[實用新型]一種調試系統

無效

• 申請號: 200820173664.8
• 申請日: 2008-10-24
• 公開（公告）號: CN201282537Y
• 公開（公告）日: 2009-07-29
• 發明（設計）人: 王偉;肖龍光;楊元成
• 申請（專利權）人: 青島海信電器股份有限公司
• 主分類號: H04N17/00
• 分類號: H04N17/00;H04N17/04
• 代理公司: 青島聯智專利商標事務所有限公司
• 代理人: 邵新華

技術領域

本實用新型屬于調試系統技術領域，具體地說，是涉及一種使用高頻頭的機頂盒或電視機產品的前端調試系統。

背景技術

對于使用高頻頭來接收射頻信號的機頂盒或者電視機產品來說，在產品生產過程中都需要對高頻頭的工作性能進行調試。對于目前普遍使用的硅高頻頭來說，其調試板在調試過程中需要將硅高頻頭輸出的差分信號一方面輸出給解調器芯片進行聯調，另一方面需要傳輸到頻譜儀分析硅高頻頭輸出的差分信號的頻譜。

對于現有的調試系統來說，一般都采用以下兩種調試方式：

一種是，將硅高頻頭的調試和解調器芯片的調試設計在同一塊調試板上，如圖1所示，一方面將硅高頻頭輸出的差分信號通過PCB走線傳輸至解調器芯片的差分輸入端，另一方面還需將硅高頻頭輸出的差分信號通過飛線(即焊接線)連接到頻譜儀上，以對硅高頻頭輸出的差分信號的頻譜進行分析。在將硅高頻頭與頻譜儀連接時，將硅高頻頭的差分信號輸出端的一端連接到頻譜儀的接地端，另一端連接到頻譜儀的信號輸入端。這種調試方式不僅會因為飛線引入的干擾導致測試有誤差，而且在發生頻譜儀的地打火時，還會將硅高頻頭芯片損壞。

另一種是，將硅高頻頭的調試和解調器芯片的調試設計在兩塊不同的調試板上，如圖2所示，硅高頻頭將輸出的差分信號傳輸到解調器芯片進行聯調，通常的做法是用飛線(即焊接線)將差分信號連接到解調器芯片的差分輸入端，這樣做會通過增加的飛線引入干擾，從而導致測試的不準確；另一方面還需將硅高頻頭輸出的差分信號通過飛線連接到頻譜儀上，以分析硅高頻頭輸出的差分信號的頻譜，此時，需要將硅高頻頭的差分信號輸出端的一端連接到頻譜儀的接地端，另一端連接到頻譜儀的信號輸入端，這樣不僅會由于使用飛線導致測試有誤差，而且在頻譜儀的地打火時還會對硅高頻頭芯片造成損壞。

基于此，亟待出現一種安全有效的調試系統以實現對高頻頭工作性能的準確調試。

實用新型內容

本實用新型為了解決現有高頻頭調試系統測試不準確、易造成高頻頭芯片損壞的問題，提供了一種安全可靠的高頻頭調試系統，有效避免了在調試過程中采用飛線連接所造成的干擾及芯片損壞等弊端。

為解決上述技術問題，本實用新型提出以下兩種技術方案予以實現：

一種技術方案是將高頻頭和解調器設置在同一塊調試板上，并在所述的調試板上設置耦合器和標準接口，所述高頻頭的差分信號輸出端一方面連接解調器的差分輸入端，另一方面連接耦合器，經耦合器將差分信號轉換為單端信號后，通過標準接口連接頻譜儀。

優選的，所述高頻頭的差分信號輸出端通過PCB走線分別與解調器和耦合器對應連接，所述耦合器與標準接口之間也通過PCB走線相連接。

進一步的，所述標準接口的單端信號傳輸腳和接地腳分別與頻譜儀的信號輸入端和接地端對應連接。

又進一步的，所述標準接口通過設有兩個標準接口的屏蔽線連接頻譜儀，以保證傳輸信號不受干擾。

再進一步的，所述耦合器為耦合變壓器；所述標準接口為射頻信號標準接口。

另外一種技術方案是將高頻頭和解調器分別設置在兩塊不同的調試板上；并在所述高頻頭調試板上和解調器調試板上分別設置耦合器和標準接口；其中，在所述高頻頭調試板上，高頻頭的差分信號輸出端連接耦合器，經耦合器將差分信號轉換為單端信號后，通過標準接口一方面連接頻譜儀，另一方面連接解調器調試板上的標準接口；在所述解調器調試板上，通過標準接口接收到的單端信號經該調試板上的耦合器轉換為差分信號后，連接解調器的差分輸入端。

優選的，在所述高頻頭調試板上，所述高頻頭、耦合器和標準接口之間通過PCB走線進行連接；在所述解調器調試板上，標準接口通過PCB走線將接收到的單端信號傳輸至該板上的耦合器，通過所述耦合器轉換輸出的差分信號通過PCB走線連接到解調器的差分輸入端。

進一步的，在所述高頻頭調試板上設置有兩個標準接口，一個將耦合器輸出的單端信號通過設有兩個標準接口的屏蔽線傳輸至頻譜儀，另一個將所述單端信號通過設有兩個標準接口的屏蔽線與解調器調試板上的標準接口相連接。

又進一步的，在所述高頻頭調試板上，與頻譜儀相連接的標準接口的單端信號傳輸腳和接地腳分別與頻譜儀的信號輸入端和接地端對應連接。

再進一步的，所述耦合器為耦合變壓器；所述標準接口為射頻信號標準接口。