射膜形成的穿孔標記的寬度和/或長度,或者通過在成形工序中調整凹 坑的寬度和/或長度,使第一記錄數據序列中的再現信號振幅的最小電 平和第二記錄數據序列中的再現信號振幅的最小電平相等。
2.根據權利要求1所述的只讀光盤介質的制造方法,其特征在 于,形成第一記錄數據序列的信息數據調制方法與形成第二記錄數據 序列的信息數據調制方法相同。
3.一種只讀光盤介質的制造方法,其特征在于包括用于根據第 一調制信號在信息記錄表面上形成凹凸形狀的成形工序、以及用于使 用反射膜覆蓋該信息記錄表面的沉積工序,并且,其特征在于在所述 成形工序中形成記錄軌道,在該記錄軌道中凹凸形狀作為由凹坑和平 臺形成的第一記錄數據序列設置,
其中,該制造方法在所述沉積工序之后還包括:
用于在記錄軌道的一部分中設置附加信息記錄區域的工序,在記 錄軌道中第一記錄數據序列在成形工序中由凹坑和平臺形成,附加信 息記錄區域與該平臺處于同一平面;以及
用于在附加信息記錄區域中由穿孔標記形成第二記錄數據序列 的工序,所述穿孔標記是通過根據第二調制信號擦除或減少反射膜來 形成的,并且
其中,第一記錄數據序列的形成和第二記錄數據序列的形成這樣 被執行,使得當激光被施加到第一記錄數據序列和第二記錄數據序列 上時,通過在形成第二記錄數據序列的工序中調整通過擦除或減少反 射膜形成的穿孔標記的寬度和/或長度,或者通過在成形工序中調整凹 坑的寬度和/或長度,使對應于第一記錄數據序列中的最短凹坑或間隔 的再現信號振幅的中間電平和對應于第二記錄數據序列中的最短標 記或間隔的再現信號振幅的中間電平相等。
4.根據權利要求3所述的只讀光盤介質的制造方法,其特征在 于,形成第一記錄數據序列的信息數據調制方法與形成所述第二記錄 數據序列的信息數據調制方法相同。
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