[實用新型]磁共振質量控制綜合測試體模

無效

• 申請號: 200820172124.8
• 申請日: 2008-09-23
• 公開（公告）號: CN201259534Y
• 公開（公告）日: 2009-06-17
• 發明（設計）人: 邱建峰;王國柱
• 申請（專利權）人: 邱建峰
• 主分類號: G01R35/00
• 分類號: G01R35/00
• 代理公司: 泰安市泰昌專利事務所
• 代理人: 姚德昌

一、技術領域

本實用新型涉及一種核磁共振的測試裝置，具體地說是一種磁共振質量控制綜合測試體模。

二、背景技術

核磁共振設備出廠、以及常規檢查中要對其進行參數測試，以達到檢測所需的精度，所以要對核磁共振進行定期的參數測定，而現有的測試裝置具有如下不足：一是功能單一，每次只能測量兩三種參數，綜合測試時需要幾個體模才能完成；二是測試精度不高；三是模塊化、標準化不夠，成本高。

三、發明內容

本實用新型針對以上不足之處，提供一種測試參數多、精度高、模塊化設計測試層可靈活組合的磁共振質量控制綜合測試體模。

本實用新型解決其技術問題所采用的技術方案是：

一種磁共振質量控制綜合測試體模，包括外殼和測試層，其特征在于：外殼上設有左封板和右封板，其中一封板上內側設有定位構件，定位構件由拉桿和套筒組成，拉桿上設有螺紋且一端固定在相應的封板上；每個測試層相同位置處設有與拉桿相對應的定位孔；測試層套設在拉桿上，相鄰測試層間拉桿上套設有套筒，最外一測試層拉桿上設有緊固螺母；所述的測試層包括層厚測試層、格柵測試層、高對比度分辨率測試層、調制傳遞函數測試層、定位層和溢流層。

體模中各測試層為模塊化設計，通過拉桿和套筒進行固定，可靈活拆卸、更換和組合，改變搭配和排放順序，使用者可根據研究測試目的任意組合測試組件，具有測試層種類多，功能全、測試范圍廣等特點，解決了國內體模功能單一，需幾個體模才能完成常規參數測試相比的缺點，可測試十一個核磁共振質量控制和質量保證參數，可完全滿足核磁共振系統常規日測試、月測試和年測試的絕大部分要求，且具有拓展的功能。

所述的層厚測試層包含有兩個相互垂直的測試塊，每個測試塊包括兩個測試狹縫，此兩測試狹縫空間交錯。

層厚測試層包含垂直和水平兩個方向的測試組件，可在不轉動體模的情況下，測量橫斷、矢狀和冠狀三種斷面的層厚、層間隔和層偏差。

格柵測試層由設置在測試板上的規則的矩形格柵組成。

格柵可有效測量縱橫比、線性度、均勻度、信噪比以及圖像畸變程度。同時結合軟件測試還可測量共振頻率。格柵方塊中可選擇三塊矩形框被填充為方形實體，用于正交偽影測試等磁共振成像系統的偽影分析與研究。

高對比度分辨率測試層為孔式測試層，測試層上設有兩個孔式測試模塊，每個測試模塊上設有大小不同且與測試層垂直的測試孔，相同的測試孔位于同一直線上，同直徑測試孔的外輪廓間隔距離等于孔徑；兩模塊上同直徑測試孔形成的直線相互垂直。

該層包含垂直和水平兩個測試組件，可以在一次掃描，不需轉動體模的情況下，對比測量頻率編碼方向和相位編碼方向分辨率。

調制傳遞函數測試層為星形MTF測試層，包括楔形塊，楔形塊楔角垂直于測試層測試板；楔形塊楔角朝向測試層中心彼此間隔均勻形成一圓弧或整圓，間隔角等于楔角；以測試層中心為中心點設有橫向和豎向的測試塊。

設置的星形MTF測試層可進行360度的模糊帶觀察，易于測量極限分辨率，可以在一次掃描，不需轉動體模的情況下，有效比較相位編碼方向和頻率編碼方向的空間分辨率。

測試組件中具有橫向和豎向的定位塊，定位塊定點連線過圓心，易于確定水平和垂直方向，同時可以進行體模定位的校準。同時楔形塊可拆卸，星形測試組件可分拆為180度和120度的小型星形測試組件。高對比度測試層和調制測試層上設有中心定位塊，中心定位塊一頂點對應測試層中心。

測試組件中具有中心定位塊，定位塊一個頂點標示為測試層的圓心，在模糊帶測量中，易于通過定位塊測量模糊帶半徑，同時方便計算放大率。圓心定位塊為均勻密度物體，可以進行刃邊方法計算系統調制傳遞函數MTF。

所述的定位測試層包括三組定位塊，每組定位塊包括兩直角三角形，此兩直角三角形兩相同直角邊重合，斜邊交叉設置，三組定位塊分別指向體模的矢狀切面、冠狀切面和橫斷切面，方便進行三個切面的定位。

定位層可進行體模定位，防止體模擺放傾斜，影響各測試層的測試精度。

溢流層包含純液體測試組件，由以上兩任意測試層或任一測試層與底板或頂板相間隔出的純液體區域構成，液體構成等同于體模配液。

純液體組件可測試信噪比、均勻度、線性度、縱橫比和幾何畸變。

作為本實用新型的改進和簡化，可將一測試層作為封板固定在外殼上，比如將經常使用的定位層作為封板固定在外殼上；定位層上的直角三角形改為直角梯形或者其他滿足斜邊交叉設置的形狀。

四、附圖說明

圖1磁共振質量控制綜合測試體模立體結構示意圖；