[實用新型]內方位元素及畸變測試儀無效
| 申請號： | 200820221896.6 | 申請日： | 2008-10-17 |
| 公開（公告）號： | CN201277864Y | 公開（公告）日： | 2009-07-22 |
| 發明（設計）人： | 張周鋒;趙建科;周艷 | 申請（專利權）人： | 中國科學院西安光學精密機械研究所 |
| 主分類號： | G01C25/00 | 分類號： | G01C25/00;G01C11/02 |
| 代理公司： | 西安智邦專利商標代理有限公司 | 代理人： | 商宇科 |
| 地址： | 710119陜西省西*** | 國省代碼： | 陜西;61 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 方位 元素 畸變 測試儀 | ||
【權利要求書】：
1、一種內方位元素及畸變測試儀，包括光源以及轉臺，其特征在于：所述內方位元素及畸變測試儀還包括平行光管；所述平行光管位于光源和轉臺之間，并和光源置于同一光軸之上。
2、根據權利要求1所述的內方位元素及畸變測試儀，其特征在于：所述轉臺是二維轉臺。
3、根據權利要求2所述的內方位元素及畸變測試儀，其特征在于：所述二維轉臺是高精度數顯二維轉臺。
4、根據權利要求3所述的內方位元素及畸變測試儀，其特征在于：所述高精度數顯二維轉臺是采用27位軸角編碼器且分辨率可以達到0.01″的高精度數顯二維轉臺。
5、根據權利要求1或2或3或4所述的內方位元素及畸變測試儀，其特征在于：所述光源是點光源、激光光源或面光源。
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