[實(shí)用新型]一種測(cè)光裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200820170806.5 | 申請(qǐng)日: | 2008-12-22 |
| 公開(公告)號(hào): | CN201352150Y | 公開(公告)日: | 2009-11-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 潘建根;李倩 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 杭州數(shù)威軟件技術(shù)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01J1/42 | 分類號(hào): | G01J1/42;G01J1/04 |
| 代理公司: | 杭州杭誠(chéng)專利事務(wù)所有限公司 | 代理人: | 林寶堂 |
| 地址: | 310053浙江*** | 國(guó)省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 測(cè)光 裝置 | ||
[技術(shù)領(lǐng)域]
本實(shí)用新型涉及一種測(cè)量光度量或輻射度量的裝置,屬于光輻射測(cè)量領(lǐng)域。
[技術(shù)背景]
光(輻射)度量包括光(輻射)強(qiáng)度和(輻)亮度等。其中光(輻射)強(qiáng)度是指光源在單位立體角內(nèi)的光(輻射)通量,光強(qiáng)的單位為坎德拉(cd),它是七個(gè)國(guó)際基本量之一。光(輻射)強(qiáng)度一般是通過測(cè)量照度,利用距離平方反比關(guān)系得到的。對(duì)于小型光源,如半導(dǎo)體發(fā)光二極管(LED)的光強(qiáng)測(cè)量往往不需要很長(zhǎng)的測(cè)量距離,除了光強(qiáng)以外,CIE規(guī)定了LED平均光強(qiáng)的測(cè)量方法,測(cè)量距離為條件A的100mm或條件B的316mm。以LED的光強(qiáng)測(cè)量為例,現(xiàn)有LED光強(qiáng)測(cè)量裝置一般是通過把被測(cè)LED夾裝在測(cè)量座上,在規(guī)定的測(cè)量幾何下逐個(gè)測(cè)量的,這種測(cè)量裝置雖然精度較高,但效率卻很低。每個(gè)LED的測(cè)量都需要重新夾裝。而且在很多成品檢驗(yàn)中,需要測(cè)量以陣列或其它形式排布的LED產(chǎn)品(如LED顯示屏、LED燈具)中的單個(gè)LED的光強(qiáng),現(xiàn)有光強(qiáng)測(cè)量裝置并不能滿足這一要求。
由于這些小距離要求的光強(qiáng)測(cè)量設(shè)備本身的尺寸往往也相對(duì)較小,也可以實(shí)現(xiàn)手持式的現(xiàn)場(chǎng)光強(qiáng)測(cè)量裝置。然而由于光強(qiáng)測(cè)量對(duì)光源的光度中心的對(duì)準(zhǔn),被測(cè)面積的控制和測(cè)量角度等測(cè)量幾何的要求都較高,而手持式的設(shè)備卻又不容易實(shí)現(xiàn)精確對(duì)準(zhǔn),因此測(cè)量精度較低。
(輻)亮度是指單位面積的光源的光(輻射)強(qiáng)度,使用遮光筒式亮度計(jì)測(cè)量亮度是一種比較簡(jiǎn)單的方法。遮光筒式亮度計(jì)包括遮光筒和(輻)照度計(jì),遮光筒的入光口直接與被測(cè)光源相接觸,(輻)照度計(jì)測(cè)得被測(cè)光源的光(輻射)強(qiáng)度并除以遮光筒入光口面積即得(輻)亮度值。與手持式的現(xiàn)場(chǎng)光強(qiáng)測(cè)量裝置一樣,現(xiàn)有的遮光筒式亮度計(jì)不能實(shí)現(xiàn)被測(cè)光源的精確對(duì)準(zhǔn),這在測(cè)量小尺寸或表面發(fā)光不均勻的光源亮度時(shí)會(huì)產(chǎn)生很大的測(cè)量誤差。
[實(shí)用新型內(nèi)容]
本實(shí)用新型旨在提供一種測(cè)光裝置,它能快速、方便、準(zhǔn)確地實(shí)現(xiàn)光源在給定方向的光度測(cè)量,特別適用于多光源排布下部分光源在指定方向的光強(qiáng)(輻射強(qiáng)度)以及亮度(輻亮度)的測(cè)量。
本實(shí)用新型的測(cè)光裝置,其特征在于包括遮光筒、半透半反鏡、硅光電池和取景器。半透半反鏡是由兩塊直角棱鏡組成且其中一塊直角棱鏡的斜面上鍍半透半反膜的立方棱鏡,具有一個(gè)光束入射面和兩個(gè)光束出射面。半透半反鏡位于遮光筒內(nèi),被測(cè)光束經(jīng)遮光筒的入光口入射到半透半反鏡的光束出射面,硅光電池的感光面和取景器的光束入射口分別位于半透半反鏡的反射光束光路和透射光束光路中,或者硅光電池的感光面和取景器的光束入射口分別位于半透半反鏡的透射光束光路和反射光束光路中。
來自被測(cè)光源的光進(jìn)入遮光筒后被半透半反鏡按固定比例地分為兩束,其中一部分進(jìn)入探測(cè)器接口被探測(cè)器所接收;另一部分進(jìn)入取景器,人眼可以在測(cè)量光強(qiáng)或亮度的同時(shí)通過取景器直接觀察所取樣的光源表觀,以確定光強(qiáng)或亮度測(cè)量的取樣位置和對(duì)準(zhǔn)情況。由于被半透半反鏡分出的兩光束的強(qiáng)度總是成比例關(guān)系的,光束的光斑大小、均勻性等都不發(fā)生變化,因此取景器能夠在光(輻射)度量測(cè)量中方便地取樣對(duì)準(zhǔn)被測(cè)光源,使整個(gè)系統(tǒng)準(zhǔn)確地測(cè)量被測(cè)光源在某一方向的光束。該測(cè)光裝置尤其適用于多光源排布或大面積光源中部分光源的測(cè)量,例如LED顯示屏、信號(hào)燈中的一個(gè)或多個(gè)LED等。
本實(shí)用新型還可以通過以下技術(shù)方案加以限定和完善。
上述遮光筒的入光口前設(shè)置有入射光限制光闌,入射光限制光闌具有通光孔,能夠限制進(jìn)入遮光筒的光束。入射光限制光闌接觸或接近被測(cè)光源,通過取樣器的觀察取樣范圍,使指定部分被測(cè)光源的光束進(jìn)入遮光筒,實(shí)現(xiàn)光強(qiáng)測(cè)量,對(duì)限制光闌的面積求平均,得到被測(cè)光源的亮度。
上述入射光限制光闌的通光孔孔徑可以根據(jù)被測(cè)光源的大小來調(diào)節(jié),入射光限制光闌是一組孔徑不同的光闌或者入射光限制光闌本身的通光孔尺寸可調(diào)。測(cè)量時(shí)被測(cè)光源的光強(qiáng)時(shí),根據(jù)被測(cè)光源的大小選擇合適的光闌,測(cè)量指定被測(cè)光源的光強(qiáng)。
上述半透半反鏡的光束入射面前、靠近光束入射面處設(shè)置探測(cè)器前限制光闌。
上述的取景器的入射端口設(shè)置在半透半反鏡的反射光束光路中,取景器成“L”型結(jié)構(gòu),在“L”型的拐角處設(shè)置有平面反射鏡。所采集的被測(cè)光束中的部分光分別經(jīng)過半透半反鏡和平面反射鏡的兩次反射后,以平行于遮光筒的方向入射到人眼中,該設(shè)置能夠使光(輻射)強(qiáng)度或(輻)亮度測(cè)量的操作者更方便地對(duì)準(zhǔn)被測(cè)光源。
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