[實用新型]精密測量三維坐標的裝置

無效

• 申請號: 200820300564.7
• 申請日: 2008-04-15
• 公開（公告）號: CN201199155Y
• 公開（公告）日: 2009-02-25
• 發明（設計）人: 陳心一;姚云峰;周敬勇;王立德
• 申請（專利權）人: 成都普羅米新科技有限責任公司
• 主分類號: G01B11/00
• 分類號: G01B11/00;G01C5/00
• 代理公司: 成都虹橋專利事務所
• 代理人: 蒲敏

1.【權利要求1】精密測量三維坐標的裝置，其特征在于：包括精密支架(4)和精密套筒(8)，所述精密支架(4)插入精密套筒(8)內，在所述精密支架(4)上安裝有目標組。

2.【權利要求2】如權利要求1所述的精密測量三維坐標的裝置，其特征在于：所述目標組分別是球棱鏡、半球型水準尺墊(3)和水準尺(7)。

3.【權利要求3】如權利要求2所述的精密測量三維坐標的裝置，其特征在于：所述球棱鏡是安裝在鋼球(1)內的角錐棱鏡或角偶棱鏡，所述角錐棱鏡或角偶棱鏡的光軸反射中心與鋼球(1)的球心重合。

4.【權利要求4】如權利要求3所述的精密測量三維坐標的裝置，其特征在于：所述半球型水準尺墊(3)的半徑與鋼球(1)的半徑相同。

5.【權利要求5】如權利要求3所述的精密測量三維坐標的裝置，其特征在于：所述鋼球(1)的直徑大于40mm。

6.【權利要求6】如權利要求1所述的精密測量三維坐標的裝置，其特征在于：所述精密支架(4)采用磁性材料制成。

7.【權利要求7】如權利要求1所述的精密測量三維坐標的裝置，其特征在于：所述精密支架(4)上設置有通孔(5)，所述通孔(5)上部倒角，所述目標組安裝在所述通孔(5)上。

8.【權利要求8】如權利要求1所述的精密測量三維坐標的裝置，其特征在于：所述精密套筒(8)為中空結構，內孔(10)上有滑槽(9)，所述滑槽(9)與所述精密支架(4)上的銷軸(6)配合。

9.【權利要求9】如權利要求1所述的精密測量三維坐標的裝置，其特征在于：所述半球型水準尺墊(3)采用磁性材料制成。