[實用新型]動態加速破壞分析檢測裝置無效
| 申請號: | 200820183598.2 | 申請日: | 2008-12-22 |
| 公開(公告)號: | CN201322703Y | 公開(公告)日: | 2009-10-07 |
| 發明(設計)人: | 彭永川;徐義軍;陳文仁 | 申請(專利權)人: | 聯茂電子股份有限公司 |
| 主分類號: | G01N3/00 | 分類號: | G01N3/00;G01N19/00 |
| 代理公司: | 北京申翔知識產權代理有限公司 | 代理人: | 周春發 |
| 地址: | 中國臺灣桃*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 動態 加速 破壞 分析 檢測 裝置 | ||
技術領域
本實用新型有關一種動態加速破壞分析檢測裝置,旨在提供一種可結合熱及應力的動態變化,而可同時觀測爆裂區域的影像,并提供一有效分析結果的動態加速破壞分析檢測裝置。
背景技術
多層印刷電路板由導電層與絕緣層堆棧而成,導電層與絕緣層間可以使用熱壓合方式,形成所謂的多層電路板結構,其中導電層經PCB制程、制作電路設計(layout?design)曝光蝕刻形成電路,絕緣層可采用以玻璃纖維布含浸環氧樹脂所制的半固化膠片(Prepreg)所制成,由于各該層間材料屬性的差異,即便壓合后所形成的多層電路板恐有制程不良或材料差異所產生的不良品,其中一種較為普見的不良現象即所謂的爆板。
至于爆板的產生原因可以來自,由于多層電路板的制作采多層CCL及PP及銅箔還有部分必要的黏合膠片熱壓合而成,為多種壓合結構疊壓,因此在制程上容易受到下列諸多因素形成爆板的不良,如制作產生的氣泡,或異物,或材質上熱壓合過程的膨脹差異,或因板材在加工因應力殘留于在加熱過程產生所造成,或因孔銅鍍銅不均不足等。
由于爆板產生因素復雜,因此區別此類問題,對于此種不良分析的過程也極為復雜,且效率不佳;一種常用的爆板分析方式將待分析物先以仿真熱處理,再以光學鑒識工具檢視爆裂區域;不過這種靜態的熱處理方式,在部分分析情況仍難以鑒別,如來自材料或結構性搭配不良所致等,如能于爆裂發生當下即爆裂的變化可以實時了解其變化,對于爆板的發生原因分析應可得到更佳的鑒別效果。
據此本實用新型人構想于待測物品檢測過程若能及時或同步提供外應力,可以是物理力或是熱,并結合同步實時影像分析鑒識系統可對于爆板提供更精確的分析。
實用新型內容
有鑒于此,本實用新型動態加速破壞分析檢測裝置所解決的技術問題在于提供一種可結合熱及應力的動態變化,而可同時觀測爆裂區域的影像,并提供一有效分析結果的動態加速破壞分析檢測裝置。
為達上述目的,本實用新型中動態加速破壞分析檢測裝置至少包含有:夾持單元、動力單元、檢測單元以及熱源單元,該夾持單元用以夾持待測物品,該動力單元設于該夾持單元一側,該動力單元并推動該夾持單元朝該待測物品靠近,且該檢測單元得以檢測該待測物品的分析面,該熱源單元設有至少二加熱件,該加熱件設于與該待測物品分析面相鄰的兩側面。
本實用新型的有益效果為:由各加熱件的加熱作用,并結合一側應力的提供(動力單元),藉由檢測單元鑒別待測物品受熱及應力變化對于爆裂區域的連續性影像呈現,提供一有效的分析結果。
附圖說明
圖1為本實用新型中分析檢測裝置的結構立體圖;
圖2為本實用新型中分析檢測裝置的結構示意圖;
圖3為本實用新型中分析檢測裝置的另一結構示意圖。
【圖號說明】
分析檢測裝置1?????????????????夾持單元11
第一夾具111???????????????????第二夾具112
動力單元12????????????????????汽缸121
檢測單元13????????????????????熱源單元14
加熱件141、142????????????????控制單元15
滑軌16????????????????????????待測物品2
具體實施方式
本實用新型的特點,可參閱本案圖式及實施例的詳細說明而獲得清楚地了解。
本實用新型動態加速破壞分析檢測裝置,如圖1、2所示,該分析檢測裝置1,其至少包含有:
夾持單元11,該夾持單元11用以夾持待測物品2,該夾持單元11設有第一、第二夾具111、112,而該第一、第二夾具111、112分別設于該待測物品2相對的二側;
動力單元12,該動力單元12設于該夾持單元11一側,如圖所示的實施例中,該動力單元12設于該第一夾具111相對于該待測物品2另側,該動力單元12并推動該夾持單元的第一夾具111朝該待測物品2靠近,其中,該動力單元12設有汽缸121或機械動力螺桿;
檢測單元13,該檢測單元13設于該夾持單元11一側,且該檢測單元13得以檢測該待測物品2的分析面,該檢測單元13可以為光學檢測單元或熱感檢測單元;
熱源單元14,該熱源單元14設有至少二加熱件141、142,該加熱件141、142設于與該待測物品分析面21相鄰的兩側面22,該加熱件141、142可以為遠紅外線方式加熱。
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